，小編將詳細(xì)為大家解讀地漂的定義和危害，以及如何使用高性能電源進(jìn)行地漂測(cè)試。 地漂的定義及危害 地漂是一種汽車各控制器接地負(fù)電位之間存在電壓差的現(xiàn)象。蓄電池是汽車內(nèi)部能提供持續(xù)電能的主要來源，車內(nèi)控制器的供電通常直接或間接
2024-03-12 16:46:52
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，小編將詳細(xì)為大家解讀地漂的定義和危害，以及如何使用高性能電源進(jìn)行地漂測(cè)試。 地漂的定義及危害 地漂是一種汽車各控制器接地負(fù)電位之間存在電壓差的現(xiàn)象。蓄電池是汽車內(nèi)部能提供持續(xù)電能的主要來源，車內(nèi)控制器的供電通常直接或間接
2024-03-11 17:29:2882 
實(shí)驗(yàn)名稱：ATA-4051高壓功率放大器在非共振式壓電直線電機(jī)性能測(cè)試中的應(yīng)用
研究方向：壓電驅(qū)動(dòng)
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：基于壓電疊堆驅(qū)動(dòng)的非共振式壓電直線電機(jī)的性能測(cè)試，壓電直線電機(jī)結(jié)構(gòu)使用二級(jí)
2024-03-08 17:38:14
介紹DDR一致性的操作步驟。 1. 準(zhǔn)備測(cè)試環(huán)境：首先，需要準(zhǔn)備好測(cè)試環(huán)境。這包括一臺(tái)DDR一致性測(cè)試設(shè)備，該設(shè)備通常是專門為DDR測(cè)試設(shè)計(jì)的高性能工具。還需要一個(gè)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)用于連接和控制測(cè)試設(shè)備。 2. 確定測(cè)試需求：在開始DDR一致性測(cè)試之前，需
2024-02-01 16:24:52206 ADS8320SHKJ: 高性能模數(shù)轉(zhuǎn)換器助力精準(zhǔn)測(cè)量與信號(hào)處理在現(xiàn)代電子領(lǐng)域中，高性能模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）扮演著至關(guān)重要的角色。作為一家專業(yè)的芯片貿(mào)易商，我們非常榮幸地向您推薦TI品牌
2024-01-31 13:48:31
光模塊是一種將電信號(hào)轉(zhuǎn)換為光信號(hào)或?qū)⒐庑盘?hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)的設(shè)備，它在光通信系統(tǒng)中起著重要的作用。為了保證光模塊的正常工作，我們需要對(duì)其進(jìn)行性能測(cè)試，檢測(cè)其是否符合相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。那么，如何測(cè)試光模塊的性能呢？本文將為您介紹一些常用的光模塊測(cè)試方法及測(cè)試測(cè)量設(shè)備。
2024-01-30 09:03:13474 
在材料科學(xué)和工程領(lǐng)域，動(dòng)態(tài)力學(xué)熱分析（DSC）是一種重要的實(shí)驗(yàn)工具，用于研究材料的熱力學(xué)性能和動(dòng)力學(xué)行為。DSC通過在受控溫度下測(cè)量材料對(duì)熱能吸收或釋放的能力，為研究者提供有關(guān)材料熱穩(wěn)定性和物理特性
2024-01-26 10:48:23116 
DSC差熱掃描儀，一種在科研和工業(yè)領(lǐng)域廣泛應(yīng)用的高效分析工具，以其獨(dú)特的檢測(cè)方式揭示了物質(zhì)的熱行為。它不僅在學(xué)術(shù)研究中為科學(xué)家們提供了深入理解物質(zhì)性質(zhì)的手段，還在工業(yè)生產(chǎn)中為優(yōu)化產(chǎn)品性能和提升生產(chǎn)
