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如何使用EMC測(cè)試軟件執(zhí)行輻射抗擾度測(cè)試?(一)測(cè)試方法

Sophia_wff ? 來(lái)源:Sophia_wff ? 作者:Sophia_wff ? 2024-03-11 15:03 ? 次閱讀
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一、前言

輻射抗擾度測(cè)試是對(duì)對(duì)講機(jī)、移動(dòng)電話、便攜式電話和廣播發(fā)射機(jī)等強(qiáng)發(fā)射機(jī)產(chǎn)生的射頻場(chǎng)的模擬。

二、測(cè)試方法

在輻射抗擾度測(cè)試期間,測(cè)試電波暗室中會(huì)產(chǎn)生射頻場(chǎng)。不同的EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)使用不同的方法來(lái)生成該字段。德思特RadiMation?測(cè)試軟件支持以下四種不同的輻射抗擾度測(cè)試方法:

● 替代法

● 場(chǎng)強(qiáng)固定法

● 固定功率法

● 三板測(cè)試法(汽車行業(yè))

● 最低性能法

欲了解更多信息,請(qǐng)閱讀“替代測(cè)試方法”、“固定現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試方法”、“固定功率測(cè)試方法”和“最低性能測(cè)試方法”章節(jié)。每種測(cè)試方法都有其自身的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)。

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(1)替代法

為了根據(jù)替代法進(jìn)行輻射抗擾度測(cè)試,首先要校準(zhǔn)空的電波暗室。然后使用校準(zhǔn)文件生成與校準(zhǔn)期間所需的相同功率到發(fā)射天線,以達(dá)到所需的場(chǎng)強(qiáng)(EUT 位于電波暗室中)。

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對(duì)于根據(jù)IEC 1000-4-3的抗擾度測(cè)試,通常使用屏蔽的全電波暗室。暗室在發(fā)射天線前面必須具有至少1.5 m*1.5 m平方的均勻場(chǎng)區(qū)域。

發(fā)射天線最好距被測(cè)設(shè)備3 m。在進(jìn)行實(shí)際測(cè)試之前,需要對(duì)測(cè)試裝置進(jìn)行校準(zhǔn)。有關(guān)1點(diǎn)校準(zhǔn)方法以及IEC1000-4-3要求的16點(diǎn)場(chǎng)均勻性檢查所用方法的更多信息,之后會(huì)發(fā)布如何校準(zhǔn)的文章。

在校準(zhǔn)過(guò)程中,會(huì)生成一個(gè)校準(zhǔn)文件,其中包含每個(gè)測(cè)試頻率的驅(qū)動(dòng)功率電平。校準(zhǔn)文件中記錄的值取決于校準(zhǔn)類型。

可以使用三種不同的類型:

信號(hào)發(fā)生器電平

②正向功率

③凈功率(前向反射)

校準(zhǔn)文件向下兼容。這意味著凈功率校準(zhǔn)文件可用于執(zhí)行正向功率或信號(hào)發(fā)生器電平測(cè)試,正向功率校準(zhǔn)文件可用于執(zhí)行信號(hào)發(fā)生器電平測(cè)試。

記錄的值是在消聲室中產(chǎn)生恒定場(chǎng)所需的值。例如,如果必須生成 10 V/m 的測(cè)試電平,則在1.5 m范圍內(nèi)16個(gè)測(cè)試點(diǎn)中的75%上,屏蔽室中生成的場(chǎng)必須為10V/m(-0 dB+6 dB)*1.5 m區(qū)域(參見(jiàn)校準(zhǔn))。

校準(zhǔn)測(cè)試設(shè)置后,可以使用校準(zhǔn)文件執(zhí)行測(cè)試。應(yīng)注意選擇正確的校準(zhǔn)文件。水平和垂直天線極化的校準(zhǔn)文件通常是不同的。而屏蔽室的特性和尺寸導(dǎo)致了差異。

替代法優(yōu)點(diǎn):

替代法測(cè)試具有高度的重現(xiàn)性。與固定場(chǎng)方法相反,沒(méi)有對(duì)EUT對(duì)場(chǎng)強(qiáng)的影響進(jìn)行校正。

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電纜修正系數(shù)的使用不是強(qiáng)制性的。然而,使用校正因子將提高抗擾度測(cè)量期間的測(cè)量精度。在根據(jù)替代方法進(jìn)行抗擾度測(cè)量期間,電纜校正因子將提高測(cè)量/顯示功率值的準(zhǔn)確性。但是,無(wú)論是否使用校正因子,生成的場(chǎng)精度都是相同的。

配置窗口:

代替法配置窗口如下所示:

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● Dwell Time(停留時(shí)間):停留時(shí)間在調(diào)平程序完成后應(yīng)用。

○ Fixed dwell time(固定停留時(shí)間):固定停留時(shí)間是固定的時(shí)間段。

○ External(外部):外部駐留時(shí)間可與外部EUT控制器一起使用。TS-RadiMation詢問(wèn)EUT控制器停留時(shí)間是否結(jié)束。EUT控制器正在確定停留時(shí)間是否已結(jié)束。

