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標(biāo)簽 > 測(cè)試
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。
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三元鋰電池直流內(nèi)阻(DCIR)的測(cè)試分析!
以三元體系的51Ah方形動(dòng)力電池作為研究對(duì)象,從電池SOC狀態(tài)、脈沖電流、脈沖時(shí)間、測(cè)試溫度以及使用工況各個(gè)方面進(jìn)行了全面的測(cè)試分析,在實(shí)際應(yīng)用中可以作...
PLC程序分析和數(shù)據(jù)下發(fā)測(cè)試教程
在億佰特介紹了西門子PLC如何通過(guò)函數(shù)塊連接MQTT服務(wù)器和發(fā)布消息,前文為大家介紹如何通過(guò)函數(shù)與函數(shù)塊實(shí)現(xiàn)MQTT云消息的訂閱,介紹到了MQTT服務(wù)器...
小功率電子負(fù)載實(shí)現(xiàn)快速負(fù)載瞬態(tài)測(cè)試
負(fù)載瞬態(tài)通常使用電子負(fù)載(E-Load)進(jìn)行測(cè)試,前面提到,負(fù)載的跳變斜率(Slew Rate)將對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生關(guān)鍵影響,然而受設(shè)備內(nèi)部電路限制,常規(guī)電...
2023-02-03 標(biāo)簽:測(cè)試轉(zhuǎn)換器MOSFET 2692 0
為了最大限度地減小尺寸并實(shí)現(xiàn)最佳性能,許多系統(tǒng)采用了緊湊的封裝天線(AiP)架構(gòu),其中相控陣天線和波束賦形器、功率放大器和升降頻器等部件都是集成的(見圖1)。
DDR調(diào)試不通?先別扔,這個(gè)操作可能幫你逆襲!
辛辛苦苦加工出來(lái)的板子,滿懷期待的把調(diào)試程序下到DDR系統(tǒng),結(jié)果沒跑到預(yù)定的速率,你們接下來(lái)會(huì)怎么做?立馬著手改板還是會(huì)???
采用創(chuàng)新數(shù)字預(yù)失真技術(shù)進(jìn)行ADC和音頻測(cè)試的高性能信號(hào)源
要測(cè)試精密儀器儀表,需要使用超低失真、低噪聲、高性能的信號(hào)發(fā)生器。新的產(chǎn)品通常需要保證性能指標(biāo)在較高的水平。有些參考設(shè)計(jì)(例如ADMX1002)利用高性...
對(duì)芯片來(lái)說(shuō),測(cè)試是流片后或者上市前的必須環(huán)節(jié)。那么集成電路廠家如何做芯片的出廠測(cè)試呢。 大型半導(dǎo)體廠商的每天就有幾萬(wàn)片芯片的流水,測(cè)試的壓力是非常大。當(dāng)...
RK3568工業(yè)級(jí)核心板高溫運(yùn)行測(cè)試
Rockchip RK3568是一款通用型MPU,產(chǎn)品集成GPU、NPU,支持4K、HDMI、LVDS、MIPI、PCIe3.0、USB3.0、千兆以太...
目前日常生活中的機(jī)器產(chǎn)品越來(lái)越多,智能家居、學(xué)習(xí)機(jī)、點(diǎn)讀筆、平板電腦等電子產(chǎn)品,這些產(chǎn)品都需要電源供電,在家里都是共用電源網(wǎng)絡(luò),有時(shí)都會(huì)放在同個(gè)排插口下...
2022-12-27 標(biāo)簽:測(cè)試emc傳導(dǎo)發(fā)射 1144 0
當(dāng)沒有失效或失效很少時(shí),可以使用假設(shè)的形狀或尺度參數(shù)進(jìn)行分布分析,使用的方法稱為 Bayes 分析。在使用 Weibull 模型的情況下,這種方法更多稱...
802.11物理層測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)解析
6. RCPI的測(cè)量:RCPI應(yīng)等于接收機(jī)指定動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)±5dB(95%置信區(qū)間)的接收射頻功率的精度。接收射頻功率的確定應(yīng)假定接收機(jī)的噪聲等效帶寬等于...
瞬間突然變化,作用時(shí)間極短的電壓或電流稱為脈沖信號(hào),它可以是周期性重復(fù)的,也可以是非周期性的或單次的。常見的脈沖形狀有矩形脈沖、方波脈沖、尖脈沖、鋸齒脈...
MOSFET(金屬—氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)是 一種利用電場(chǎng)效應(yīng)來(lái)控制其電流大小的常見半導(dǎo)體器件,可 以 廣 泛 應(yīng) 用 在 模 擬 電 路 和 數(shù) ...
基于搜索的測(cè)試生成將測(cè)試生成問(wèn)題建模為最優(yōu)化問(wèn)題,其核心思想是針對(duì)期望達(dá)到的測(cè)試目標(biāo),以相關(guān)目標(biāo)(成本)函數(shù)為指引,使用搜索算法在輸入域中尋找最優(yōu)解作為...
如今,全球已經(jīng)進(jìn)入信息時(shí)代,包羅萬(wàn)象的信息網(wǎng)是由一個(gè)個(gè)光纖鏈路組合而成,光纖網(wǎng)絡(luò)為實(shí)現(xiàn)5G的萬(wàn)物互聯(lián)奠定基礎(chǔ)。未來(lái)信息技術(shù)的前景依賴光網(wǎng)絡(luò)的穩(wěn)定,無(wú)論在...
印刷電路板(PCB)廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中,無(wú)論是手機(jī)、電腦還是復(fù)雜的機(jī)器,你都可找到電路板。如果PCB存在缺陷或制造問(wèn)題,則可能導(dǎo)致最終產(chǎn)品出現(xiàn)故障...
如何通過(guò)ApiFox來(lái)構(gòu)建API場(chǎng)景測(cè)試
在開發(fā)前后臺(tái)分離項(xiàng)目并且通過(guò)不同團(tuán)隊(duì)來(lái)實(shí)現(xiàn)的時(shí)候,如何將后臺(tái)設(shè)計(jì)的 API 準(zhǔn)確的傳達(dá)到前臺(tái),是一個(gè)非常重要的工作。為了簡(jiǎn)化這個(gè)過(guò)程,開源社區(qū)做了很多努...
ESP8266二級(jí)bootload跳轉(zhuǎn)測(cè)試
ESP8266是一個(gè)功能比較集成的模塊,使用起來(lái)還是非常方便的,因此在二次開發(fā)中涉及到bootload跳轉(zhuǎn)的問(wèn)題,這里做一個(gè)測(cè)試。
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