2024-01-16 15:09:58125 
DDR5已經(jīng)開始商用，但是有的產(chǎn)品還才開始使用DDR4。本文分享一些DDR4的測(cè)試內(nèi)容。DDR4 和前代的 DDR3 相比， 它的速度大幅提升，最高可以達(dá)到 3200Mb/s,這樣高速的信號(hào)，對(duì)信號(hào)完整性的要求就更加嚴(yán)格，JESD79‐4 規(guī)范也對(duì) DDR4 信號(hào)的測(cè)量提出了一些要求。
2024-01-08 09:18:24463 
差示掃描量熱儀DSC是在程序控制溫度下，測(cè)量輸入到試樣和參比物之間熱量差（dH/dt）與溫度（T）的關(guān)系的一種技術(shù)?？梢?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)量樣品吸熱和放熱與溫度或時(shí)間的關(guān)系。其應(yīng)用的領(lǐng)域很廣泛，比如：醫(yī)藥、塑料
2023-12-25 14:22:18175 
問題一：AD9949內(nèi)部的12高性能位ADC是什么類型的，如逐次逼近型、Sigma-Delta型等；
問題二：AD9949中提到了很多的增益調(diào)整，我有點(diǎn)搞暈了，比如我的輸入信號(hào)是1Vp-p，經(jīng)過
2023-12-25 07:45:00
羅德與施瓦茨（以下簡(jiǎn)稱R&S）此前推出面向未來汽車?yán)走_(dá)傳感器的測(cè)試解決方案ATS1500C，該解決方案主要針對(duì)汽車?yán)走_(dá)模塊的無線射頻性能測(cè)量。面對(duì)市場(chǎng)的廣泛需求，R&S推出新的溫控選件 R&SARC-TEMP，使得 ATS1500C成為市場(chǎng)上最完整、最獨(dú)特的汽車?yán)走_(dá)測(cè)試環(huán)境。
2023-12-22 13:34:43362 工具。
Dhrystone基準(zhǔn)測(cè)試程序主要用于衡量計(jì)算機(jī)處理器的整數(shù)運(yùn)算性能。它通過測(cè)量計(jì)算機(jī)在特定條件下執(zhí)行一系列整數(shù)運(yùn)算的速度來評(píng)估處理器的性能。這些整數(shù)運(yùn)算包括賦值、算術(shù)運(yùn)算、邏輯運(yùn)算、數(shù)組操作等
2023-12-20 22:14:50
tga-dsc同步熱分析儀是一款可以同時(shí)采集兩種信號(hào)的熱分析儀器，適用于多種材料的熱性質(zhì)和相變行為的研究，具有精度高、測(cè)量效率高、可以進(jìn)行高溫測(cè)試，測(cè)試溫度可達(dá)1550℃，滿足不同材料的測(cè)試需求
2023-12-15 11:43:06180 
差示掃描量熱儀dsc是一款熱分析儀器，在程序的控溫下，測(cè)量物質(zhì)與參比物之間單位時(shí)間的能力差隨溫度變化的一種技術(shù)。而差示掃描量熱儀分為熱流型、功率補(bǔ)償型、溫度調(diào)制型三種類型。1、熱流型。熱流型差示掃描
2023-12-13 11:48:44323 
您好
我在一個(gè)項(xiàng)目中選用ADA2200來進(jìn)行相關(guān)檢測(cè)，需要測(cè)量出傳感器輸入信號(hào)的幅度及相位。
1、由于無法保證短時(shí)間內(nèi)的幅度不變，因此我想用2片ADA2200來實(shí)現(xiàn)，一片是同相檢測(cè)，另一片是正交
2023-12-13 09:13:02
我在官網(wǎng)下載了ADA2200 的PSPICE 模型并加載到LTSPICE 仿真軟件中，在執(zhí)行仿真命令時(shí)提示 undefined subcircuit ：：。不知道是否哪里出錯(cuò)了。。。
