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      電子發(fā)燒友網(wǎng)>新品快訊>Cree推出最新XLamp XP-G照明級(jí)中性白光和暖白光L

      Cree推出最新XLamp XP-G照明級(jí)中性白光和暖白光L

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      2025-09-12 17:27:11

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      2025-09-08 11:21:31716

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      2025-09-05 16:13:06859

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      2025-09-05 15:32:39669

      ?LM27964 白光LED驅(qū)動(dòng)芯片技術(shù)文檔總結(jié)

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      中圖儀器國(guó)產(chǎn)白光干涉3D輪廓儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量
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      2025-09-04 15:55:29583

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      TPS6105x 器件基于高頻同步升壓拓?fù)?，具有恒?電流吸收器用于驅(qū)動(dòng)單個(gè)白光 LED。該器件采用電感式固定頻率PWM控制 方案使用小型外部元件，最大限度地減少輸入紋波電流。 2MHz開(kāi)關(guān)
      2025-09-04 15:23:58656

      TPS61054 700mA 高功率白光 LED 驅(qū)動(dòng)器技術(shù)手冊(cè)

      TPS6105x 器件采用高頻同步升壓拓?fù)?，具有恒?電流吸收器用于驅(qū)動(dòng)單個(gè)白光 LED。該器件采用電感式固定頻率PWM控制 方案使用小型外部元件，最大限度地減少輸入紋波電流。 2 MHz開(kāi)關(guān)
      2025-09-03 14:42:56607

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      2025-09-01 11:11:502543

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      2025-08-07 13:49:56

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      2025-08-07 13:48:07

      掃描白光干涉術(shù)在高精度表面測(cè)量中的應(yīng)用

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      2025-08-05 17:54:201139

      探索掃描白光干涉術(shù)：校準(zhǔn)、誤差補(bǔ)償與高精度測(cè)量技術(shù)

      掃描白光干涉術(shù)的快速發(fā)展，在制造業(yè)與科研領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用中得到了驗(yàn)證，某種程度上成為了高精度表面形貌測(cè)量技術(shù)的標(biāo)桿，尤其在半導(dǎo)體、精密光學(xué)、消費(fèi)電子等產(chǎn)業(yè)的牽引下,其測(cè)量功能和性能得到持續(xù)提升。本期美
      2025-08-05 17:53:531253

      白光干涉粗糙度輪廓儀

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      2025-08-04 13:52:11

      精密白光干涉光學(xué)輪廓儀

      SuperViewW精密白光干涉光學(xué)輪廓儀利用光學(xué)干涉原理研制開(kāi)發(fā)的超精細(xì)表面輪廓測(cè)量?jī)x器，主要用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣
      2025-07-31 11:36:39

      三通道 LCD 偏置電源管理 IC，帶有三通道高效白光 LED 驅(qū)動(dòng)器 skyworksinc

      電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供()三通道 LCD 偏置電源管理 IC，帶有三通道高效白光 LED 驅(qū)動(dòng)器相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)、數(shù)據(jù)手冊(cè)，更有三通道 LCD 偏置電源管理 IC，帶有三通道高效白光 LED 驅(qū)動(dòng)器的引腳
      2025-07-30 18:33:09

      高效率、6通道、白光LED驅(qū)動(dòng)器，帶I2C接口 skyworksinc

      電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供()高效率、6通道、白光LED驅(qū)動(dòng)器，帶I2C接口相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)、數(shù)據(jù)手冊(cè)，更有高效率、6通道、白光LED驅(qū)動(dòng)器，帶I2C接口的引腳圖、接線圖、封裝手冊(cè)、中文資料、英文資料，高效率
      2025-07-30 18:31:23

      具有 PWM 控制功能的高效 1x/1.5x/2x 模式電荷泵，適用于白光 LED 應(yīng)用 skyworksinc

      電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供()具有 PWM 控制功能的高效 1x/1.5x/2x 模式電荷泵，適用于白光 LED 應(yīng)用相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)、數(shù)據(jù)手冊(cè)，更有具有 PWM 控制功能的高效 1x/1.5x/2x 模式
      2025-07-29 18:31:00

