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標(biāo)簽 > 探針
探針是一種測試接口,主要對(duì)裸芯進(jìn)行測試,通過連接測試機(jī)和芯片,通過傳輸信號(hào)對(duì)芯片參數(shù)進(jìn)行測試。。
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PCB板在生產(chǎn)過程中,難免因外在因素而造成短路、斷路及漏電等電性上的瑕疵,再加上PCB不斷朝高密度、細(xì)間距及多層次的演進(jìn),若未能及時(shí)將不良板篩檢出來,而...
一文看懂壓電納米定位臺(tái)的工作原理及應(yīng)用范圍
壓電納米位移臺(tái)的結(jié)構(gòu) 壓電納米定位臺(tái)具有移動(dòng)面,是通過帶有柔性鉸鏈的機(jī)械結(jié)構(gòu)將壓電陶瓷產(chǎn)生的位移及出力等進(jìn)行輸出,分直驅(qū)與放大兩種結(jié)構(gòu)。以壓電陶瓷作為驅(qū)...
2023-08-02 標(biāo)簽:壓電運(yùn)動(dòng)控制探針 7849 0
邏輯測試儀是測試數(shù)字電路的簡單但非常有用的設(shè)備。邏輯探頭可以以許多不同的方式設(shè)計(jì)。在這種特殊的設(shè)計(jì)中,分立和TTL邏輯元件的組合用于測試不同的邏輯電平。...
測試插座的主要起著一個(gè)連接導(dǎo)通的作用,用于集成電路應(yīng)用功能驗(yàn)證。它是PCB與IC之間的靜態(tài)連接器,可以讓芯片的更換測試更方便,不用一直重復(fù)焊接和取下芯片...
前幾個(gè)月買了一個(gè)小示波器,星期天出去調(diào)了點(diǎn)東西感覺很方便,然后又拿了一個(gè)說明書研究了下,發(fā)現(xiàn)有一些知識(shí)點(diǎn)還沒有完全掌握,這里就補(bǔ)上。
"探索射頻探針的輝煌歷程:從發(fā)展史到國內(nèi)品牌迪賽康的創(chuàng)新突破"
Reed Gleason和Eric Strid的工作為射頻探針的進(jìn)一步發(fā)展鋪平了道路。他們在Tektronix工作期間發(fā)明了第一臺(tái)高頻晶圓探針,這項(xiàng)創(chuàng)新...
致真精密儀器丨磁場探針臺(tái)系列的應(yīng)用參數(shù)分析
磁場探針臺(tái)主要用于半導(dǎo)體材料、微納米器件、磁性材料、自旋電子器件及相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的電、磁學(xué)特性測試,能夠提供磁場或變溫環(huán)境,并進(jìn)行高精度的直流/射頻測量。
綜述:無機(jī)離子敏感成像探針及其在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用
熒光成像具有成像速度快、靈敏度高等優(yōu)點(diǎn)。自1962年鈣離子熒光探針問世以來,憑借其靈活可調(diào)的化學(xué)結(jié)構(gòu),離子響應(yīng)型熒光探針家族不斷發(fā)展,熒光成像技術(shù)也被廣...
2023-05-18 標(biāo)簽:成像神經(jīng)系統(tǒng)探針 1574 0
什么是半導(dǎo)體測試探針?半導(dǎo)體測試探針的需求來自哪里?
Chiplet將復(fù)雜芯片拆解成一組具有單獨(dú)功能的小芯片單元die(裸片),通過die-to-die將模塊芯片和底層基礎(chǔ)芯片封裝組合在一起。相較于傳統(tǒng)So...
2023-05-16 標(biāo)簽:探針半導(dǎo)體測試chiplet 2287 0
使用高頻探針和網(wǎng)絡(luò)分析儀來測量PCB焊盤阻抗變化的方法
高頻電路設(shè)計(jì)中,阻抗匹配是一個(gè)非常重要的問題。在實(shí)際設(shè)計(jì)中,我們需要測量 PCB 焊盤的阻抗變化,以便更好地進(jìn)行匹配。
2023-04-11 標(biāo)簽:pcb連接器網(wǎng)絡(luò)分析儀 3824 0
因?yàn)樘结樞?zhǔn)片較小,許多客戶對(duì)于探針校準(zhǔn)操作不是特別熟練,從而導(dǎo)致探針無法校準(zhǔn)或者因操作不當(dāng)導(dǎo)致校準(zhǔn)片受到損壞。
2023-03-29 標(biāo)簽:探針 3523 0
高頻探針卡的定義、原理、種類、適用范圍以及使用注意事項(xiàng)
高頻探針卡是芯片、晶圓測試中的重要工具,它可以將高頻信號(hào)從芯片中提取出來并進(jìn)行分析,是芯片、晶圓測試世界中的神器。
用于熒光輔助數(shù)字計(jì)數(shù)分析的信號(hào)探針
熒光輔助的數(shù)字計(jì)數(shù)分析技術(shù)是指利用倒置熒光顯微鏡,可視化量化熒光探針數(shù)量,用于靶標(biāo)定量檢測的一類技術(shù)。
2023-03-25 標(biāo)簽:計(jì)數(shù)器探針顯微鏡 1428 0
本節(jié)介紹另一個(gè)探針功能塊:MCA_TouchProbeECAT。 ECAT_CiA402_Touchprobe_App功能塊的輸入設(shè)置比較繁瑣且有冗余,...
適用于阻抗條測試,信號(hào)完整性驗(yàn)證、共面波導(dǎo)、電路調(diào)試及測試裝置用途,基本可以做到高速信號(hào)測試無死角。適用于微波集成電路在片測試、MEMS產(chǎn)品測試及片上天...
2023-02-17 標(biāo)簽:信號(hào)完整性探針高速信號(hào) 436 0
K8S三種探針ReadinessProbe、LivenessProbe和StartupProbe之探索
因?yàn)?k8s 中采用大量的異步機(jī)制、以及多種對(duì)象關(guān)系設(shè)計(jì)上的解耦,當(dāng)應(yīng)用實(shí)例數(shù) 增加/刪除、或者應(yīng)用版本發(fā)生變化觸發(fā)滾動(dòng)升級(jí)時(shí),系統(tǒng)并不能保證應(yīng)用相關(guān)的...
使用PLTS去嵌方法和探針校準(zhǔn)片SLOT校準(zhǔn)測試結(jié)果對(duì)比
測試一:先將網(wǎng)分與線纜校準(zhǔn)后,然后連接兩個(gè)探針測試DUT,將兩個(gè)探針的S參數(shù)、兩個(gè)探針+DUT的整體S參數(shù)分別導(dǎo)出,然后使用PLTS校準(zhǔn)軟件將探針本身S...
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