2023-12-05 07:31:35
CS5565是一款高性能Type-C/DisplayPort 1.4到HDMI 2.1協(xié)議轉(zhuǎn)換器，支持DSC1.1/1.2a壓縮視頻采用FEC解碼的傳輸，以確保無視覺故障的DSC傳輸。HDMI支持
2023-12-04 10:24:04
2 。與此同時(shí)，多總線通信的需求日益增長(zhǎng)，通信數(shù)據(jù)量也逐步增多。這樣的趨勢(shì)導(dǎo)致測(cè)試系統(tǒng)對(duì)于測(cè)試工具性能的要求也隨之提高。為了滿足這些需求，除了配置高性能電腦外，CANoe也
2023-11-30 08:24:53265 
華昕 H-YF6 系列差分晶振是一款為滿足高性能時(shí)鐘信號(hào)需求而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品。其低相位早上和低抖動(dòng)使其成為通訊信息、測(cè)量和GPS定位等領(lǐng)域的理想選擇
2023-11-15 16:41:49297 
。與此同時(shí)，多總線通信的需求日益增長(zhǎng)，通信數(shù)據(jù)量也逐步增多。這樣的趨勢(shì)導(dǎo)致測(cè)試系統(tǒng)對(duì)于測(cè)試工具性能的要求也隨之提高。為了滿足這些需求，除了配置高性能電腦外，CANoe也提供多種解決方案供用戶選擇，以應(yīng)對(duì)不同的應(yīng)用場(chǎng)景。
2023-11-15 12:42:35718 
ArmSoM-W3-Debian版本的固件。
開發(fā)板均接入串口，保存壓力測(cè)試時(shí)串口打印的log。查看開發(fā)板在DDR壓力測(cè)試期間是否異常。
運(yùn)行RK官方的DDR壓力測(cè)試腳本，同時(shí)對(duì)DDR進(jìn)行三項(xiàng)壓力測(cè)試
測(cè)試結(jié)果：進(jìn)行了24
2023-10-09 19:29:50
通信，使得系統(tǒng)能夠靈活地適配不同類 型的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)或微處理器，具有極高度的通用性和可移植性。
*模型對(duì)驗(yàn)證集圖片的識(shí)別效果
*部分作品內(nèi)容演示
項(xiàng)目創(chuàng)新點(diǎn)：
一：高性能全自主DDR-DMA
在
2023-09-21 17:34:51
從而確保內(nèi)存穩(wěn)定，另外，DDR4內(nèi)存的金手指設(shè)計(jì)也有明顯變化，金手指中間的防呆缺口也比DDR3更加靠近中央。當(dāng)然，DDR4最重要的使命還是提高頻率和帶寬，總體來說，DDR4具有更高的性能，更好的穩(wěn)定性和更低的功耗，那么從SI的角度出發(fā)，主要有下面幾點(diǎn), 下面章節(jié)對(duì)主要的幾個(gè)不同點(diǎn)進(jìn)行說明。
2023-09-19 14:49:441478 
SJ5730中圖粗糙度輪廓度測(cè)量儀采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，能實(shí)現(xiàn)對(duì)軸承及工件表面粗糙度和輪廓的高精度測(cè)量和分析
2023-09-19 14:19:27
，對(duì)包裝材料進(jìn)行熱封性能的檢測(cè)和評(píng)估，以確保其在使用過程中具有良好的熱封性能和密封性。 熱封性能測(cè)試儀主要由以下幾個(gè)部分組成： 測(cè)試主機(jī)：測(cè)試主機(jī)是設(shè)
2023-09-15 15:38:39
高性能電流輸入 μModule ADA4355可提供測(cè)量高速/低電平電流的儀器級(jí)性能，其封裝尺寸為業(yè)界較小，可節(jié)省75%的空間。
