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標(biāo)簽 > 顯微鏡
在17世紀(jì),人們發(fā)現(xiàn)把兩塊凸透鏡組合起來(lái),能明顯的提高放大能力,這種裝置就是顯微鏡的前身。第一架真正的顯微鏡,是用一片凸透鏡和一片凹透鏡重疊起來(lái)組合而成,又稱為復(fù)式顯微鏡
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電子背散射衍射(EBSD):材料科學(xué)的顯微分析利器
EBSD:材料微觀結(jié)構(gòu)分析電子背散射衍射(EBSD)技術(shù),依托于掃描電子顯微鏡(SEM),作為一種尖端的材料分析手段,能夠深入探究材料的微觀結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)對(duì)...
晶粒尺寸與晶界特征晶粒作為材料中的基本結(jié)構(gòu)單元,其尺寸和取向?qū)Σ牧系男阅苡兄钸h(yuǎn)的影響。晶粒內(nèi)部的取向相對(duì)一致,而相鄰晶粒之間則存在明顯的取向差異。晶粒...
用于光學(xué)顯微鏡的新型波長(zhǎng)選擇器技術(shù)
許多光學(xué)顯微鏡應(yīng)用,特別是涉及熒光成像的應(yīng)用,需要波長(zhǎng)辨別,要么過(guò)濾寬帶照明源,要么過(guò)濾到達(dá)相機(jī)的圖像。虹科柔性波長(zhǎng)選擇器(FWS)是一種新型波長(zhǎng)濾波設(shè)...
新開(kāi)發(fā)的原子工程技術(shù)為高k電介質(zhì)中的鐵電行為提供了令人興奮的機(jī)遇,高k電介質(zhì)是與硅相比具有高介電常數(shù)的材料。這還可以為更先進(jìn)且具有更廣泛功能或特性的CM...
基于CVD生長(zhǎng)的HfS?/MoS?異質(zhì)結(jié)高性能光電探測(cè)器
這項(xiàng)研究首次提出了一種由層間激子驅(qū)動(dòng)的高性能紅外光電探測(cè)器,該紅外探測(cè)器由化學(xué)氣相沉積(CVD)生長(zhǎng)的范德華異質(zhì)結(jié)所制備。這項(xiàng)研究標(biāo)志著光電器件領(lǐng)域進(jìn)步...
本研究展示了利用廉價(jià)易得的家用物品,如鉛筆、攪拌機(jī)和洗滌劑,進(jìn)行石墨烯液相剝離的方法。通過(guò)創(chuàng)新性的方法,科學(xué)家們成功降低了石墨烯制備的成本,大大提高了其...
FIB技術(shù)在各領(lǐng)域的應(yīng)用及其運(yùn)作機(jī)制解析
雙束聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)概述雙束聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)是一種集成了單束聚焦離子束和掃描電子顯微鏡(SEM)功能的高精度微納加工技術(shù)。這種系統(tǒng)通過(guò)精...
掃描電鏡作為一種用于微觀結(jié)構(gòu)分析的重要儀器,在材料科學(xué)、生命科學(xué)、地質(zhì)科學(xué)、電子信息等多個(gè)領(lǐng)域都有重要作用。它具有以下顯著特征:1.高分辨率成像:能夠清...
什么是氬離子拋光儀?氬離子拋光儀是一種高精度的表面處理設(shè)備,它通過(guò)氬離子束對(duì)樣品進(jìn)行精密拋光,以揭示樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)。這種技術(shù)在材料科學(xué)、半導(dǎo)體分析、...
電子背散射衍射技術(shù)(EBSD):原理、測(cè)試方法與應(yīng)用領(lǐng)域
電子背散射衍射電子背散射衍射技術(shù)(EBSD),作為一種尖端的材料分析手段,融合了掃描電子顯微鏡(SEM)的精細(xì)成像與電子衍射的晶體學(xué)分析技術(shù)。電子束與樣...
活細(xì)胞的“聚光燈”——前沿活細(xì)胞成像的案例分享
細(xì)胞是一切生命的基本單位,構(gòu)成了各式各樣的生命體。因此研究細(xì)胞的結(jié)構(gòu)以及內(nèi)部生命活動(dòng)過(guò)程可以幫助我們更深入地探究生命的奧秘,了解生命體是如何構(gòu)建和運(yùn)作的...
大視場(chǎng)超分辨率高速成像的優(yōu)勢(shì)分析
新的顯微鏡基于超分辨結(jié)構(gòu)光照明顯微鏡(SR-SIM),它使用結(jié)構(gòu)光模式來(lái)激發(fā)樣品中的熒光,并實(shí)現(xiàn)超越光衍射極限的空間分辨率。SR-SIM特別適用于活細(xì)胞...
基于光子糾纏的自適應(yīng)光學(xué)成像技術(shù)應(yīng)用
對(duì)引導(dǎo)星的依賴給顯微鏡成像細(xì)胞和組織等不含亮點(diǎn)的樣本帶來(lái)了問(wèn)題??茖W(xué)家們利用圖像處理算法開(kāi)發(fā)了無(wú)引導(dǎo)星的自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng),但這些系統(tǒng)可能會(huì)因結(jié)構(gòu)復(fù)雜的樣本而失效。
2024-03-11 標(biāo)簽:計(jì)算機(jī)顯微鏡光學(xué)成像 662 0
場(chǎng)發(fā)射電鏡(FESEM)應(yīng)用領(lǐng)域及案例分析
1?設(shè)備型號(hào)3臺(tái)和FIB聯(lián)用為雙束聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM),能夠?yàn)榭蛻籼峁I(yè)的材料分析服務(wù)。2?原理場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種采用尖端肖特基熱場(chǎng)發(fā)...
掃描電子顯微鏡(SEM)原理電子槍產(chǎn)生的電子束經(jīng)聚光鏡和物鏡聚焦后,形成極細(xì)的電子束在樣品表面進(jìn)行逐點(diǎn)掃描。電子束與樣品表面相互作用,激發(fā)出二次電子、背...
蔡司EVO掃描電子顯微鏡進(jìn)行軸承清潔度檢測(cè)
INNIOGroup坐落于奧地利顏巴赫(Jenbach),是一家致力于創(chuàng)新能源生產(chǎn)和壓縮系統(tǒng)研發(fā)制造的企業(yè)。由于大型發(fā)動(dòng)機(jī)的功率不斷提高,單個(gè)組件承受的...
鈦合金微觀結(jié)構(gòu)表征:EBSD制樣技術(shù)的應(yīng)用與經(jīng)驗(yàn)分析
EBSD技術(shù)的進(jìn)步電子背散射衍射技術(shù)(EBSD)在材料科學(xué)領(lǐng)域扮演著越來(lái)越重要的角色。它允許科學(xué)家在掃描電子顯微鏡(SEM)下進(jìn)行顯微形貌、成分和晶體取...
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