Dual Beam FIB-SEM技術(shù)

DualBeamFIB-SEM技術(shù)在現(xiàn)代材料科學(xué)的探索中，微觀世界的洞察力是推動(dòng)技術(shù)進(jìn)步的關(guān)鍵。隨著科技的不斷進(jìn)步，分析儀器也在不斷升級(jí)，以滿足日益復(fù)雜...

2025-01-26 標(biāo)簽：SEMfib離子束 178 0

聚焦離子束雙束系統(tǒng)在微機(jī)電系統(tǒng)失效分析中的應(yīng)用

聚焦離子束（FIB）技術(shù)概述聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種通過(guò)離子源產(chǎn)生的離子束，經(jīng)過(guò)過(guò)濾和靜電磁場(chǎng)聚焦，形成直徑為納米級(jí)的高能離子束。這種技術(shù)用于對(duì)樣...

2025-01-24 標(biāo)簽：SEM微機(jī)電fib 524 0

EBSD：材料微觀世界的“顯微鏡”

電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)，作為掃描電子顯微鏡（SEM）的高端拓展工具，它能夠深入剖析材料的微觀組織，實(shí)現(xiàn)組織結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)分析、直觀成像和量化評(píng)估，為...

2025-01-23 標(biāo)簽：材料SEM顯微鏡 344 0

氬離子拋光結(jié)合SEM電鏡：鋰電池電極片微觀結(jié)構(gòu)

氬離子拋光技術(shù)氬離子束拋光技術(shù)，亦稱(chēng)為CP（ChemicalPolishing）截面拋光技術(shù)，是一種先進(jìn)的樣品表面處理手段。該技術(shù)通過(guò)氬離子束對(duì)樣品進(jìn)行...

2025-01-22 標(biāo)簽：鋰電池SEM電鏡 268 0

CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡在金屬材料分析中的應(yīng)用

隨著科技的飛速發(fā)展，材料科學(xué)不斷突破傳統(tǒng)邊界，尤其是金屬材料的研究領(lǐng)域，已成為新興技術(shù)創(chuàng)新的關(guān)鍵。而高性能掃描電鏡（SEM）作為金屬材料分析的重要工具，...

2025-01-20 標(biāo)簽：SEM金屬材料掃描電鏡 342 0

氬離子拋光儀：在石油地質(zhì)行業(yè)的應(yīng)用

在石油地質(zhì)SEM中的應(yīng)用掃描電子顯微鏡（SEM）作為石油地質(zhì)領(lǐng)域不可或缺的研究利器，憑借其精準(zhǔn)的微觀觀測(cè)能力，對(duì)沉積巖中的有機(jī)質(zhì)、粘土礦物、鈣質(zhì)超微化石...

2025-01-15 標(biāo)簽：SEM顯微鏡離子束 273 0

掃描電鏡基本原理及應(yīng)用技巧

一探索微觀世界的利器掃描電子顯微鏡（SEM）在人類(lèi)科技發(fā)展領(lǐng)域中扮演了至關(guān)重要的角色。它不僅極大地提高了我們對(duì)物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的認(rèn)識(shí)，而且在多個(gè)領(lǐng)域內(nèi)發(fā)揮了...

2025-01-15 標(biāo)簽：SEM顯微鏡掃描電鏡 529 0

一文帶你讀懂EBSD

電子背散射衍射（ElectronBackscatterDiffraction，簡(jiǎn)稱(chēng)EBSD）技術(shù)是一種基于掃描電子顯微鏡（SEM）的顯微分析技術(shù)，它能夠...

2025-01-14 標(biāo)簽：SEM顯微鏡電子束 684 0

FIB-SEM技術(shù)全解析：原理與應(yīng)用指南

聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）雙束系統(tǒng)是一種集成了聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）功能的高科技分析儀器。它通過(guò)結(jié)合氣體沉積裝置...

2025-01-06 標(biāo)簽：SEM顯微鏡fib 446 0

獲得良好的衍射圖譜的前提是制備出優(yōu)質(zhì)的EBSD樣品

電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）在材料科學(xué)領(lǐng)域，電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）自20世紀(jì)90年代末期以來(lái)，已經(jīng)成為一種創(chuàng)新且不可或缺的分析工具。EBSD技...

2025-01-03 標(biāo)簽：SEM電子束電子顯微鏡 380 0

電子顯微鏡下的納米世界

在當(dāng)今時(shí)代，納米科學(xué)因其在眾多行業(yè)中引發(fā)的變革性應(yīng)用，已然成為促進(jìn)人類(lèi)文明向前發(fā)展的重要驅(qū)動(dòng)力。無(wú)論是在生物醫(yī)學(xué)、能源存儲(chǔ)還是航空宇宙領(lǐng)域，納米技術(shù)都展...