2023-09-15 12:44:15313 在全默認(rèn)設(shè)置的情況下，影馳HOF OC Lab幻跡S DDR5 8000內(nèi)存的工作速率為DDR5 4800，延遲設(shè)定為40-40-40-76，因此在這個(gè)設(shè)置下它的內(nèi)存性能并不突出，與普通的DDR5 4800內(nèi)存相當(dāng)。
2023-09-15 10:40:42750 
的。右側(cè)就是電機(jī)接口和一排拓展接口，還有一個(gè)USB轉(zhuǎn)串口燒錄功能。
今天做了上電測(cè)試，下面是圖片：
Start_DSC28034PNT湖人開發(fā)板還贈(zèng)送了一個(gè)仿真調(diào)試器，不過實(shí)際使用比較的難用。
2023-09-12 12:09:54
本文介紹一個(gè)FPGA開源項(xiàng)目：DDR3讀寫。該工程基于MIG控制器IP核對(duì)FPGA DDR3實(shí)現(xiàn)讀寫操作。
2023-09-01 16:23:19741 
本文開源一個(gè)FPGA項(xiàng)目：基于AXI總線的DDR3讀寫。之前的一篇文章介紹了DDR3簡(jiǎn)單用戶接口的讀寫方式：《DDR3讀寫測(cè)試》，如果在某些項(xiàng)目中，我們需要把DDR掛載到AXI總線上，那就要通過MIG IP核提供的AXI接口來讀寫DDR。
2023-09-01 16:20:371887 
設(shè)計(jì)、存儲(chǔ)器先進(jìn)封裝與測(cè)試等核心技術(shù)與能力，公司推出了一系列消費(fèi)級(jí)存儲(chǔ)產(chǎn)品，獲得用戶及權(quán)威評(píng)測(cè)機(jī)構(gòu)的廣泛認(rèn)可與好評(píng)。 文 章 轉(zhuǎn)載自什么值得買，評(píng)測(cè)博主硬核君 前言： DDR5內(nèi)存條是目前PC時(shí)代的主流，性能優(yōu)異，對(duì)于追求高性能的用戶，DDR5肉眼可見
2023-08-31 18:00:04460 
基準(zhǔn)是衡量最流行的消費(fèi)設(shè)備中CPU性能的重要工具，尤其是在包括數(shù)字電視(DTV)和機(jī)頂盒(STB)在內(nèi)的家庭領(lǐng)域。
然而，基準(zhǔn)正在以快速的速度發(fā)展，從獨(dú)立的測(cè)量轉(zhuǎn)向考慮真實(shí)世界的用例，以獲得更準(zhǔn)確
2023-08-28 07:02:32
HPM是一個(gè)高度可配置的自動(dòng)生成的AMBA 3總線子系統(tǒng)，基于稱為AXI總線矩陣的高性能AXI交叉開關(guān)，并由AMBA基礎(chǔ)設(shè)施組件進(jìn)行擴(kuò)展。
有關(guān)這些組件的信息，請(qǐng)參閱PrimeCell高性能矩陣
2023-08-22 06:22:10
m1200和m2200的區(qū)別 M1200和M2200是兩款性能較為優(yōu)秀的顯卡，它們都是由美國(guó)公司Nvidia生產(chǎn)制造的。它們的主要區(qū)別在于面向的不同市場(chǎng)和應(yīng)用場(chǎng)景，以及在硬件性能上的差異。 首先
2023-08-17 11:09:372985 板子是DDR200T,在nuclei studio ide中運(yùn)行GPIO中，
已成功運(yùn)行過helloworld串口打印，但是在GPIO實(shí)驗(yàn)一直是這個(gè)問題
多次插拔都不行，編譯沒問題
下載模式?jīng)]問題
2023-08-12 07:30:32
DSC28034PNT-搭建環(huán)境推薦以u(píng)sart串口燒錄下載
DSC28034PNT作為一款高性能嵌入式開發(fā)平臺(tái)，廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域。
在開發(fā)過程中，一個(gè)高效穩(wěn)定的燒錄下載環(huán)境至關(guān)重要。
本報(bào)告將