      用于白光 LED 應(yīng)用的高效 1x/1.5x/2x 模式電荷泵 skyworksinc

      電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供()用于白光 LED 應(yīng)用的高效 1x/1.5x/2x 模式電荷泵相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)、數(shù)據(jù)手冊(cè)，更有用于白光 LED 應(yīng)用的高效 1x/1.5x/2x 模式電荷泵的引腳圖、接線圖、封裝
      2025-07-29 18:30:00

      白光干涉光學(xué)粗糙度檢測(cè)儀

      中圖儀器白光干涉光學(xué)粗糙度檢測(cè)儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能
      2025-07-28 15:36:38

      用于 6 通道白光 LED 應(yīng)用的高效 1X/1.5X/2X 電荷泵 skyworksinc

      電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供()用于 6 通道白光 LED 應(yīng)用的高效 1X/1.5X/2X 電荷泵相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)、數(shù)據(jù)手冊(cè)，更有用于 6 通道白光 LED 應(yīng)用的高效 1X/1.5X/2X 電荷泵的引腳圖
      2025-07-25 18:35:32

      用于白光 LED 應(yīng)用的高效 1X/1.5X/2X 電荷泵 skyworksinc

      電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供()用于白光 LED 應(yīng)用的高效 1X/1.5X/2X 電荷泵相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)、數(shù)據(jù)手冊(cè)，更有用于白光 LED 應(yīng)用的高效 1X/1.5X/2X 電荷泵的引腳圖、接線圖、封裝手冊(cè)
      2025-07-25 18:34:31

      用于白光 LED 應(yīng)用的高效 1x / 1.5x 小數(shù)電荷泵 skyworksinc

      電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供()用于白光 LED 應(yīng)用的高效 1x / 1.5x 小數(shù)電荷泵相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)、數(shù)據(jù)手冊(cè)，更有用于白光 LED 應(yīng)用的高效 1x / 1.5x 小數(shù)電荷泵的引腳圖、接線圖、封裝手冊(cè)
      2025-07-25 18:32:42

      用于白光 LED 應(yīng)用的高效 1.5x 分?jǐn)?shù)電荷泵 skyworksinc

      電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供()用于白光 LED 應(yīng)用的高效 1.5x 分?jǐn)?shù)電荷泵相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)、數(shù)據(jù)手冊(cè)，更有用于白光 LED 應(yīng)用的高效 1.5x 分?jǐn)?shù)電荷泵的引腳圖、接線圖、封裝手冊(cè)、中文資料、英文資料
      2025-07-25 18:32:09

      6通道、高效率白光LED驅(qū)動(dòng)器，帶有觸摸屏驅(qū)動(dòng)器電源 skyworksinc

      電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供()6通道、高效率白光LED驅(qū)動(dòng)器，帶有觸摸屏驅(qū)動(dòng)器電源相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)、數(shù)據(jù)手冊(cè)，更有6通道、高效率白光LED驅(qū)動(dòng)器，帶有觸摸屏驅(qū)動(dòng)器電源的引腳圖、接線圖、封裝手冊(cè)、中文資料、英文
      2025-07-23 18:33:45

      白光色散干涉：實(shí)現(xiàn)薄膜表面輪廓和膜厚的高精度測(cè)量

      法和白光掃描干涉法等，雖然在一定程度上能夠滿足測(cè)量需求，但存在一些局限性。針對(duì)這些現(xiàn)有技術(shù)的不足，本文提出了一種基于白光色散干涉法（WLDI）的高精度測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)
      2025-07-22 09:53:301528

      白光干涉表面輪廓測(cè)量?jī)x

      中圖儀器SuperViewW白光干涉表面輪廓測(cè)量?jī)x可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測(cè)量精度高
      2025-07-18 17:35:22

      三維白光干涉輪廓儀

      SuperViewW三維白光干涉輪廓儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測(cè)量精度高、操作便捷
      2025-07-14 09:53:13

      ?武漢昊衡科技OLI系列白光干涉儀——賦能CPO時(shí)代光互聯(lián)高可靠檢測(cè)?

