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標簽 > 芯片測試

芯片測試

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芯片測試資訊

ICCAD 2022 | 加速科技邀您相聚廣州

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中國集成電路設(shè)計業(yè)2022年會暨廣州集成電路產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新發(fā)展高峰論壇將于2022年11月9日—10日于廣州保利世貿(mào)博覽館舉行。作為業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的半導體測試設(shè)備供...

2022-10-27 標簽:集成電路半導體芯片測試 1.5k 0

手機市場或迎復蘇,芯片測試與封測供應(yīng)鏈積極應(yīng)對

半導體封測供應(yīng)鏈傳出從10月開始,手機系統(tǒng)大廠終于開始有明顯的庫存回補動作,鎖定如聯(lián)發(fā)科等一線手機SoC從業(yè)者的「舊款芯片」備貨。

2023-10-16 標簽:芯片測試芯片測試 1.5k 0

可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板 S2S 功能介紹

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可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板 S2S 功能介紹 USB2S 支持基于 STC 單片機的二次開發(fā),若有需要,可參照原理圖和單片機型號手冊自行開發(fā)具有...

2022-08-26 標簽:芯片測試開發(fā)板串口適配器 1.5k 0

長鑫存儲”半導體芯片測試方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)“專利獲授權(quán)

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根據(jù)專利摘要,該公開提供屬于半導體制造技術(shù)領(lǐng)域的半導體芯片測試方法、裝置、裝置及存儲介質(zhì)。該方法對半導體芯片進行直流應(yīng)力試驗,得出直流應(yīng)力試驗結(jié)果,直流...

2023-11-17 標簽:存儲介質(zhì)芯片測試半導體制造 1.5k 0

IP豐富資源相挺 新思科技全面提升芯片測試速度

近半年來,由于晶圓代工制程的競爭愈演愈烈,也使得上游的EDA(電子設(shè)計自動化)與IP(硅智財)業(yè)者,必須與晶圓代工業(yè)者有更為深入的合作,就各自的專長彼此...

2013-09-27 標簽:IPEDA晶圓代工 1.5k 0

芯片測試商利揚芯片向特定對象發(fā)行股票的申請獲得批復

日前,廣東利揚芯片測試股份有限公司關(guān)于向特定對象發(fā)行股票申請獲得中國證券監(jiān)督管理委員會同意注冊批復;利揚芯片發(fā)布了正式公告。 廣東利揚芯片測試股份有限公...

2022-04-21 標簽:芯片測試利揚芯片 1.5k 0

旺宏電子6月營收創(chuàng)新高,3D NOR Flash蓄勢待發(fā)

臺灣知名電子元件制造商旺宏電子近期公布了亮眼的6月及第二季度財務(wù)數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)顯示,該公司6月單月營收達到21.78億元新臺幣,較上月微增0.81%,較去年...

2024-07-12 標簽:FlaSh芯片測試旺宏電子 1.4k 0

正式發(fā)布! 加速科技ST2500A飆速趕來!

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在新場景、新應(yīng)用海量增長的驅(qū)動下,芯片測試需求也在日益多元化和快速擴展。加速科技始終致力于以客戶的實際需求為導向,基于領(lǐng)先的半導體測試技術(shù)為千行百業(yè)提供...

2023-12-05 標簽:芯片測試測試機半導體測試 1.4k 0

ATECLOUD芯片測試設(shè)備測試電源芯片持續(xù)電流的方法

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連續(xù)電流(持續(xù)電流)是指元器件在工作狀態(tài)下內(nèi)部電流持續(xù)流動的狀態(tài),一般都是用于對元器件允許連續(xù)通過電流限制的一種描述。比如電源芯片允許的持續(xù)電流,就表示...

2023-09-18 標簽:電源芯片測試 1.4k 0

芯片測試工具之ATECLOUD-IC系統(tǒng)如何測試電源芯片的穩(wěn)壓反饋?

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電源芯片穩(wěn)壓反饋的測試需要一臺多通道直流電源和一臺數(shù)字萬用表,測試之前需要使用直流電源給芯片的VIN和EN端輸入電壓和電流,保證芯片正常啟動,之后只需要...

