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測(cè)量?jī)x表
提供權(quán)威的儀器、測(cè)量?jī)x表、傳感器測(cè)量資訊和測(cè)量技術(shù)方案，包括集成電路測(cè)試、電路板測(cè)試、工控儀表、通信測(cè)試、傳感器等專(zhuān)業(yè)領(lǐng)域，是最專(zhuān)業(yè)的儀器信息網(wǎng)。
DEKRA德凱CBTL實(shí)驗(yàn)室成為全球首個(gè)獲得ISO 19642全系列標(biāo)準(zhǔn)資質(zhì)的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室
近日，DEKRA德凱CBTL實(shí)驗(yàn)室成功獲得ISO 19642全系列標(biāo)準(zhǔn)的CBTL（CB Testing Laboratory）和NCB（National Certification Body）雙重資質(zhì)，成為全球首家獲此資質(zhì)的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室，服務(wù)范圍涵蓋低壓、高壓、屏蔽、...
2025-07-09 標(biāo)簽：實(shí)驗(yàn)室ISODEKRA 1844
殼體變形、微孔難測(cè)、熱脹冷縮？三坐標(biāo)鎖定電機(jī)核心部件真實(shí)精度
在電機(jī)設(shè)計(jì)與制造領(lǐng)域中，定子、轉(zhuǎn)子、端蓋等核心部件的幾何精度與形位公差，直接決定了電機(jī)的能效、噪音、振動(dòng)與壽命。面對(duì)復(fù)雜曲面、微型槽孔、精密軸承位等嚴(yán)苛測(cè)量挑戰(zhàn)，傳統(tǒng)手段...
2025-07-09 標(biāo)簽：電機(jī)汽車(chē)制造三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)三坐標(biāo)測(cè)量 909
一篇文章讀懂麥科信DP系列高壓差分探頭
麥科信DP系列高壓差分探頭可選帶寬為100MHz至500MHz，最大輸入差分電壓達(dá)7000Vpk，采用標(biāo)準(zhǔn)BNC接口設(shè)計(jì)，適用所有品牌示波器。控制模塊與信號(hào)盒采用高密度集成設(shè)計(jì)，僅2cm超薄厚度，體積小巧輕...
FLIR Lepton紅外熱像儀模組在工業(yè)巡檢機(jī)器人的應(yīng)用
工廠(chǎng)設(shè)備運(yùn)行時(shí)，過(guò)熱、故障隱患往往不易察覺(jué)。傳統(tǒng)的巡檢方式費(fèi)時(shí)費(fèi)力，還可能漏掉關(guān)鍵問(wèn)題。Lepton紅外熱像儀模組通過(guò)高精度熱成像技術(shù)，能實(shí)時(shí)捕捉設(shè)備溫度變化，幫助巡檢機(jī)器人快速...
智能避讓+自動(dòng)換針：Mars 8156三坐標(biāo)讓汽車(chē)檢具測(cè)量安全又高效
在汽車(chē)制造領(lǐng)域，檢具作為驗(yàn)證零部件尺寸與形位公差的“標(biāo)尺”，其自身的精度直接決定了整車(chē)的裝配質(zhì)量與安全性能。檢具上的定位銷(xiāo)、檢測(cè)銷(xiāo)等關(guān)鍵部位，承擔(dān)著基準(zhǔn)建立與功能驗(yàn)證的核...
2025-07-07 標(biāo)簽：汽車(chē)制造三坐標(biāo)測(cè)量 847
波特率和比特率有何不同？?jī)x器測(cè)試帶寬如何選擇？
無(wú)論是否開(kāi)源，像ChatGPT、文心一言、作業(yè)輔導(dǎo)等各類(lèi)AI工具，其背后都離不開(kāi)大規(guī)模AI模型的訓(xùn)練，而這一過(guò)程對(duì)算力的需求極為龐大。因此，一種新型的數(shù)據(jù)中心應(yīng)運(yùn)而生——我們稱(chēng)之為“算...