      的精細(xì)化檢測(cè)需求。武漢昊衡科技有限公司憑借自主研發(fā)的?OLI系列白光干涉儀?，以?-100dB靈敏度、12cm-90cm動(dòng)態(tài)測(cè)量范圍、秒級(jí)高速掃描?等突破性性能?，為C
      2025-07-04 17:31:531602

      白光三維表面形貌儀

      SuperViewW白光三維表面形貌儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸?？蓽y(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度
      2025-07-02 15:28:54

      白光干涉三維形貌儀

      中圖儀器SuperViewW白光干涉三維形貌儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量
      2025-07-01 13:45:47

      改善光刻圖形垂直度的方法及白光干涉儀在光刻圖形的測(cè)量

      深入探討白光干涉儀在光刻圖形測(cè)量中的應(yīng)用。 改善光刻圖形垂直度的方法 優(yōu)化光刻膠性能 光刻膠的特性直接影響圖形垂直度。選用高對(duì)比度、低膨脹系數(shù)的光刻膠，可減少曝光和顯影過(guò)程中的圖形變形。例如，化學(xué)增幅型光刻膠具有良
      2025-06-30 09:59:13489

      國(guó)產(chǎn)白光干涉三維形貌儀

      SuperViewW國(guó)產(chǎn)白光干涉三維形貌儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測(cè)量精度高、操作
      2025-06-24 11:32:25

      白光干涉3D輪廓儀

      SuperViewW白光干涉3D輪廓儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量
      2025-06-19 16:26:23

      微觀3D形貌白光干涉儀

      SuperViewW微觀3D形貌白光干涉儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測(cè)量精度高、操作
      2025-06-18 15:41:56

      0603白光規(guī)格書

      F.0603.00005白光規(guī)格書，此燈多用于數(shù)碼顯示屏，背光、指示。
      2025-06-16 10:28:242

      3D白光干涉輪廓儀

      SuperViewW系列3D白光干涉輪廓儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸?？蓽y(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度
      2025-06-10 17:42:52

      中圖白光共聚焦顯微鏡

      中圖白光共聚焦顯微鏡以白光LED為光源，主要用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量。它以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ)，結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D重建算法，共同組成測(cè)量系統(tǒng)，保證儀器的高測(cè)量精度。中
      2025-06-10 16:27:04

      高精度3D白光干涉儀

      SuperViewW高精度3D白光干涉儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑
      2025-06-05 10:37:33

      引進(jìn)白光干涉儀管控微流控芯片形貌，性能大幅提升

      白光干涉儀納米級(jí)管控微流控芯片表面粗糙度，以及微流道高度和寬度，提升微流控產(chǎn)品性能與質(zhì)量，滿足不同客戶需求。
      2025-05-29 17:34:05584

      白光形貌干涉儀

      SuperViewW白光形貌干涉儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短
      2025-05-23 14:53:50

      光學(xué)表面輪廓白光干涉儀

      SuperViewW光學(xué)表面輪廓白光干涉儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程
      2025-05-21 14:37:13

      優(yōu)可測(cè)白光干涉儀AM系列：量化管控納米級(jí)粗糙度，位移傳感器關(guān)鍵零件壽命提升50%

      位移傳感器模組的編碼盤，其粗糙度及碼道的刻蝕深度和寬度，會(huì)對(duì)性能帶來(lái)關(guān)鍵性影響。優(yōu)可測(cè)白光干涉儀精確測(cè)量表面粗糙度以及刻蝕形貌尺寸，精度最高可達(dá)亞納米級(jí)，解決產(chǎn)品工藝特性以及量化管控。
      2025-05-21 13:00:14828

      白光干涉3D形貌儀

      SuperViewW白光干涉3D形貌儀以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。它結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件
      2025-05-15 14:38:17

      案例解析||照明LED的失效模式問(wèn)題及改善措施

      LED是一種直接將電能轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光和輻射能的發(fā)光器件，具有耗電量小、發(fā)光效率高、體積小等優(yōu)點(diǎn)，目前已經(jīng)逐漸成為了一種新型高效節(jié)能產(chǎn)品，并且被廣泛應(yīng)用于顯示、照明、背光等諸多領(lǐng)域。近年來(lái)，隨著LED
      2025-05-09 16:51:23690

