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標(biāo)簽 > 顯微鏡
在17世紀(jì),人們發(fā)現(xiàn)把兩塊凸透鏡組合起來(lái),能明顯的提高放大能力,這種裝置就是顯微鏡的前身。第一架真正的顯微鏡,是用一片凸透鏡和一片凹透鏡重疊起來(lái)組合而成,又稱(chēng)為復(fù)式顯微鏡
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光束中的量子相關(guān),光子在其中表現(xiàn)出一定的合作,可以超越這些限制。雖然通過(guò)一階干涉在相位估計(jì)中獲得的量子優(yōu)勢(shì)已經(jīng)得到了很好的理解,但干涉方案不適合多參數(shù)寬...
三角形柵線印刷技術(shù):從遮光到增效,美能3D顯微鏡助力柵線的精密檢測(cè)
正面柵線遮光對(duì)太陽(yáng)電池光學(xué)損失遮光效應(yīng):正面柵線是太陽(yáng)電池表面的金屬電極,用于收集光生電流。然而,這些金屬柵線會(huì)遮擋部分入射光,導(dǎo)致電池的有效光照面積減...
2025-02-17 標(biāo)簽:印刷技術(shù)顯微鏡精密檢測(cè)儀器 587 0
鎖相放大器OE1022應(yīng)用在掃描隧道顯微鏡在超導(dǎo)薄膜中的測(cè)量
圖1. 兩線圈互感器示意圖電感測(cè)量 (a)傳輸型 (b)反射型 黃色和藍(lán)色箭頭分別表示樣品處于正常和超導(dǎo)狀態(tài)時(shí)驅(qū)動(dòng)線圈發(fā)出的磁力線 2017 年,上海交...
如何利用磁場(chǎng)相機(jī)實(shí)現(xiàn)先進(jìn)的磁性微結(jié)構(gòu)分析?
工業(yè)設(shè)備的持續(xù)微型化過(guò)程引發(fā)了對(duì)高級(jí)磁性微結(jié)構(gòu)表征技術(shù)的需求,這些技術(shù)需結(jié)合高分辨率、短測(cè)量時(shí)間和定量磁場(chǎng)數(shù)據(jù)。尤其是在磁性設(shè)備制造過(guò)程中進(jìn)行在線質(zhì)量控...
世界最小LED可將手機(jī)攝像頭轉(zhuǎn)換為高分辨率顯微鏡
本研究中展示的未經(jīng)訓(xùn)練的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)允許研究人員使用新型光源,而無(wú)需事先了解光源光譜或光束輪廓,例如上面描述的新穎和最小的已知硅LED,通過(guò)完全商業(yè)化,未經(jīng)...
2023-05-10 標(biāo)簽:led神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)發(fā)光二極管 575 0
針對(duì)這類(lèi)樣本的成像技術(shù)中,無(wú)標(biāo)記顯微成像技術(shù)能夠?qū)⑼该鳂颖九c周邊環(huán)境的折射率對(duì)比度轉(zhuǎn)換為成像圖案的強(qiáng)度對(duì)比度,很好地彌補(bǔ)了熒光或染色技術(shù)需要外源性標(biāo)記物...
2024-04-18 標(biāo)簽:成像技術(shù)顯微鏡成像系統(tǒng) 568 0
雙束FIB-SEM系統(tǒng)在材料科學(xué)中的應(yīng)用
導(dǎo)語(yǔ)聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)(FIB-SEM)是一種先進(jìn)的微納加工和成像技術(shù),它在材料科學(xué)研究中扮演著不可或缺的角色。FIB-SEM系統(tǒng)能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行...
透射電子顯微鏡(TEM)的優(yōu)勢(shì)及應(yīng)用
在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的諸多領(lǐng)域中,透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscope,TEM)以其卓越的性能和廣泛的應(yīng)用,成為了材料...