(2)固定功率測(cè)試方法

固定功率測(cè)試在各種EMC測(cè)試中非常有用。在電流注入測(cè)試期間,可以使用此方法來(lái)實(shí)現(xiàn)放大器能夠生成的最大注入電流。盡管這在整個(gè)頻率范圍內(nèi)不會(huì)是恒定電流,但它在工程工作中很有用。

固定功率測(cè)試可以通過(guò)三種不同的方式進(jìn)行:

①固定信號(hào)發(fā)生器輸出電平。使用固定發(fā)生器輸出電平進(jìn)行的測(cè)試不考慮電纜損耗和放大器頻率響應(yīng)。這些測(cè)試期間不需要功率計(jì),因此測(cè)試速度高于固定前向和固定發(fā)射功率測(cè)試。

②固定正向功率電平。使用固定正向功率電平進(jìn)行的測(cè)試確實(shí)會(huì)考慮電纜損耗和放大器頻率響應(yīng)。這些測(cè)試期間需要一臺(tái)功率計(jì)。該測(cè)試方法沒(méi)有考慮放大器和電流探頭之間的VSWR不匹配(即:僅電流探頭的正向功率和傳輸阻抗不足以計(jì)算實(shí)際注入的電流)。

③使用固定發(fā)射功率電平進(jìn)行的測(cè)試會(huì)考慮電纜損耗、放大器頻率響應(yīng)和VSWR失配。這些測(cè)試期間需要兩臺(tái)功率計(jì),一臺(tái)用于測(cè)量正向功率,另一臺(tái)用于測(cè)量反射功率。正向功率和反射功率之差就是發(fā)射功率。

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(3)固定電場(chǎng)測(cè)試方法

在按照“場(chǎng)調(diào)平”方法進(jìn)行輻射抗擾度測(cè)試時(shí),測(cè)試過(guò)程中生成的場(chǎng)會(huì)實(shí)時(shí)調(diào)平到所需值。對(duì)于“電場(chǎng)調(diào)平”測(cè)試,不需要校準(zhǔn)文件。一些EMC標(biāo)準(zhǔn)(例如汽車標(biāo)準(zhǔn))描述了現(xiàn)場(chǎng)調(diào)平測(cè)試方法。

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(4)三板測(cè)試法

三板測(cè)試是基于三板校準(zhǔn)的替代測(cè)試。三板試驗(yàn)與替代試驗(yàn)幾乎相同。主要區(qū)別在于點(diǎn)數(shù)的數(shù)量和所需功率的確定。三板阻抗是在校準(zhǔn)期間使用5次校準(zhǔn)來(lái)確定的。為了計(jì)算所需的功率,使用以下公式:

wKgaomXur7eAYuyvAAAKi6t_fHM459.png公式4-1

wKgaomXur7eAMmi-AAAJr9OP7ao626.png公式4-2:中冪計(jì)算

要配置三板測(cè)試,您需要打開配置窗口。

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在配置窗口中,您需要指定要使用的校準(zhǔn)文件。請(qǐng)注意,可以選擇五點(diǎn)校準(zhǔn)文件以及單點(diǎn)校準(zhǔn)。這樣做是為了驗(yàn)證您的單點(diǎn)校準(zhǔn)。不要忘記定義以下幾點(diǎn):

● 測(cè)試級(jí)別

● 停留時(shí)間

● 天線距離,在我們的例子中是三板

● 放大器保護(hù)

按開始測(cè)試按鈕開始測(cè)試。

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(5)最低性能測(cè)試法

TS-RadiMation?軟件包還支持特定方法來(lái)確定被測(cè)設(shè)備的最低性能水平。該方法與前述方法的不同之處在于,該方法不會(huì)生成固定的指定場(chǎng)強(qiáng),而是根據(jù)被測(cè)設(shè)備的敏感性產(chǎn)生變化的場(chǎng)強(qiáng)。

該方法在很大程度上依賴于EUT監(jiān)控來(lái)確定EUT在哪個(gè)級(jí)別受到影響。在測(cè)試開始之前,必須配置相關(guān)的A/D通道。按下配置屏幕上的輸入按鈕即可執(zhí)行此操作。

測(cè)試從(低)場(chǎng)強(qiáng)水平開始,然后以指定的增量增加場(chǎng)強(qiáng),直到出現(xiàn)兩種情況之一。場(chǎng)強(qiáng)受到放大器保護(hù)的限制,否則被測(cè)設(shè)備將受到影響而超出指定的限制。然后,場(chǎng)強(qiáng)按照指定的步長(zhǎng)減小,軟件將更改為下一個(gè)頻率點(diǎn)。該測(cè)試將生成一個(gè)圖表,顯示被測(cè)設(shè)備不受輻射場(chǎng)影響的程度。

本篇文章為大家介紹了使用德思特EMC測(cè)試軟件執(zhí)行輻射抗擾度測(cè)試的測(cè)試方法。下一章將介紹頻率變化模式測(cè)試方法、校準(zhǔn)方法及調(diào)制。

審核編輯 黃宇

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