      高精度光學(xué)輪廓白光干涉儀

      SuperViewW系列高精度光學(xué)輪廓白光干涉儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從
      2025-05-06 18:00:44

      納米級(jí)形貌快速測(cè)量，優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力摩擦磨損學(xué)科發(fā)展

      研究摩擦學(xué)，能帶來(lái)什么價(jià)值？從摩擦磨損到亞納米級(jí)精度，白光干涉儀如何參與摩擦學(xué)發(fā)展？
      2025-04-21 12:02:181128

      白光干涉3d表面形貌儀

      中圖儀器SuperViewW系列白光干涉3d表面形貌儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝
      2025-04-21 10:41:56

      3D白光干涉顯微測(cè)量?jī)x

      中圖儀器3D白光干涉顯微測(cè)量?jī)x具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種
      2025-04-18 14:27:22

      白光干涉非接觸式粗糙度儀

      SuperViewW白光干涉非接觸式粗糙度儀以白光干涉技術(shù)為原理，用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量?？蓽y(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度
      2025-04-09 17:35:52

      白光干涉光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x

      SuperViewW白光干涉光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料
      2025-03-28 16:29:29

      一鍵對(duì)焦+一鍵調(diào)平，測(cè)量效率提升7倍 | 優(yōu)可測(cè)全新旗艦白光干涉儀發(fā)布

      測(cè)量精度小于1納米，性能進(jìn)入全球一梯隊(duì)，優(yōu)可測(cè)旗艦白光干涉儀發(fā)布
      2025-03-27 11:03:581024

      白光干涉三維光學(xué)形貌儀

      中圖儀器SuperViewW白光干涉三維光學(xué)形貌儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工
      2025-03-18 13:28:32

      CAB450M12XM3工業(yè)級(jí)SiC半橋功率模塊CREE

      CAB450M12XM3工業(yè)級(jí)SiC半橋功率模塊CREE CAB450M12XM3是Wolfspeed（原CREE）精心打造的一款工業(yè)級(jí)全碳化硅（SiC）半橋功率模塊，專為高功率密度、極端高溫環(huán)境
      2025-03-17 09:59:21

      桌面式白光干涉光學(xué)輪廓儀

      中圖儀器SuperViewW桌面式白光干涉光學(xué)輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。它具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全
      2025-03-11 13:58:26

      白光直接照到dmd上，透射一張白色圖片為什么會(huì)出現(xiàn)這么多顏色？

      白光直接照到dmd上 透射一張白色圖片 為什么會(huì)出現(xiàn)這么多顏色 理論上不是只有向右反射出白方塊嗎
      2025-02-28 07:36:26

      dlp4500跑官方Demo投影棋盤格頻閃如何解決？

      我正在用DLP4500跑3D_Scanner_Lcr4500_PGcam，在相機(jī)標(biāo)定和系統(tǒng)標(biāo)定這一塊投影儀打出來(lái)的白光和棋盤格出現(xiàn)頻閃的情況，請(qǐng)問(wèn)如何解決呢？接線沒(méi)有問(wèn)題的，之前用過(guò)幾次是好的，最近開(kāi)始出現(xiàn)這樣的問(wèn)題
      2025-02-28 07:31:16

      調(diào)試DLP4710遇到只亮暗白光，不顯示內(nèi)容的問(wèn)題，怎么解決？

      請(qǐng)問(wèn)一下我在調(diào)試DLP4710遇到只亮暗白光，不顯示內(nèi)容，用軟件去讀寫是DMD不啟動(dòng)，測(cè)試DMD輸出的波形都是正常 請(qǐng)問(wèn)一下大家是什么問(wèn)題導(dǎo)致的
      2025-02-28 06:13:52

      非接觸式3D白光干涉儀

      SuperViewW非接觸式3D白光干涉儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑
      2025-02-27 15:54:20

      請(qǐng)問(wèn)光源三基色功率配比是按照合成白光時(shí)來(lái)計(jì)算的嗎？

      請(qǐng)問(wèn)光源三基色功率配比是按照合成白光時(shí)來(lái)計(jì)算的嗎？
      2025-02-27 08:41:51

      入駐眾多科研機(jī)構(gòu)，優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力前沿成果發(fā)布