【應(yīng)用案例】Moku:Pro簡(jiǎn)化雙色受激拉曼散射顯微鏡實(shí)驗(yàn)
在華盛頓大學(xué), 研究人員致力于雙色受激拉曼散射(SRS)顯微鏡技術(shù)研究開(kāi)發(fā)化學(xué)成像工具,用于早期癌癥檢測(cè)和了解神經(jīng)退行性疾病進(jìn)展。實(shí)驗(yàn)裝置通常包括多個(gè)復(fù)...
電子工業(yè)顯微鏡分析技術(shù),在新材料與新工藝的探索中扮演著至關(guān)重要的角色。以下是關(guān)于電子工業(yè)顯微鏡在新材料與新工藝分析中的必備性的詳細(xì)闡述:一、電子工業(yè)顯微...
FIB技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域及工作原理解析
集成化微納加工平臺(tái)雙束聚焦離子束-掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)系統(tǒng)代表了微納加工技術(shù)的前沿,它巧妙地融合了單束FIB和SEM的優(yōu)勢(shì),為用戶(hù)提供了一個(gè)...
一探索微觀世界的利器掃描電子顯微鏡(SEM)在人類(lèi)科技發(fā)展領(lǐng)域中扮演了至關(guān)重要的角色。它不僅極大地提高了我們對(duì)物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的認(rèn)識(shí),而且在多個(gè)領(lǐng)域內(nèi)發(fā)揮了...
電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)的優(yōu)勢(shì)
EBSD技術(shù)概覽電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)是一種先進(jìn)的材料表征工具,它基于電子與材料表面晶體原子相互作用時(shí)產(chǎn)生的背散射現(xiàn)象。電子背散射的優(yōu)勢(shì)電子背散...
光束勻化在熒光成像平場(chǎng)照明中的應(yīng)用
熒光顯微鏡熒光顯微鏡屬于光學(xué)顯微鏡家族,基于熒光的物理效應(yīng)。利用了所謂的熒光染料的顏色特性,它們被特定波長(zhǎng)的光激發(fā),并以不同的波長(zhǎng)再次反射吸收的光。熒光...
九項(xiàng)PCB失效分析的技術(shù)總結(jié)
切片分析切片分析就是通過(guò)取樣、鑲嵌、切片、拋磨、腐蝕、觀察等一系列手段和步驟獲得 PCB 橫截面結(jié)構(gòu)的過(guò)程。
蔡司工業(yè)顯微鏡Axio檢測(cè)汽車(chē)電池極片毛刺
隨著新能源技術(shù)的快速發(fā)展,電池作為核心組件,其安全性與性能優(yōu)化一直是行業(yè)關(guān)注的焦點(diǎn)。電芯極片是電池構(gòu)造的基石,其制造過(guò)程中的每一個(gè)細(xì)節(jié)都直接關(guān)系到電池的...
氬離子拋光在電鏡樣品制備中的優(yōu)勢(shì):超越FIB的大面積處理能力
氬離子拋光技術(shù)概述氬離子拋光技術(shù)是一種先進(jìn)的樣品制備方法,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)和微觀分析領(lǐng)域。該技術(shù)通過(guò)使用惰性氣體氬的離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行精確的切割和拋...
德國(guó)蔡司顯微鏡與FIB技術(shù)在電池材料研究中的應(yīng)用
蔡司作為一家在光學(xué)和電子顯微鏡領(lǐng)域具有深厚技術(shù)積累的企業(yè),提供聚焦離子束—掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)和飛秒激光(Laser-FIB)技術(shù)解決方案,...
全自動(dòng)變倍對(duì)焦顯微鏡:晶圓盤(pán)檢測(cè)的得力助手
全自動(dòng)變倍對(duì)焦顯微鏡,以其卓越的性能和廣泛的應(yīng)用前景,正成為晶圓盤(pán)檢測(cè)領(lǐng)域的一顆璀璨明星。
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