如何解決測(cè)試待機(jī)功耗電流過(guò)大？六級(jí)能耗功率計(jì)
功率計(jì)測(cè)試時(shí)電流數(shù)據(jù)波動(dòng)大，可能是由高頻干擾、負(fù)載波動(dòng)等多種因素導(dǎo)致的。橫河WT310E功率計(jì)的功能特性和操作指南，針對(duì)待機(jī)功耗電流波動(dòng)大的問(wèn)題。...
二次元測(cè)量?jī)x?、?影像測(cè)量?jī)x?和?一鍵閃測(cè)儀?到底選哪個(gè)？
精密制造領(lǐng)域三大主流測(cè)量?jī)x器——二次元測(cè)量?jī)x、影像測(cè)量?jī)x和一鍵閃測(cè)儀，它究竟有什么區(qū)別，又是哪種更適合您的產(chǎn)線(xiàn)？一文為您深度解析！...
2025-07-05 標(biāo)簽：影像測(cè)量?jī)x影像測(cè)量?jī)x 1539
簡(jiǎn)儀科技PXI CONNECT 2025圓滿(mǎn)收官
由簡(jiǎn)儀科技主辦的業(yè)內(nèi)矚目的國(guó)內(nèi)PXI模塊儀器領(lǐng)域年度技術(shù)盛會(huì)——PXI CONNECT 2025，于6月27日在西安圓滿(mǎn)收官。本次活動(dòng)匯聚了眾多技術(shù)專(zhuān)家、工程師與生態(tài)合作伙伴，圍繞豐富的技術(shù)議題與應(yīng)...
2025-07-05 標(biāo)簽：測(cè)試測(cè)量PXIAI 1757
?武漢昊衡科技OLI系列白光干涉儀——賦能CPO時(shí)代光互聯(lián)高可靠檢測(cè)?
在高速光通信向CPO（共封裝光學(xué)）技術(shù)躍遷的進(jìn)程中，光模塊與器件內(nèi)部光纖鏈路的微米級(jí)缺陷已成為制約系統(tǒng)可靠性的核心痛點(diǎn)。傳統(tǒng)檢測(cè)手段受限于靈敏度不足、效率低下，難以應(yīng)對(duì)高密度...
半導(dǎo)體摻雜濃度及圖形測(cè)量方法
熱波系統(tǒng)通過(guò)激光誘導(dǎo)熱效應(yīng)與晶格缺陷的關(guān)聯(lián)性實(shí)現(xiàn)摻雜濃度評(píng)估。其核心機(jī)制為：氬泵浦激光經(jīng)雙面鏡聚焦于晶圓表面，通過(guò)光熱效應(yīng)產(chǎn)生周期性熱波，導(dǎo)致局部晶格缺陷密度變化。...
羅德與施瓦茨發(fā)布全新UDS系列數(shù)字萬(wàn)用表
羅德與施瓦茨（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“R&S”）推出全新R&S UDS數(shù)字萬(wàn)用表系列。該緊湊型儀器系列可同步顯示三項(xiàng)測(cè)量結(jié)果，配備多樣化測(cè)量功能及多種遠(yuǎn)程控制接口。產(chǎn)品提供5?位和6?位兩種分辨率...
2025-07-03 標(biāo)簽：數(shù)字萬(wàn)用表接口羅德與施瓦茨 1338
一文讀懂CAN XL協(xié)議
隨著汽車(chē)和工業(yè)應(yīng)用中數(shù)據(jù)通信量的增加，傳統(tǒng)的CAN協(xié)議已無(wú)法滿(mǎn)足更高的數(shù)據(jù)速率需求。傳統(tǒng)CAN協(xié)議在數(shù)據(jù)速率和總線(xiàn)負(fù)載能力方面存在限制，難以滿(mǎn)足高帶寬和高實(shí)時(shí)性的應(yīng)用場(chǎng)景。為此，...