2023-08-05 09:29:55
導(dǎo)入工程
E:\\\\BOARD\\\\Start_DSC28034PNT\\\\hx2000-examples-master\\\\hx2000-examples-master
2023-08-01 23:55:57
芯動(dòng)聯(lián)科主要從事高性能本土化MEMS傳感器的研發(fā)，主要產(chǎn)品為高性能MEMS慣性傳感器，包括MEMS陀螺儀及MEMS加速度計(jì)，在無人系統(tǒng)、信息通訊、自動(dòng)駕駛、石油勘探、高速鐵路、測(cè)量測(cè)繪等場(chǎng)景應(yīng)用廣泛。
2023-08-01 09:27:16352 燈的控制。該項(xiàng)目不僅為用戶提供了一個(gè)簡(jiǎn)單易用的光照控制方案，還展示了DSC28034PNT在嵌入式應(yīng)用中的高性能和靈活性。
2023-07-31 21:42:54
DSC28034PNT-開箱并點(diǎn)亮LED
開箱
DSC28034PNT 結(jié)合了數(shù)字信號(hào)處理器 (DSP) 和微控制器 (MCU) 的特點(diǎn)，旨在提供高性能的實(shí)時(shí)信號(hào)處理和控制功能
2023-07-29 15:46:11
【Start_DSC28034PNT湖人開發(fā)板免費(fèi)體驗(yàn)】+開箱測(cè)試
硬件資源介紹
上圖是測(cè)試板卡，下圖是官方板卡的硬件接口圖，除了layout有點(diǎn)不同其他都一樣。
板卡版本
2023-07-28 14:37:39
最先進(jìn)的人工智能模型
在不到五年的時(shí)間內(nèi)經(jīng)歷了超過 5，000 倍的規(guī)模擴(kuò)展。這些 AI 模型嚴(yán)重依賴復(fù)雜的計(jì)算和大量?jī)?nèi)存來實(shí)現(xiàn)
高性能深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) （DNN）。只有使用 CPU、GPU 或?qū)Ｓ眯酒?/div>
2023-07-28 10:10:17
CHOTEST中圖儀器PO系列數(shù)控機(jī)床在機(jī)測(cè)量系統(tǒng)也就是機(jī)床測(cè)頭，可以用于精密測(cè)量和檢測(cè)應(yīng)用。比如，在汽車零部件加工中，可以使用測(cè)頭對(duì)發(fā)動(dòng)機(jī)曲軸箱等關(guān)鍵部位進(jìn)行精密測(cè)量和檢測(cè)，以確保其質(zhì)量和可靠性
2023-07-26 13:29:40
【昉·星光 2 高性能RISC-V單板計(jì)算機(jī)體驗(yàn)】+3、系統(tǒng)功能測(cè)試
2023-07-26 08:59:52896 
高性能計(jì)算機(jī)整體性能指標(biāo)等。 目前云平臺(tái)上已經(jīng)移植了三項(xiàng)Benchmark測(cè)試：Stream、UnixBench、CoreMark-PRO。更多測(cè)試項(xiàng)目和體系建設(shè)正在進(jìn)行，并正在招聘實(shí)習(xí)生，歡迎參與（可加微信iYuta-R2進(jìn)一步溝通了解）。 本文先介紹已經(jīng)完成的三項(xiàng)測(cè)試的結(jié)果，如果您對(duì)結(jié)
2023-07-20 14:30:01498 
《基于“礦板”低成本學(xué)習(xí)Zynq系列》之六-DDR測(cè)試
2023-07-19 19:19:441741 
要測(cè)試精密儀器儀表，需要使用超低失真、低噪聲、高性能的信號(hào)發(fā)生器。新的產(chǎn)品通常需要保證性能指標(biāo)在較高的水平。
2023-07-11 11:03:44286 
IPS2200 R_74 參考設(shè)計(jì)測(cè)量報(bào)告
