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電子顯微鏡,簡(jiǎn)稱電鏡,英文名Electron Microscope(簡(jiǎn)稱EM),經(jīng)過(guò)五十多年的發(fā)展已成為現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)中不可缺少的重要工具。電子顯微鏡由鏡筒、真空裝置和電源柜三部分組成。
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掃描電子顯微鏡(SEM)具有高分辨率、大景深、可觀察多種信號(hào)等特點(diǎn),在多個(gè)領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景,以下是一些主要的應(yīng)用方面:一、材料科學(xué)領(lǐng)域-金屬材料研...
隨著新能源技術(shù)的快速發(fā)展,電池作為核心組件,其安全性與性能優(yōu)化一直是行業(yè)關(guān)注的焦點(diǎn)。電芯極片是電池構(gòu)造的基石,其制造過(guò)程中的每一個(gè)細(xì)節(jié)都直接關(guān)系到電池的...
掃描透射電子顯微鏡(STEM)掃描透射電子顯微鏡(STEM)是一種融合了透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM)部分特點(diǎn)的先進(jìn)顯微技術(shù)。該技術(shù)...
蔡司EVO掃描電子顯微鏡進(jìn)行軸承清潔度檢測(cè)
INNIOGroup坐落于奧地利顏巴赫(Jenbach),是一家致力于創(chuàng)新能源生產(chǎn)和壓縮系統(tǒng)研發(fā)制造的企業(yè)。由于大型發(fā)動(dòng)機(jī)的功率不斷提高,單個(gè)組件承受的...
掃描電子顯微鏡(SEM)有多種分類方式,具體如下:1、按電子槍種類分類(1)鎢絲槍掃描電鏡:使用熱鎢極電子槍,陰極為能加熱的鎢絲。優(yōu)點(diǎn)是結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本較...
鎂合金微觀結(jié)構(gòu)分析:EBSD制樣技術(shù)的應(yīng)用與經(jīng)驗(yàn)探討
電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)在材料科學(xué)領(lǐng)域,電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)以其卓越的晶體微區(qū)取向和結(jié)構(gòu)分析能力,已經(jīng)成為全球研究者不可或缺的工具。它不...
在電子元件領(lǐng)域,電容陶瓷其微觀結(jié)構(gòu)直接決定了電容的介電性能、耐壓性與使用壽命。而電容陶瓷端面作為電極與陶瓷基體的關(guān)鍵結(jié)合區(qū)域,其平整度、晶粒分布、缺陷狀...
什么是聚焦離子束?聚焦離子束(FocusedIonBeam,簡(jiǎn)稱FIB)技術(shù)作為一種前沿的納米級(jí)加工與分析手段,近年來(lái)在眾多領(lǐng)域嶄露頭角。它巧妙地融合了...
機(jī)械研磨和離子濺射技術(shù)是硬質(zhì)材料樣品制備中常用的方法。首先,將樣品通過(guò)機(jī)械研磨的方式制成極薄的片狀,然后利用離子濺射技術(shù)進(jìn)一步減薄至電子能夠穿透的厚度。...
掃描電鏡與掃描電子顯微鏡:解析二者的關(guān)系與區(qū)別
在科研、工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域,“掃描電鏡”和“掃描電子顯微鏡”這兩個(gè)術(shù)語(yǔ)經(jīng)常被提及。對(duì)于剛接觸相關(guān)領(lǐng)域的人來(lái)說(shuō),很容易對(duì)它們產(chǎn)生困惑,不清楚二者之間究竟存在怎...
蔡司工業(yè)顯微鏡Axio檢測(cè)汽車(chē)電池極片毛刺
隨著新能源技術(shù)的快速發(fā)展,電池作為核心組件,其安全性與性能優(yōu)化一直是行業(yè)關(guān)注的焦點(diǎn)。電芯極片是電池構(gòu)造的基石,其制造過(guò)程中的每一個(gè)細(xì)節(jié)都直接關(guān)系到電池的...
離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)是將聚焦離子束(FIB)技術(shù)與掃描電子顯微鏡(SEM)技術(shù)有機(jī)結(jié)合的高端設(shè)備。什么是FIB-SEM?FIB-SEM...
氬離子拋光技術(shù)是一種精密的表面處理工藝,它通過(guò)氬離子束的物理作用,對(duì)樣品表面進(jìn)行細(xì)致的平滑和拋光。這種技術(shù)在提升樣品表面質(zhì)量方面發(fā)揮著關(guān)鍵作用,特別是在...
德國(guó)蔡司顯微鏡與FIB技術(shù)在電池材料研究中的應(yīng)用
蔡司作為一家在光學(xué)和電子顯微鏡領(lǐng)域具有深厚技術(shù)積累的企業(yè),提供聚焦離子束—掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)和飛秒激光(Laser-FIB)技術(shù)解決方案,...
桌面式掃描電鏡是掃描電子顯微鏡的一種類型,它在結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、功能特點(diǎn)等方面都有自身獨(dú)特之處,以下從其定義、原理、特點(diǎn)、應(yīng)用場(chǎng)景等方面進(jìn)行具體介紹:1、定義與...
超高分辨率形貌與結(jié)構(gòu)信息1.微觀形貌TEM能夠直接觀察樣品的微觀結(jié)構(gòu),包括顆粒的形狀、大小、分布、表面特征、孔洞以及缺陷(如位錯(cuò)、層錯(cuò)、晶界、相界等)。...
全自動(dòng)變倍對(duì)焦顯微鏡:晶圓盤(pán)檢測(cè)的得力助手
全自動(dòng)變倍對(duì)焦顯微鏡,以其卓越的性能和廣泛的應(yīng)用前景,正成為晶圓盤(pán)檢測(cè)領(lǐng)域的一顆璀璨明星。
獲得良好的衍射圖譜的前提是制備出優(yōu)質(zhì)的EBSD樣品
電子背散射衍射技術(shù)(EBSD)在材料科學(xué)領(lǐng)域,電子背散射衍射技術(shù)(EBSD)自20世紀(jì)90年代末期以來(lái),已經(jīng)成為一種創(chuàng)新且不可或缺的分析工具。EBSD技...
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