2023-09-25 標簽:IC芯片測試電源芯片 1.4k 0

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靜態(tài)功耗也叫靜態(tài)電流,是指芯片在靜止狀態(tài)下的電流或者是指芯片在不受外界因素影響下自身所消耗的電流。靜態(tài)功耗是衡量芯片功耗與效率地重要指標。

2023-09-22 標簽:芯片測試芯片測試 1.4k 0

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可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板 ?SHT3x-DIS 溫濕度傳感器芯片 可編程 USB 轉(zhuǎn)串口適配器開發(fā)板 ?SHT3x-DIS 溫濕度傳感器芯片 ...

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芯片測試座的分類和選擇

在芯片測試中,分類和選擇是關(guān)鍵的步驟,以確保芯片的質(zhì)量和可靠性。根據(jù)不同的測試目標和要求,可以采用不同的分類方法和選擇策略。

2023-06-30 標簽:接口芯片測試 1.4k 0

華力宇高端芯片測試基地開工

近日,深圳市華力宇電子科技有限公司(HISEMI)迎來了其高端芯片測試基地新址的啟航儀式,標志著公司正式邁入高端測試領(lǐng)域的新篇章。

2024-05-10 標簽:芯片測試 1.3k 0

是德科技芯片新技術(shù)與測試研討會亮點回顧

日前,由張江高科、是德科技與 IC 咖啡聯(lián)合主辦的 “促進芯發(fā)展 走進科學城暨芯片新技術(shù)與測試研討會”在張江芯片測試公共服務(wù)平臺(上海市浦東新區(qū)秋月路2...

2025-04-10 標簽:半導體芯片測試是德科技 1.3k 0

來自是德科技通信與芯片測試行業(yè)峰會的專家觀點

是德科技在北京舉辦【是德科技通信與芯片測試行業(yè)峰會】探討5G、B5G、6G新技術(shù)的發(fā)展與相關(guān)熱門領(lǐng)域的測試方案,并在現(xiàn)場進行高速誤碼儀與示波器等產(chǎn)品的演...

2023-04-03 標簽:通信芯片測試5G 1.3k 0

冠軍誕生!2021“創(chuàng)芯中國”集成電路創(chuàng)新挑戰(zhàn)賽芯片測試賽項(華南賽區(qū))圓滿收官

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9月26日,由杭州加速科技有限公司聯(lián)合主辦的2021“創(chuàng)芯中國”集成電路創(chuàng)新挑戰(zhàn)賽芯片測試賽項(華南賽區(qū))圓滿收官。14支參賽隊伍同臺競技,大顯身手,經(jīng)...

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昂科技術(shù)完成億元級B輪融資,加快新產(chǎn)品研發(fā)并開拓國際市場

除ATE、PSV(Post-Silicon Validation)、存儲測試儀、系統(tǒng)級別測試SLT、Burn-In老化測試儀V9000外,昂科技術(shù)的全系...

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是德科技與上海ICC、張江高科共謀測試“芯”科技

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峰會把握當下芯片測試的熱點話題,融合技術(shù)分享、測試實驗室參觀與測試方案現(xiàn)場答疑環(huán)節(jié)。

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ATECLOUD智能云測試平臺助力企業(yè)創(chuàng)新發(fā)展數(shù)字化轉(zhuǎn)型

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在數(shù)字化時代,企業(yè)的數(shù)字化轉(zhuǎn)型已成為推動經(jīng)濟發(fā)展的重要動力。為了幫助企業(yè)更好地進行數(shù)字化轉(zhuǎn)型,財政部和工業(yè)和信息化部聯(lián)合發(fā)布了一份報告,建議打造一批數(shù)字...

2023-06-21 標簽:芯片測試測試平臺數(shù)字化 1.2k 0

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    IEEE 802.11ac,是一個802.11無線局域網(wǎng)(WLAN)通信標準,它通過5GHz頻帶(也是其得名原因)進行通信。理論上,它能夠提供最多1Gbps帶寬進行多站式無線局域網(wǎng)通信,或是最少500Mbps的單一連接傳輸帶寬。
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