2023-07-05 18:34:050 DSC差熱分析案例：UV膠水固化度測(cè)定UV膠水固化率，為表征UV膠水固化程度的重要參數(shù)之一，DSC測(cè)試方法原理如下：UV膠水固化率=原膠的總固化焓-樣品的剩余固化焓)/原膠的總固化焓*100%;因此
2023-07-05 10:04:15534 
近日，杭州廣立微電子股份有限公司正式推出了新一代通用型高性能半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)T4000。該系列產(chǎn)品是對(duì)公司現(xiàn)有并行perpin測(cè)試設(shè)備T4100S的重要補(bǔ)充，能夠覆蓋不同用戶的使用需求。T4000
2023-07-03 11:44:22479 IPS2200 數(shù)據(jù)表
2023-06-30 19:50:040 B1500A/ EasyEXPERT 的產(chǎn)品概念和主要特征。您將了解 B1500A 的概念。
? 模塊 2.基本測(cè)量 此模塊講述基本 I-V 掃描測(cè)量功能和布線及夾具問題。您將在課程練習(xí)中學(xué)習(xí) 如何測(cè)量 I-V 曲線。
? 模塊 3.低電流測(cè)量 此模塊講述低電流測(cè)量技術(shù)。您將在課程練習(xí)中學(xué)習(xí)如何測(cè)量低電
2023-06-26 15:29:4436 參數(shù)表征既需要進(jìn)行電流－電壓（IV）測(cè)量，也需要進(jìn)行電容－電壓（CV）測(cè)量。目前開發(fā)的制程技術(shù)通常
需要通過單通道對(duì)晶圓上器件進(jìn)行精確的 IV 和 CV 測(cè)量。Keysight B1500
2023-06-26 15:27:483 dsc差示掃描量熱儀是一款熱分析儀器，主要工作原理是在溫度程序控制下，測(cè)量試樣相對(duì)于參比物的熱流速度隨溫度變化的一種儀器，簡(jiǎn)稱為dsc。隨著dsc差示掃描量熱儀應(yīng)用發(fā)展速度加快，應(yīng)用在很多行業(yè)，比如
2023-06-19 13:52:44492 
要測(cè)試精密儀器儀表，需要使用超低失真、低噪聲、高性能的信號(hào)發(fā)生器。新的產(chǎn)品通常需要保證性能指標(biāo)在較高的水平。有些參考設(shè)計(jì)（例如 ADMX1002?）利用高性能精密數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)簡(jiǎn)化了這一
2023-06-14 16:33:00443 
成分發(fā)生玻璃化轉(zhuǎn)變時(shí)，PCB的整體力學(xué)性能和介電性能大幅減弱，故此PCB需要足夠高的Tg。DSC是測(cè)試Tg最為普遍的一種熱分析手段，在發(fā)生玻璃化轉(zhuǎn)變的過程中，樣品的
2023-06-02 09:37:21753 我正在優(yōu)化啟動(dòng)速度，ddr 訓(xùn)練在 SPL 中需要 360ms，所以我想跳過它。
我厭倦了在 ddr 訓(xùn)練后注意 ddrphy_trained_csr[] 和 g_cdd_max[]，注釋掉 ddr
2023-06-01 08:16:47
數(shù)據(jù)中心、存儲(chǔ)、汽車和其他新興市場(chǎng)應(yīng)用的增長(zhǎng)正在推動(dòng)下一代內(nèi)存技術(shù)（DDR5、LPDDR5）的發(fā)展。與其前輩一樣，最新的內(nèi)存技術(shù)也使用內(nèi)存控制器和PHY之間的標(biāo)準(zhǔn)接口DFI，以降低集成成本并提高性能
2023-05-26 11:13:401827 
頭發(fā)熱嚴(yán)重造成觸頭周圍絕緣零件燒損，因此在預(yù)防性試驗(yàn)中需要定期對(duì)接觸電阻測(cè)量。