      近年來(lái)，優(yōu)可測(cè)白光干涉儀在科研領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用，被多篇科研論文使用，在CFRP/Al鉆孔監(jiān)測(cè)、光纖微透鏡制造、超快3D打印等領(lǐng)域的研究成果，展示了其在高精度檢測(cè)方面的優(yōu)勢(shì)。
      2025-02-24 17:02:211112

      DLP4500不能投射圖片，只顯示白光是為什么？

      DLP4500評(píng)估板，按照應(yīng)用手冊(cè)操作，不能投射圖片，只顯示白光；TI官網(wǎng)下載的BIN文件，燒錄進(jìn)去也不能投射出圖
      2025-02-21 15:10:32

      氧化鎵襯底表面粗糙度和三維形貌，優(yōu)可測(cè)白光干涉儀檢測(cè)時(shí)長(zhǎng)縮短至秒級(jí)！

      傳統(tǒng)AFM檢測(cè)氧化鎵表面三維形貌和粗糙度需要20分鐘左右，優(yōu)可測(cè)白光干涉儀檢測(cè)方案僅需3秒，百倍提升檢測(cè)效率！
      2025-02-08 17:33:50994

      白光干涉儀的膜厚測(cè)量模式原理

      白光干涉儀的膜厚測(cè)量模式原理主要基于光的干涉原理，通過(guò)測(cè)量反射光波的相位差或干涉條紋的變化來(lái)精確計(jì)算薄膜的厚度。以下是該原理的詳細(xì)解釋： 一、基本原理 當(dāng)光線照射到薄膜表面時(shí)，部分光線會(huì)在薄膜表面
      2025-02-08 14:24:34508

      白光干涉儀的光譜干涉模式原理

      白光干涉儀的光譜干涉模式原理主要基于光的干涉和光譜分析。以下是對(duì)該原理的詳細(xì)解釋： 一、基本原理 白光干涉儀利用干涉原理測(cè)量光程之差，從而測(cè)定有關(guān)物理量。在光譜干涉模式中，白光作為光源，其發(fā)出的光
      2025-02-07 15:11:00563

      白光LED熒光粉合成途徑與光學(xué)性能研究

      熒光粉是制作白光LED中一個(gè)非常關(guān)鍵的材料，它的性能直接影響白光LED的亮度、色坐標(biāo)、色溫及顯色性等。因而開(kāi)發(fā)具有良好發(fā)光特性的熒光粉是得到高亮度、高發(fā)光效率、高顯色性白光LED的關(guān)鍵所在。熒光粉
      2025-02-07 14:05:381453

      白光干涉儀中的VSI和PSI以及VXI模式的區(qū)別

      白光干涉儀是一種高精度的光學(xué)測(cè)量?jī)x器，它利用白光干涉原理來(lái)測(cè)量物體表面的形貌和高度等信息。在白光干涉儀中，垂直掃描干涉測(cè)量模式（VSI）、相移干涉測(cè)量模式（PSI）以及結(jié)合VSI和PSI的高分辨測(cè)量
      2025-02-06 10:39:28541

      邁克耳孫干涉儀白光等傾干涉的實(shí)現(xiàn)、條紋特征及形成機(jī)理

      邁克耳孫干涉儀白光等傾干涉的實(shí)現(xiàn)、條紋特征及形成機(jī)理是光學(xué)研究中的重要內(nèi)容。以下是對(duì)這些方面的詳細(xì)解釋： 一、邁克耳孫干涉儀白光等傾干涉的實(shí)現(xiàn) 邁克耳孫干涉儀利用分振幅法產(chǎn)生雙光束以實(shí)現(xiàn)干涉。在白光
      2025-01-23 14:58:48585

      白光干涉為什么對(duì)于環(huán)境防振要求那么高

      白光干涉對(duì)于環(huán)境防振要求高的原因，主要可以從其測(cè)量原理和應(yīng)用需求兩個(gè)方面來(lái)解釋。 一、測(cè)量原理 白光干涉儀是利用干涉原理測(cè)量光程之差從而測(cè)定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。光源發(fā)出的光經(jīng)過(guò)擴(kuò)束準(zhǔn)直后經(jīng)分光棱鏡
      2025-01-22 14:23:18342

