射頻輻射電磁場(chǎng)對(duì)設(shè)備的干擾往往是由設(shè)備操作、維修和安全檢查人員在使用移動(dòng)電話(huà)、無(wú)線(xiàn)電臺(tái)、電視發(fā)射臺(tái)、移動(dòng)無(wú)線(xiàn)電發(fā)射機(jī)等電磁輻射源產(chǎn)生的（以上屬有意發(fā)射），汽車(chē)點(diǎn)火裝置、電焊機(jī)、晶閘管整流器、熒光燈工作時(shí)產(chǎn)生的寄生輻射（以上屬無(wú)意發(fā)射）也都會(huì)產(chǎn)生射頻輻射干擾。測(cè)試的目的是為了建立一個(gè)共同的標(biāo)準(zhǔn)來(lái)評(píng)價(jià)電氣和電子產(chǎn)品或系統(tǒng)的抗射頻輻射電磁場(chǎng)干擾的能力。

試驗(yàn)等級(jí)及選擇

射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度(RS)試驗(yàn)等級(jí)

測(cè)試設(shè)備：

（1）信號(hào)發(fā)生器（主要指標(biāo)是帶寬、有調(diào)幅功能、能自動(dòng)或手動(dòng)掃描、掃描點(diǎn)上的留駐時(shí)間可設(shè)定、信號(hào)的幅度能自動(dòng)控制等）；（2）

功率放大器

（要求在1m法、3m法或10m法①的情況下，達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的場(chǎng)強(qiáng)。對(duì)于小產(chǎn)品，也可以采用lm法進(jìn)行測(cè)試，但當(dāng)lm法和3m法的測(cè)試結(jié)果有出入時(shí)，以3m法為準(zhǔn)）；（3）

天線(xiàn)

（在不同的頻段下使用雙錐和對(duì)數(shù)周期天線(xiàn)）；（4）場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試探頭；（5）場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試與記錄設(shè)備。在基本儀器的基礎(chǔ)上再增加一些諸如功率計(jì)、計(jì)算機(jī)（包括專(zhuān)用的控制軟件）、場(chǎng)強(qiáng)探頭的自動(dòng)行走機(jī)構(gòu)等，可構(gòu)成一個(gè)完整的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)；（6）電波暗室，為了保證測(cè)試結(jié)果的可比性和重復(fù)性，要對(duì)測(cè)試場(chǎng)地的均勻性進(jìn)行校驗(yàn)；（7）橫向電磁波室（TEM小室）、帶狀線(xiàn)天線(xiàn)、平行板天線(xiàn)；

輻射電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試方法

測(cè)試時(shí)要用 1KHz正弦波進(jìn)行幅度調(diào)制， 調(diào)制深度為 80%， 參見(jiàn)下圖 （在早期的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中不需要調(diào)制）。將來(lái)有可能再增加一項(xiàng)鍵控調(diào)頻 （歐共體標(biāo)準(zhǔn)已采用）， 調(diào)制頻率為 200Hz， 占空比為 1:1。

信號(hào)發(fā)生器的輸出電壓波形測(cè)試在電波暗室中進(jìn)行(如下圖)，用監(jiān)視器監(jiān)視試品的工作情況 （或從試品引出可以說(shuō)明試品工作狀態(tài)的信號(hào)至測(cè)定室，由專(zhuān)門(mén)儀器予以判定）。暗室內(nèi)有天線(xiàn) （包括天線(xiàn)的升降塔）、轉(zhuǎn)臺(tái)、試品及監(jiān)視器。工作人員、測(cè)定試品性能的儀器、信號(hào)發(fā)生器、功率計(jì)和計(jì)算機(jī)等設(shè)備在測(cè)定室里。高頻功率放大器則放在功放室里。測(cè)試中，對(duì)試品的布線(xiàn)非常講究，應(yīng)記錄在案，以便必要時(shí)重現(xiàn)測(cè)試結(jié)果。

射頻輻射電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試裝置

場(chǎng)強(qiáng)、測(cè)試距離與功率放大器的關(guān)系見(jiàn)表

審核編輯：劉清