2025-01-02 標(biāo)簽：SEM電子束電子顯微鏡 377 0

掃描電鏡與氬離子拋光技術(shù)在樣品成分分析的作用

功能材料分析的關(guān)鍵工具場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）是現(xiàn)代科學(xué)研究中不可或缺的工具，尤其在功能材料分析、微納結(jié)構(gòu)觀測(cè)以及結(jié)構(gòu)組分分析等領(lǐng)域。高分辨場(chǎng)發(fā)射...

2024-12-31 標(biāo)簽：SEM離子掃描電鏡 411 0

FIB系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)及其實(shí)際應(yīng)用

雙束技術(shù)：FIB與SEM的協(xié)同工作雙束聚焦離子束顯微鏡的關(guān)鍵在于其雙束技術(shù)，離子束（FIB）用于樣品的精確切割和蝕刻，而電子束（SEM）則捕捉樣品的高分...

2024-12-30 標(biāo)簽：SEMfib電子束 464 0

氬離子拋光技術(shù)解析及其核心應(yīng)用功能

氬離子拋光技術(shù)是一種精密的表面處理工藝，它通過(guò)氬離子束的物理作用，對(duì)樣品表面進(jìn)行細(xì)致的平滑和拋光。這種技術(shù)在提升樣品表面質(zhì)量方面發(fā)揮著關(guān)鍵作用，特別是在...

2024-12-30 標(biāo)簽：SEM表面處理電子顯微鏡 454 0

詳細(xì)解讀——FIB-SEM技術(shù)(聚焦離子束)制備透射電鏡(TEM)樣品

子束技術(shù)概述聚焦離子束技術(shù)是一種先進(jìn)的納米加工技術(shù)，它通過(guò)靜電透鏡將離子束精確聚焦至2至3納米的束寬，對(duì)材料表面進(jìn)行精細(xì)的加工處理。這項(xiàng)技術(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)材料...

2024-12-25 標(biāo)簽：SEMfib離子束 775 0

氬離子拋光：揭示材料微觀結(jié)構(gòu)

氬離子拋光技術(shù)概述氬離子拋光技術(shù)是一種精密的材料表面處理方法，它通過(guò)精細(xì)調(diào)控氬離子束的深度和強(qiáng)度，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的拋光，以消除表面損傷并展示材料的微觀結(jié)...

2024-12-25 標(biāo)簽：材料SEM顯微鏡 455 0

探索掃描電子顯微鏡下的能譜分析技術(shù)（EDX）

掃描電子顯微鏡（SEM）以其在納米級(jí)別解析樣品的能力而聞名，它通過(guò)電子束與樣品的交互來(lái)收集信息。除了常見(jiàn)的背散射電子（BSE）和二次電子（SE）信號(hào)外，...

2024-12-24 標(biāo)簽：SEM顯微鏡電子束 885 0

鈦合金微觀結(jié)構(gòu)表征：EBSD制樣技術(shù)的應(yīng)用與經(jīng)驗(yàn)分析

EBSD技術(shù)的進(jìn)步電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）在材料科學(xué)領(lǐng)域扮演著越來(lái)越重要的角色。它允許科學(xué)家在掃描電子顯微鏡（SEM）下進(jìn)行顯微形貌、成分和晶體取...

2024-12-20 標(biāo)簽：SEM顯微鏡 599 0

什么是PCB的CAF效應(yīng)？

導(dǎo)電陽(yáng)極絲（CAF）現(xiàn)象及其影響在高科技電子產(chǎn)品制造中，尤其是在對(duì)環(huán)境適應(yīng)性要求極高的汽車(chē)電子和軍工領(lǐng)域，產(chǎn)品的耐高溫和高濕性能顯得尤為重要。隨著電子產(chǎn)...

2024-12-14 標(biāo)簽：pcbSEMCAF 1057 0

從外觀到參數(shù),芯片失效的檢測(cè)方法

眾所周知，芯片作為智能設(shè)備的“心臟”，承載核心功能；其設(shè)計(jì)復(fù)雜度與集成度提升，加之應(yīng)用環(huán)境多樣化，致失效問(wèn)題凸顯，或?qū)⒊蔀閼?yīng)用工程師設(shè)計(jì)周期內(nèi)的重大挑戰(zhàn)...

2024-12-09 標(biāo)簽：芯片SEM失效分析 1485 0