2025-07-03 標(biāo)簽：示波器接口CAN鼎陽(yáng)科技測(cè)量?jī)x器 3651
汽車(chē)硬件在環(huán)（HIL）之車(chē)身電子測(cè)試解析
車(chē)身電子 HIL 測(cè)試通過(guò) “虛擬場(chǎng)景 + 硬件驗(yàn)證” 的模式，將傳統(tǒng)需要實(shí)車(chē)投入的測(cè)試場(chǎng)景數(shù)字化，不僅大幅提升研發(fā)效率，更能覆蓋物理測(cè)試難以觸及的極端工況與故障場(chǎng)景。隨著汽車(chē)電子化...
2025-07-03 標(biāo)簽：HIL測(cè)試設(shè)備汽車(chē)測(cè)試自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 1814
案例分享 | 前沿物理實(shí)驗(yàn)室突破全光學(xué)磁翻轉(zhuǎn)研究瓶頸：德思特脈沖發(fā)生器賦能
德思特TS-PG1072以超快脈沖精控技術(shù)，助力前沿物理實(shí)驗(yàn)室攻克全光學(xué)磁翻轉(zhuǎn)的飛秒級(jí)操控瓶頸，實(shí)現(xiàn)從機(jī)制解析到低能耗器件設(shè)計(jì)的全鏈條突破。...
2025-07-02 標(biāo)簽：光學(xué)脈沖發(fā)生器光學(xué)測(cè)試 1356
峰均比：你了解多少？
峰均比，或稱(chēng)峰值因數(shù)(crestfactor)，簡(jiǎn)稱(chēng)PAR（peak-to-averageratio），或叫峰均功率比(簡(jiǎn)稱(chēng)PARR,peak-to-averagepowerratio)。先說(shuō)定義：峰均比是一種對(duì)波形的測(cè)量參數(shù),等于波形的振幅除以有效值(RMS)所得到...
Pico Technology推出新款高帶寬采樣示波器
作為基于PC測(cè)試和測(cè)量?jī)x器市場(chǎng)領(lǐng)導(dǎo)者的 Pico Technology, 非常自豪地宣布推出其 PicoScope 9400A 系列高帶寬采樣示波器的擴(kuò)展產(chǎn)品。該產(chǎn)品的設(shè)計(jì)是為了滿(mǎn)足人們對(duì)高速電子、通信、半導(dǎo)體研究以及...
2025-07-02 標(biāo)簽：示波器測(cè)量?jī)x器Pico 1217
高壓測(cè)試新選擇：斯丹麥德電子BH系列高壓干簧繼電器
精密測(cè)試儀器和自動(dòng)測(cè)試設(shè)備對(duì)繼電器的性能要求極高，不僅需要其具備高電壓切換能力，還需具備出色的絕緣性能、低接觸電阻以及長(zhǎng)壽命等特性。斯丹德電子BH系列高壓干簧繼電器。該系列...
2025-07-02 標(biāo)簽：測(cè)試測(cè)量矩陣開(kāi)關(guān)源表高壓繼電器測(cè)試測(cè)量源表矩陣開(kāi)關(guān)高壓繼電器 2874
技術(shù)干貨 | ATX7006線(xiàn)性計(jì)算與AD/DA動(dòng)態(tài)分析解析
想知道如何在ATX7006上進(jìn)行高精度線(xiàn)性度計(jì)算？如何通過(guò)傅里葉變換分析AD/DA轉(zhuǎn)換器的動(dòng)態(tài)性能？本文詳細(xì)解析了線(xiàn)性計(jì)算的命令配置、結(jié)果獲取方法，以及動(dòng)態(tài)測(cè)試中的信噪比、諧波失真等關(guān)鍵...
