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電鏡

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電鏡技術(shù)

電鏡常用元素分析方法:EDS、EELS、HAADF-STEM

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不同的波長(zhǎng)λ對(duì)應(yīng)于不同的原子序數(shù)Z。根據(jù)這個(gè)特征能量, 即可知所分析的區(qū)域存在什么元素及各元素的含量。根據(jù)掃描的方式, EDS 可分為點(diǎn)分析、線掃描及面...

2023-09-28 標(biāo)簽:射線EDS電鏡 9542 0

tem成像系統(tǒng)有哪幾部分組成

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TEM的成像原理涉及許多物理和光學(xué)概念,涵蓋了電子束的產(chǎn)生、聚焦、樣品相互作用以及圖像形成等多個(gè)方面,從而造成TEM像的解釋很復(fù)雜。更具體的原因有以下幾...

2023-08-07 標(biāo)簽:非晶體成像系統(tǒng)TEM 2478 0

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 500規(guī)格參數(shù)

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今天三本精密儀器小編給您介紹場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM500規(guī)格參數(shù)及樣品制備要求:一、樣品要求(1)本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機(jī)、生物、不...

2023-06-19 標(biāo)簽:掃描電鏡掃描電鏡 1844 0

聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)技術(shù)原理、樣品制備要點(diǎn)及常見(jiàn)問(wèn)題解答

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納米級(jí)材料分析的革命性技術(shù)在現(xiàn)代科學(xué)研究和工程技術(shù)中,對(duì)材料的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)的深入理解是至關(guān)重要的。聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)技術(shù)應(yīng)運(yùn)而...

2024-11-23 標(biāo)簽:SEMfib電鏡 1223 0

場(chǎng)發(fā)射電鏡(FESEM)應(yīng)用領(lǐng)域及案例分析

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1?設(shè)備型號(hào)3臺(tái)和FIB聯(lián)用為雙束聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM),能夠?yàn)榭蛻籼峁?zhuān)業(yè)的材料分析服務(wù)。2?原理場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種采用尖端肖特基熱場(chǎng)發(fā)...

2024-11-14 標(biāo)簽:SEM顯微鏡電鏡 831 0

制備透射電鏡及掃描透射電鏡樣品的詳細(xì)步驟

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聚焦FIB技術(shù):微納尺度加工的利器聚焦離子束(FIB)技術(shù)以其卓越的精確度在微觀加工領(lǐng)域占據(jù)重要地位,能夠?qū)崿F(xiàn)從微米級(jí)到納米級(jí)的精細(xì)加工。金鑒實(shí)驗(yàn)室在這...

2024-11-11 標(biāo)簽:fib離子束電鏡 735 0

鋰電池電極片微觀結(jié)構(gòu):氬離子拋光SEM電鏡測(cè)試效果展示

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在現(xiàn)代材料科學(xué)和工程領(lǐng)域,對(duì)材料微觀結(jié)構(gòu)的精確分析是至關(guān)重要的。特別是在鋰電池技術(shù)迅速發(fā)展的今天,對(duì)電極片的微觀結(jié)構(gòu)分析是優(yōu)化電池性能和壽命的關(guān)鍵。氬離...

2024-11-11 標(biāo)簽:鋰電池SEM電鏡 731 0

FIB-SEM方法分析BlackPad的優(yōu)缺點(diǎn)

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BlackPad簡(jiǎn)介目前以ENIG為表面處理方式所占比例較大,ENIG金屬Ni層以NiP成分為主,在生產(chǎn)中易發(fā)生鎳腐蝕(后面稱(chēng)blackpad)。退金后...

2024-11-29 標(biāo)簽:SEMfib電鏡 618 0

氬離子拋光在電鏡樣品制備中的優(yōu)勢(shì):超越FIB的大面積處理能力

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氬離子拋光技術(shù)概述氬離子拋光技術(shù)是一種先進(jìn)的樣品制備方法,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)和微觀分析領(lǐng)域。該技術(shù)通過(guò)使用惰性氣體氬的離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行精確的切割和拋...

2024-12-04 標(biāo)簽:切割技術(shù)顯微鏡電鏡 606 0

蔡司離子束掃描電子顯微鏡Crossbeam 550 Samplefab

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蔡司代理三本精密儀器獲悉。蔡司推出全新雙束電鏡Crossbeam550Samplefab作為一款專(zhuān)為半導(dǎo)體行業(yè)TEM樣品制備開(kāi)發(fā)的高端聚焦離子束掃描電子...