根據(jù)電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程的要求和電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，各種開關(guān)設(shè)備的導(dǎo)電回路電阻測(cè)試，其測(cè)試電流不得小于100A，應(yīng)采用直流壓
2023-05-26 10:30:30
等物理或化學(xué)反應(yīng)。 dsc差示掃描量熱儀怎么選？目前市場(chǎng)上分為：進(jìn)口品牌和國(guó)產(chǎn)品牌，隨著近幾年國(guó)產(chǎn)儀器性能的改善，目前從儀器性能到軟件分析都得到很大的提升，因此，針對(duì)一些基本的測(cè)量，國(guó)產(chǎn)dsc差示掃描量熱儀是可以滿足的
2023-05-24 10:55:29745 
產(chǎn)品介紹: DSC測(cè)量的是與材料內(nèi)部熱轉(zhuǎn)變相關(guān)的溫度、熱流的關(guān)系，應(yīng)用范圍非常廣，特別是材料的研發(fā)、性能檢測(cè)與質(zhì)量控制。材料
2023-05-19 15:08:51
產(chǎn)品介紹: DSC測(cè)量的是與材料內(nèi)部熱轉(zhuǎn)變相關(guān)的溫度、熱流的關(guān)系，應(yīng)用范圍非常廣，特別是材料的研發(fā)、性能檢測(cè)與質(zhì)量控制。材料
2023-05-19 14:57:40
產(chǎn)品介紹: DSC測(cè)量的是與材料內(nèi)部熱轉(zhuǎn)變相關(guān)的溫度、熱流的關(guān)系，應(yīng)用范圍非常廣，特別是材料的研發(fā)、性能檢測(cè)與質(zhì)量控制。材料
2023-05-19 14:54:56
產(chǎn)品介紹: DSC測(cè)量的是與材料內(nèi)部熱轉(zhuǎn)變相關(guān)的溫度、熱流的關(guān)系，應(yīng)用范圍非常廣，特別是材料的研發(fā)、性能檢測(cè)與質(zhì)量
2023-05-19 14:52:02
Start_DSC28034PNT開發(fā)板使用了昊芯HXS320F28034PNT RISC-V DSP芯片，該芯片集成了昊芯自主研發(fā)的H28x內(nèi)核，基于昊芯高性能H28x內(nèi)核
2023-05-19 10:50:16
的偏置量，使同樣的機(jī)床能加工出更高精度的零件。 中圖儀器PO40機(jī)床在機(jī)測(cè)量系統(tǒng)是一款具有 3 維 5 向探測(cè)功能的紅外觸發(fā)機(jī)床測(cè)頭，具有體積小、精度高、
2023-05-17 14:41:23
QPQ2200Q產(chǎn)品簡(jiǎn)介Qorvo 的 QPQ2200Q 是一款高性能、高功率體聲波 (BAW) 帶通濾波器，具有極陡的裙邊，同時(shí)在 C-V2X 頻段 (B47) 中表現(xiàn)出低損耗，在帶外 (OOB
2023-05-16 14:42:04
我們使用 mx6ul 14x14_evk 板和 DDR3L。
通過在 u-boot 中設(shè)置 mx6ul_14x14_evk_defconfig，DDR3L 時(shí)鐘運(yùn)行在 400MHZ。
我們想將
2023-05-08 08:44:36
/MCK0_B) 感到有點(diǎn)困惑。
在上一代相同的主板上，啟動(dòng)并運(yùn)行不同的 DDR4 內(nèi)存，我們可以按預(yù)期測(cè)量 DDR 時(shí)鐘。
我們了解 NXP 是否無法支持特定的內(nèi)存配置，但我們想知道在 LS1046A
2023-05-06 08:20:49
上海和晟DSC-TGA近期測(cè)試數(shù)據(jù)
2023-05-04 17:13:440 UPA2200T1M 數(shù)據(jù)表
2023-04-26 20:10:010 合作伙伴，受邀參與該次大會(huì)，并在大會(huì)論壇上分享了先楫高性能MCU搭載OpenHarmony系統(tǒng)在工業(yè)終端的應(yīng)用。