2025-06-30 標(biāo)簽：半導(dǎo)體測(cè)試半導(dǎo)體測(cè)試 928
X-ray設(shè)備2D/3D檢測(cè)金屬材料及零部件裂紋異物的缺陷
在高端制造領(lǐng)域，金屬材料及零部件的內(nèi)部質(zhì)量直接關(guān)系到產(chǎn)品性能與安全性。X-ray設(shè)備憑借其獨(dú)特的穿透成像能力，成為檢測(cè)裂紋、異物等缺陷的關(guān)鍵工具，而2D/3D檢測(cè)技術(shù)的結(jié)合，更將檢測(cè)...
2025-06-27 標(biāo)簽：X射線(xiàn)機(jī)x-rayx-rayX射線(xiàn)機(jī)X射線(xiàn)檢測(cè) 965
如何利用示波器測(cè)量開(kāi)關(guān)電源死區(qū)時(shí)間
在當(dāng)今復(fù)雜而精密的電子技術(shù)領(lǐng)域，開(kāi)關(guān)電源作為眾多電子設(shè)備的核心供電組件，其性能與穩(wěn)定性至關(guān)重要。然而，在實(shí)際的研發(fā)、生產(chǎn)及應(yīng)用過(guò)程中，我們時(shí)常會(huì)面臨一個(gè)棘手的問(wèn)題——開(kāi)關(guān)...
2025-06-27 標(biāo)簽：開(kāi)關(guān)電源示波器晶體管死區(qū)時(shí)間 2583
羅德與施瓦茨FSWX信號(hào)與頻譜分析儀技術(shù)解析
當(dāng)前頻譜分析儀面臨多重挑戰(zhàn)：現(xiàn)代射頻應(yīng)用要求更高的數(shù)據(jù)速率、更寬的調(diào)制帶寬及更高階的調(diào)制方式。尖端元器件需要更優(yōu)的信噪比和接近物理極限的性能指標(biāo)，但現(xiàn)有設(shè)備在寬頻帶、大功...
無(wú)線(xiàn)通信中信號(hào)衰落的影響因素和測(cè)試解決方案
你是否遇到過(guò)這樣的場(chǎng)景：明明手機(jī)信號(hào)滿(mǎn)格，視頻卻卡成PPT？Wi-Fi路由器近在只尺，網(wǎng)速卻堪比蝸牛？...
2025-06-27 標(biāo)簽：無(wú)線(xiàn)通信路由器衰落 2408
羅德與施瓦茨攜手紫光展銳展示NR-NTN終端測(cè)試能力
NTN通過(guò)空天地一體化網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)了全域無(wú)縫覆蓋。過(guò)去，衛(wèi)星網(wǎng)絡(luò)和地面網(wǎng)絡(luò)是兩張獨(dú)立的網(wǎng)絡(luò)，二者無(wú)法融合。而現(xiàn)在，這兩種通信方式逐步進(jìn)行融合協(xié)作，終端無(wú)需專(zhuān)用設(shè)備既可以連接地面網(wǎng)...
羅德與施瓦茨全新FSWP相位噪聲分析儀及VCO測(cè)試儀實(shí)現(xiàn)單表56 GHz測(cè)量能力并支持
羅德與施瓦茨（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“R&S”）針對(duì)未來(lái)應(yīng)用需求升級(jí)R&S FSWP相位噪聲分析儀。全新R&S FSWP-B56G選件將頻率范圍擴(kuò)展至56 GHz，通過(guò)支持外接高端信號(hào)源作為本振，該設(shè)備兼具易用型信號(hào)...
TC Wafer晶圓測(cè)溫系統(tǒng)——半導(dǎo)體制造溫度監(jiān)控的核心技術(shù)
TCWafer晶圓測(cè)溫系統(tǒng)是一種革命性的溫度監(jiān)測(cè)解決方案，專(zhuān)為半導(dǎo)體制造工藝中晶圓溫度的精確測(cè)量而設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)通過(guò)將微型熱電偶傳感器（Thermocouple）直接鑲嵌于晶圓表面，實(shí)現(xiàn)了對(duì)晶圓溫...
2025-06-27 標(biāo)簽：半導(dǎo)體晶圓測(cè)溫系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓測(cè)溫系統(tǒng) 1258
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