      為什么說(shuō)白光干涉的掃描高度受限

      白光干涉的掃描高度受限，主要是由于其測(cè)量原理和技術(shù)特點(diǎn)所決定的。以下是對(duì)這一問(wèn)題的詳細(xì)解釋： 一、白光干涉的測(cè)量原理 白光干涉技術(shù)是一種基于光的波動(dòng)性進(jìn)行測(cè)量的技術(shù)。當(dāng)兩束或多束相干光波在空間某點(diǎn)
      2025-01-21 14:30:08461

      通過(guò)改變光的偏振態(tài)，從而實(shí)現(xiàn)白光干涉中的光學(xué)相移原理

      通過(guò)改變光的偏振態(tài)，從而實(shí)現(xiàn)白光干涉中的光學(xué)相移原理，是一個(gè)涉及光學(xué)原理和技術(shù)的復(fù)雜過(guò)程。以下是對(duì)這一過(guò)程的詳細(xì)解釋： 一、光的偏振態(tài)與白光干涉 光的偏振是指光波在傳播過(guò)程中，光矢量的方向和大小
      2025-01-16 09:25:37415

      基于光偏振與光學(xué)調(diào)制實(shí)現(xiàn)白光干涉相移

      基于光的偏振特性和一些光學(xué)元件對(duì)光的調(diào)制作用，實(shí)現(xiàn)白光干涉中的光學(xué)相移原理是一個(gè)復(fù)雜而精細(xì)的過(guò)程。以下是對(duì)這一原理的詳細(xì)解釋： 一、光的偏振特性 光的偏振是指光波在傳播過(guò)程中，光矢量的方向和大小
      2025-01-15 15:07:54397

      關(guān)于白光干涉儀的常見(jiàn)提問(wèn)及回答

      原理相關(guān)1、白光干涉儀的基本原理是什么：白光干涉儀的基本原理是利用光學(xué)干涉原理。光源發(fā)出的光經(jīng)過(guò)擴(kuò)束準(zhǔn)直后經(jīng)分光棱鏡分成兩束，一束光經(jīng)被測(cè)表面反射回來(lái)，另一束光經(jīng)參考鏡反射，兩束反射光最終匯聚并發(fā)
      2025-01-09 16:02:321699

      反射鏡的移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)白光干涉中的機(jī)械相移原理

      在白光干涉測(cè)量中，通過(guò)反射鏡的移動(dòng)來(lái)實(shí)現(xiàn)機(jī)械相移原理是一種常見(jiàn)且有效的方法。以下是對(duì)這一原理的詳細(xì)解釋： 一、基本原理 白光干涉測(cè)量技術(shù)基于光的波動(dòng)性和相干性原理。當(dāng)兩束相干光波在空間某點(diǎn)相遇
      2025-01-09 10:42:24317

      通過(guò)樣品臺(tái)的移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)白光干涉中的機(jī)械相移原理

      在白光干涉測(cè)量技術(shù)中，通過(guò)樣品臺(tái)的移動(dòng)來(lái)實(shí)現(xiàn)機(jī)械相移原理是一種常用的且高精度的方法。這種方法基于光的波動(dòng)性和相干性，通過(guò)改變樣品臺(tái)的位置，即改變待測(cè)光線與參考光線之間的光程差，來(lái)實(shí)現(xiàn)相位調(diào)制，從而
      2025-01-08 10:37:39359

      光學(xué)元件的插入與移除，實(shí)現(xiàn)白光干涉中的機(jī)械相移原理

      在白光干涉測(cè)量中，通過(guò)光學(xué)元件的插入與移除來(lái)實(shí)現(xiàn)機(jī)械相移原理是一種獨(dú)特而有效的方法。這種方法的核心在于利用光學(xué)元件（如透鏡、反射鏡、棱鏡等）對(duì)光路的改變，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)相位差的調(diào)制。以下是對(duì)這一
      2025-01-07 10:48:03396

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