OpenHarmony開源兩年多，吸引了130多家伙伴、超過5100名開發(fā)者參與
2023-04-23 15:01:44
英國(guó)真尚有ZLDS210輪廓掃描儀整個(gè)系列涵蓋8個(gè)不同的測(cè)量量程，最小的是100mm，最大的是1300mm，最遠(yuǎn)可測(cè)2米處的物體。提供4個(gè)不同溫度的版本，分別為可測(cè)表面溫度高達(dá)1000oC、1300oC、1500oC和2200oC的版本。
2023-04-21 15:29:14318 DDR5 已占據(jù)整個(gè) DRAM 市場(chǎng)份額的 10%，2024年則將進(jìn)一步擴(kuò)大至 43%。服務(wù)器市場(chǎng)可能最先推廣DDR5，服務(wù)器市場(chǎng)對(duì)高性能有著絕對(duì)的需求。
2023-04-18 11:36:471604 片上電阻簡(jiǎn)化了印刷電路板 (PCB) 實(shí)現(xiàn)，并能夠在 2GHz 的可用帶寬內(nèi)提供最高性能。此性能使得 LMH3401 非常適合測(cè)試和測(cè)量、寬帶通信以及高速數(shù)據(jù)采集等應(yīng)用。
2023-04-14 13:07:021207 情況測(cè)量，以下為一組硅發(fā)射芯片測(cè)量。 硅發(fā)射芯片主要組件有一維光柵耦合器，可變光衰減器，強(qiáng)度調(diào)制器和偏振調(diào)制器。將芯片和OCI1500連接，進(jìn)行反射率分布測(cè)量。 圖1. 硅發(fā)射芯片鏈路示意圖 在10μm空間分辨率下獲得測(cè)試結(jié)果，其中存在多個(gè)反射
2023-04-11 14:54:38760 德國(guó)GMC-I高美測(cè)儀1500V光伏組件IV曲線和峰值功率測(cè)試儀PROFITESTPV 1500和PROFITEST PV使用符合GB/T18210-2000標(biāo)準(zhǔn)的光伏測(cè)試儀的超大電容負(fù)載，使得被測(cè)裝置的電容特性對(duì)測(cè)量沒有影響，從而獲得高精度的測(cè)量結(jié)果
2023-04-11 11:36:311033 
德國(guó)高美測(cè)儀1500V光伏組件IV曲線測(cè)試儀PROFITEST PV1500：可以達(dá)到1500V，20A DC測(cè)試量程。
2023-04-06 14:24:07623 你好任何人都可以解釋為什么四種 DDR 驗(yàn)證 BIST 測(cè)試類型無法執(zhí)行并且顏色編碼指示“…………測(cè)試腳本中的錯(cuò)誤”？我能夠成功執(zhí)行 DDR 驗(yàn)證階段和其他四種 DDR 驗(yàn)證測(cè)試類型（DMA 測(cè)試
2023-04-06 08:54:58
情況測(cè)量，以下為一組硅發(fā)射芯片測(cè)量。硅發(fā)射芯片主要組件有一維光柵耦合器，可變光衰減器，強(qiáng)度調(diào)制器和偏振調(diào)制器。將芯片和OCI1500連接，進(jìn)行反射率分布測(cè)量。圖1.
2023-04-02 16:53:07380 
高性能肖特基整流器，2 x 6 A
2023-03-28 18:16:46
高性能肖特基整流器，2 x 6 A
2023-03-28 14:58:52
用于高性能應(yīng)用的6軸智能低功耗慣性測(cè)量裝置
2023-03-28 13:50:44
高性能PFC控制器
2023-03-28 13:02:33
高性能同步整流芯片
2023-03-28 12:50:48
高性能、低電流收發(fā)器
2023-03-24 14:49:11
高性能硅柵CMOS
2023-03-24 14:01:37
HAT2200R 數(shù)據(jù)表
2023-03-23 19:17:450 已全部加載完成
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