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ClassⅠ 設(shè)備是指可接觸之導(dǎo)體零件連接至接地保護導(dǎo)體;當(dāng)基本絕緣失效時,接地保護導(dǎo)體必須能承受失效誤電流,也就是當(dāng)基本絕緣失效時,可接觸零件不可變成...
2024-04-08 標簽:電力系統(tǒng)測試機耐壓測試 2.3萬 0
聊聊IC測試機(1)ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡介
ATE(Auto Test Equipment) 在測試工廠完成. 大致是給芯片的輸入管道施加所需的激勵信號,同時監(jiān)測芯片的輸出管腳,看其輸出信號是否是...
導(dǎo)通孔起線路互相連結(jié)導(dǎo)通的作用,電子行業(yè)的發(fā)展,同時也促進PCB的發(fā)展,也對印制板制作工藝和表面貼裝技術(shù)提出更高要求。
隨著電子產(chǎn)品向“輕、薄、短、小”方向發(fā)展,PCB也向高密度、高難度發(fā)展,因此出現(xiàn)大量SMT、BGA的PCB,而客戶在貼裝元器件時要求塞孔,塞孔主要有五個作用
HBM(Human Body Model) 驗證測試已經(jīng)成為IC 防靜電等級的必測項目,一般是直接委外第三方實驗室進行驗證,但卻不知道自己的IC用的靜電...
半導(dǎo)體測試設(shè)備主要包括三類:ATE、探針臺、分選機。其中測試功能由測試機實現(xiàn),而探針臺和分選機實現(xiàn)的則是機械功能,將被測晶圓/芯片揀選至測試機進行檢測。
半導(dǎo)體制造的關(guān)鍵環(huán)節(jié):芯片測試
CP(Chip Probing)測試也叫晶圓測試(wafer test),也就是在芯片未封裝之前對wafer進行測試,這樣就可以把有問題的芯片在封裝之前...
2024-04-20 標簽:測試系統(tǒng)芯片測試測試機 2728 0
圓柱18650電池是被研究得最多、技術(shù)討論最充分的電池品種。單體主要由正極、負極、隔膜、正極負極集電極、安全閥、過流保護裝置、絕緣件和殼體共同組成。殼體...
2023-11-21 標簽:鋰電池伺服系統(tǒng)測試機 2443 0
類別:產(chǎn)品手冊 2018-04-26 標簽:ict測試機 2870 0
類別:產(chǎn)品手冊 2011-04-19 標簽:芯片FLASHEPROM 1601 0
一般來說,半導(dǎo)體封裝及測試是半導(dǎo)體制造流程中極其重要的收尾工作。半導(dǎo)體封裝是利用薄膜細微加工等技術(shù)將芯片在基板上布局、固定及連接,并用可塑性絕緣介質(zhì)灌封...
2020-12-09 標簽:晶圓半導(dǎo)體封裝測試機 3.6萬 0
為保證測試一致性以及測試硬件的重復(fù)利用,器件結(jié)構(gòu)(testkey)都是有統(tǒng)一的PAD數(shù)以及PAD間距。測試pattern放置在PAD間。具體的標準需要向...
測試過程是否有誤?制造過程是否存在缺陷?設(shè)計是否存在偏差?用戶提出的設(shè)計需求是否存在矛盾? 隨著芯片設(shè)計的發(fā)展,芯片內(nèi)部的集成度越來越高,芯片測試...
頂破強力或脹破強力的測試方法主要有三種:脹破法、彈子頂破法和鋼球法。國外如美國、日本、韓國、加拿大、澳大利亞等采用脹破法測試。測試原理是:將試樣夾在可延...
半導(dǎo)體集成電路彎曲強度、彎曲模量試驗及計算方式介紹!
彎曲強度又稱抗彎折強度(Bending Strength),是指物件被彎曲斷裂前所能承受的最大應(yīng)力,主要目的在測定塑膠的耐彎折能力。其單位可以是Kg/c...
關(guān)于美國半導(dǎo)體設(shè)備的性能分析和應(yīng)用
國產(chǎn)設(shè)備中,華海清科正在攻堅 12 寸晶圓 28-14nm 工藝 CMP 設(shè)備,在 8 寸與 6 寸晶圓中,也有相應(yīng)產(chǎn)品。中電科 45 所在 2015 ...
任何生產(chǎn)設(shè)備在使用一定時間后都會出現(xiàn)老化、磨損等問題,影響設(shè)備性能、效率、壽命,因此,對設(shè)備的日常維護和保養(yǎng)尤為重要。
半導(dǎo)體劃片刀原理、特點以及刀片磨損原因等知識分享!
劃片刀(Wafer Saw) 主要由電鑄鎳基結(jié)合劑、金剛石/類金剛石等硬質(zhì)顆粒組成。切割時由主軸帶動刀片高速旋轉(zhuǎn)獲得高剛性,從而去除材料實現(xiàn)切割。由于刀...
半導(dǎo)體集成電路失效分析原理及常見失效分析方法介紹!
失效分析(FA)是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘...
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