三坐標(biāo)測量機(jī)的測量精度和工作效率與測針的校準(zhǔn)和選擇緊密關(guān)聯(lián)，在進(jìn)行測量工作之前必須要合理的選擇測針和對測針準(zhǔn)確的校準(zhǔn)，因?yàn)闇y針的測球有自己的尺寸，而測量零件的不同位置可能是用測球的不同位置去接觸零件的，因此，測量的數(shù)據(jù)中含有測球自己的數(shù)值，而測針校準(zhǔn)就是測量測球自己尺寸大小的過程。特別是校準(zhǔn)不同長度和位置的測針時測球校準(zhǔn)結(jié)果球度誤差的大小對測量結(jié)果的影響至關(guān)重要。

　　三坐標(biāo)測針的分類

　　1、球形測針

　　是簡單的一種測針，適用于尺寸，形位，坐標(biāo)測量等大多數(shù)檢測應(yīng)用場合，球直徑普通為0.3-8.0mm，材料主要使用硬度高，耐磨性強(qiáng)的工業(yè)用紅寶石；是應(yīng)用最廣泛的測針類型。球形測針：是簡單的一種測針，適用于尺寸，形位，坐標(biāo)測量等大多數(shù)檢測應(yīng)用場合，球直徑普通為0.3-8.0mm，材料主要使用硬度高，耐磨性強(qiáng)的工業(yè)用紅寶石；是應(yīng)用最廣泛的測針類型。球形測針：是簡單的一種測針，適用于尺寸，形位，坐標(biāo)測量等大多數(shù)檢測應(yīng)用場合，球直徑普通為0.3-8.0mm，材料主要使用硬度高，耐磨性強(qiáng)的工業(yè)用紅寶石；是應(yīng)用最廣泛的測針類型。

　　2、星形測針

　　是由四個或五個紅寶石測球系統(tǒng)牢固的安裝在一個不銹鋼星星測針座上，這類測針可用于測量各種不同的形體結(jié)構(gòu)，是針對復(fù)雜形體和孔的多測尖檢測；其校正運(yùn)用多個測頭，所以可以使測頭活動最小化，并測量旁邊面的孔或槽等；運(yùn)用和球形測頭一樣的辦法進(jìn)行校正。

　　3、柱形測針

　　應(yīng)用于柱形的旁邊面，測量薄斷面間的尺寸、曲線形狀或加工的孔等；只對柱形的斷面偏向的測量有用，軸偏向上測量狀況不良（圓柱形的底部加工成和柱形軸齊心的球容貌時，在軸偏向上的測量也能夠）；運(yùn)用柱形測量高度時，柱形軸和三坐標(biāo)測量機(jī)軸要一致（普通最好在統(tǒng)一斷面內(nèi)進(jìn)行測量）。

　　4、盤形測針

　　在球的中間鄰近截斷做成的盤容貌的測頭；盤形斷面的形象由于是球，所以校正道理和球形測頭一樣；應(yīng)用外側(cè)直徑局部或厚度局部進(jìn)行測量；應(yīng)用于星型測針無法觸及的孔、內(nèi)退刀槽和凹槽，如瓶頸面間的尺寸，槽的寬或形狀等；應(yīng)用環(huán)規(guī)校正較便當(dāng)。

　　5、專用測針

　　用于螺紋牙型、薄截面材料、對刀和其他專用的測量場合。

　　6、尖測針

　　普通的XY測量時不運(yùn)用；用于測量精度低的螺絲槽，標(biāo)示的點(diǎn)或裂紋劃痕等；比起運(yùn)用具有半徑的點(diǎn)式測頭的狀況，能夠精細(xì)的進(jìn)行校正，用于測量十分小的孔等；專用于螺紋牙型、特定點(diǎn)及刻劃線的檢測。

　　7、陶瓷空心球形測針

　　是檢測X、Y和Z向深位特性和孔的理想選擇，只需要標(biāo)定一個球；也可用于外表粗拙的工件的測量。

　　三坐標(biāo)測針的選用

　　1、測球的選擇

　　優(yōu)先選擇球徑較大的測針，測球直徑大就會減小被測表面紋路粗糙對精度造成的影響，測球直徑越大，圓度就越好，測桿就越粗，測力變形也就越小，其曲面半徑就大一些，接觸變形就會更小，球徑與測針桿之差也就越大，在測量工件時碰到測桿的機(jī)率就比小球徑的測針要小得多。

　　2、測桿的選擇

　　測量精度隨著測桿長度的增加而降低因此要盡量選擇具有最大剛度、盡可能短而粗的測桿才是正確的做法。雖然測桿并不會直接引起特定的誤差，但測桿長度會將誤差放大。測桿的撓性也會放大預(yù)行程的變化。陶瓷測桿通常可用于既需要性好，又要求重量輕的測量任務(wù)。同樣，碳纖維通常也可用于制造很長的測桿。

　　3、連接點(diǎn)的選擇

　　由于測針與加長桿連接在一起時會引入了微觀彎曲和變形點(diǎn)，因此在配置測針時應(yīng)該盡量減少連接點(diǎn)，盡可能減少接長桿的連接數(shù)目以減小累積誤差。

　　4、測量孔徑時的選擇

　　對于10mm以上的孔徑，要是孔不長，用φ2、φ3，φ4mm的測針都是一樣的，要是孔很長且要打全的話，那就要首選4mm的測針了，這樣測就不容易碰桿。另外，測量平面度時為減少表面微觀不平度的影響，也要優(yōu)先選擇大球徑測針。

　　5、測頭的校正

　　測頭校正是保證測量精度的基礎(chǔ)，在測頭校正過程中引起誤差的主要因素有：測桿的彎曲變形，測頭校正時觸測點(diǎn)位置，測力，觸測速度和探測距離等，測力越小精度越低，應(yīng)選用一定的測力和測速進(jìn)行校正，同時選用合適的探測距離，以保證校正精度。