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電鏡資訊

常見(jiàn)的七大材料測(cè)試方法

原子吸收光譜(Atomic Absorption Spectrometry, AAS) 又稱(chēng)原子吸收分光光度分析。原子吸收光譜分析是基于試樣蒸氣相中被測(cè)...

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SEM掃描電鏡工作原理,SEM掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用

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這是Amanda王莉第55篇文章,點(diǎn)這里關(guān)注我,記得標(biāo)星在當(dāng)今世界,SEM掃描電子顯微鏡分析技術(shù),一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段,...

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我國(guó)科學(xué)家拓展冷凍電鏡解析生物大分子結(jié)構(gòu)的分辨極限

研究成果2019年6月3日在《自然·通訊》雜志在線發(fā)表。

2019-07-03 標(biāo)簽:蛋白質(zhì)電鏡 3262 0

高端新品發(fā)布!國(guó)產(chǎn)雙束電鏡+超高分辨電鏡閃耀2023全國(guó)電鏡年會(huì)

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10月26日,2023年全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)在東莞市召開(kāi)。國(guó)儀量子在會(huì)議期間重磅發(fā)布自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描...

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通過(guò)TEM技術(shù)觀測(cè)缺陷位點(diǎn)附近的聲子傳播

? 晶體中的缺陷結(jié)構(gòu)會(huì)通過(guò)影響散射聲子影響聲子譜,導(dǎo)致材料的熱力學(xué)、傳熱性質(zhì)變化,為了精確的表征缺陷對(duì)固體中導(dǎo)熱、熱擴(kuò)散的影響,理解聲子-缺陷之間的相互...

2021-02-13 標(biāo)簽:SiC電鏡 3153 0

蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)

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蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對(duì)于材料科學(xué)、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學(xué)研究,人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)組...

2023-08-08 標(biāo)簽:SEM顯微鏡電鏡 3109 0

高負(fù)載量的原子級(jí)分散催化劑Ir/MoC

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實(shí)驗(yàn)和理論計(jì)算結(jié)果表明,α-MoC載體與Ir物種之間存在強(qiáng)的相互作用,使得金屬I(mǎi)r在高載量時(shí)仍能避免團(tuán)聚,從而在α-MoC表面維持原子級(jí)的高分散。

2021-03-30 標(biāo)簽:探針催化劑電鏡 2994 0

掃描電子顯微鏡SEM電鏡結(jié)構(gòu)及原理

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掃描電子顯微鏡(SEM)是一種功能強(qiáng)大、應(yīng)用廣泛的材料表征工具。其結(jié)構(gòu)復(fù)雜且精密,主要包括電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)收集處理系統(tǒng)、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、真空系統(tǒng)以...

2024-03-20 標(biāo)簽:電子顯微鏡電鏡掃描電子顯微鏡 2953 0

電鏡技術(shù)中四維電子能量損失譜

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2021-02-23 標(biāo)簽:電子電鏡 2768 0

掃描電鏡(SEM)LED材料分析

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1. 設(shè)備型號(hào) 日立-掃描電鏡-SU 1510, 配備能譜儀eds 2. 原理 SEM的工作原理是用一束極細(xì)的電子束掃描樣品,在樣品表面激發(fā)出次級(jí)電子,...

2021-11-04 標(biāo)簽:半導(dǎo)體電鏡 2727 0

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電鏡數(shù)據(jù)手冊(cè)

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視頻放大器 功率放大器 頻率轉(zhuǎn)換器 揚(yáng)聲器放大器 音頻轉(zhuǎn)換器 音頻開(kāi)關(guān) 音頻接口 音頻編解碼器
模數(shù)轉(zhuǎn)換器 數(shù)模轉(zhuǎn)換器 數(shù)字電位器 觸摸屏控制器 AFE ADC DAC 電源管理
線性穩(wěn)壓器 LDO 開(kāi)關(guān)穩(wěn)壓器 DC/DC 降壓轉(zhuǎn)換器 電源模塊 MOSFET IGBT
振蕩器 諧振器 濾波器 電容器 電感器 電阻器 二極管 晶體管
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