瞬間突然變化，作用時(shí)間極短的電壓或電流稱(chēng)為脈沖信號(hào)，它可以是周期性重復(fù)的，也可以是非周期性的或單次的。常見(jiàn)的脈沖形狀有矩形脈沖、方波脈沖、尖脈沖、鋸齒脈沖、階梯脈沖、間歇正弦脈沖等。以線圈脈沖測(cè)試為例，線圈類(lèi)產(chǎn)品（如變壓器、繞線功率電感等）由于繞線材料、磁性材料、骨架、加工工藝等因素的影響會(huì)產(chǎn)生線圈層間、匝間及引腳間等絕緣性能的降低，通過(guò)脈沖電壓測(cè)量，可以判定測(cè)試產(chǎn)品的優(yōu)劣。

測(cè)試原理

在測(cè)量時(shí)將與標(biāo)準(zhǔn)線圈測(cè)量時(shí)相同的脈沖通過(guò)電容器放電施加于被測(cè)線圈，由于線圈電感量和Q值的存在，將響應(yīng)一個(gè)對(duì)應(yīng)于該放電脈沖的電壓衰減波形，比較該衰減波形的某些特征，可以檢測(cè)線圈匝間和層間短路及圈數(shù)和磁性材料的差異, 可以通過(guò)施加一個(gè)高電壓脈沖，根據(jù)出現(xiàn)的電暈或?qū)娱g放電來(lái)判斷絕緣不良。

圖1. 測(cè)試電路圖

圖片來(lái)源于順絡(luò)內(nèi)部

測(cè)試方法

現(xiàn)實(shí)中匝間耐壓（層間耐壓）有多種測(cè)量方法，但本質(zhì)都是將標(biāo)準(zhǔn)線圈的采樣波形存儲(chǔ)于儀器中，測(cè)試時(shí)將被測(cè)線圈的測(cè)試波形與標(biāo)準(zhǔn)波形比較，根據(jù)設(shè)定的判據(jù)（面積、面積差、電暈、相位差等）以判定被測(cè)產(chǎn)品的性能優(yōu)劣。

下面我們?yōu)榇蠹液?jiǎn)單介紹四種測(cè)試常用的測(cè)試方法：

a波形面積比較法

如圖2，在任意指定的A～B 區(qū)間內(nèi)對(duì)被測(cè)線圈測(cè)試波形面積進(jìn)行（積分）計(jì)算，并與標(biāo)準(zhǔn)波形在此區(qū)間內(nèi)的面積進(jìn)行比較，用這兩個(gè)波形面積的差異值與標(biāo)準(zhǔn)波形在此區(qū)間的面積的百分比作為判定依據(jù)，判定基準(zhǔn)用百分比來(lái)設(shè)定。

注：波形面積近似的與能量損失成正比，所以可以使用面積比較方法來(lái)判斷線圈中的能量損耗，有效的檢測(cè)線圈層間和匝間短路。

圖2.面積比較法波形圖

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b波形面積差比較法

如圖3，在任意指定A～B 區(qū)間內(nèi)對(duì)被測(cè)線圈測(cè)試波形和標(biāo)準(zhǔn)波形的Y 軸方向的差異值進(jìn)行計(jì)算（積分計(jì)算的結(jié)果為A～B 區(qū)間內(nèi)的陰影部分）和標(biāo)準(zhǔn)波形在此區(qū)間的面積比較，基準(zhǔn)用百分比來(lái)設(shè)定。

注：面積差比較方法主要表現(xiàn)了電感量的差異和能量的損耗，這個(gè)比較方法可以有效的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)線圈和被測(cè)線圈的電感量差異。

圖3. 面積差比較法波形圖

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c電暈放電比較法

如圖4，與波形的差異無(wú)關(guān)，在任意指定的A～B 區(qū)間內(nèi)，僅在被測(cè)線圈測(cè)試波形包含的電暈放電尖峰中檢出高頻成分進(jìn)行面積（積分）計(jì)算，并將計(jì)算結(jié)果與設(shè)定值進(jìn)行比較，判定電暈放電量是否合格，設(shè)定值是一個(gè)整數(shù)。

圖4. 放電量二次微分偵測(cè)法波形圖

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d相位差比較法

如圖5，指定一個(gè)需要作比較的過(guò)零點(diǎn)，測(cè)量?jī)x器判斷被測(cè)線圈測(cè)試波形和標(biāo)準(zhǔn)波形在這個(gè)過(guò)零點(diǎn)的偏移量，然后和標(biāo)準(zhǔn)波形的振蕩周期作比較，并用這兩個(gè)量的百分比作為判斷依據(jù)，基準(zhǔn)用百分比來(lái)設(shè)定。如圖中，A～B 間是偏移量，C～D 間是標(biāo)準(zhǔn)波形振蕩周期，設(shè)定的是比較波形的第三個(gè)過(guò)零點(diǎn)。

圖5. 波峰比偵測(cè)法波形圖

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為了讓大家對(duì)測(cè)試有直觀的感受，我們選擇繞線功率電感的實(shí)際測(cè)試畫(huà)面展示。

圖6. 電感實(shí)際測(cè)試圖

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匝間耐壓（層間耐壓）是保證產(chǎn)品品質(zhì)及提高穩(wěn)定性的一項(xiàng)關(guān)鍵測(cè)試，順絡(luò)電子在元器件電性能參數(shù)測(cè)試，建立了豐富多樣的測(cè)試技術(shù)，為產(chǎn)品品質(zhì)保駕護(hù)航，給客戶(hù)提供優(yōu)質(zhì)服務(wù)。

審核編輯：湯梓紅