在 Tessent SiliconInsight 產(chǎn)品中采用業(yè)界首創(chuàng)的 ATE-Connect 技術(shù)，實現(xiàn) Tessent DFT 軟件與 Teradyne 測試儀之間的直接通信，從而將芯片調(diào)通時間從幾周縮短至幾天。

Teradyne 的UltraFLEX ATE完全支持采用 ATE-Connect 技術(shù)的 Tessent SiliconInsight 接口。

Tessent SiliconInsight Desktop enables a high-availablity bench-top debug environment for ATPG, MBIST, LBIST, and IJTAG

Mentor, A Siemens Business 近日宣布在其 Tessent SiliconInsight 產(chǎn)品中引入 ATE-Connect 技術(shù)，用于 IC 調(diào)試和調(diào)通。ATE-Connect 技術(shù)創(chuàng)建了行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)接口，以消除測試儀專用軟件與可測試性設(shè)計 (DFT) 平臺之間的通信障礙。這項新技術(shù)加速了 IJTAG 器件調(diào)試，加快了產(chǎn)品投入量產(chǎn)，縮短了5G無線通信，自動駕駛和人工智能產(chǎn)品上市時間。Mentor 還宣布 Teradyne 的 UltraFLEX 測試解決方案通過其 PortBridge 技術(shù)，完全支持新的 Mentor 接口。

盡管業(yè)界廣泛采用IJTAG（IEEE 1687）測試架構(gòu)進(jìn)行芯片級測試，但很多公司在芯片級測試向量轉(zhuǎn)換，以及自動測試設(shè)備 (ATE) 調(diào)試測試保留了非常不同的方法。因此，每個特定芯片必須由 DFT 工程師編寫測試向量，然后由測試工程師進(jìn)行轉(zhuǎn)換，以便在每種測試儀類型上調(diào)試每個場景。測試工程師通常借助時鐘周期在較低細(xì)節(jié)層次上工作，而 DFT 工程師通常使用 IJTAG 在較高層次上工作。兩者之間的工具和技術(shù)差異導(dǎo)致在如何最高效地調(diào)試芯片方面出現(xiàn)混亂，進(jìn)而導(dǎo)致 IC 產(chǎn)品生命周期的較長延遲。

Mentor ATE-Connect 技術(shù)使用 TCP/IP 網(wǎng)絡(luò)協(xié)議，為被測器件提供 IJTAG 命令，并從 ATE 上的器件接收數(shù)據(jù) – 同時將敏感設(shè)計信息保存在 Tessent SiliconInsight 工具內(nèi)，且為 ATE 上的被測器件提供必需的激勵。通過這種標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)通信，客戶能夠充分利用現(xiàn)有的安全網(wǎng)絡(luò)，實現(xiàn)與全球各地的測試儀的無縫交互。

Mentor 的 Tessent 產(chǎn)品系列高級營銷總監(jiān) Brady Benware 表示，“我們的客戶需要更出色的解決方案，幫助他們應(yīng)對芯片調(diào)通挑戰(zhàn)，將 IJTAG 的強大功能與 ATE 直接結(jié)合解決了調(diào)試和特征提取流程中的重要瓶頸。使用這個解決方案，客戶能夠在幾天而不是幾周時間內(nèi)完成芯片調(diào)通?！?/p>

除了引入 ATE-Connect 技術(shù)之外，Mentor 的 Tessent 部門還宣布與 Teradyne 及其他重要客戶開展合作，以驗證整個解決方案。Teradyne 是面向測試和工業(yè)應(yīng)用的自動化設(shè)備的領(lǐng)先供應(yīng)商。Mentor 的Tessent工具與 ATE-Connect 以及UltraFLEX的 Teradyne PortBridge 相結(jié)合，這使得DFT 開發(fā)環(huán)境能夠直接與 Teradyne UltraFLEX 通信，實現(xiàn) IP 模塊的交互調(diào)試，因此測試調(diào)試效率的顯著提升。

“Teradyne 通過各種工具創(chuàng)新和合作伙伴關(guān)系，滿足客戶對提高工作效率的需求，”Teradyne 半導(dǎo)體測試部副總裁兼 SoC 業(yè)務(wù)組總經(jīng)理 Jason Zee說道，“與 Mentor 的合作是我們?nèi)绾闻c生態(tài)系統(tǒng)合作伙伴進(jìn)行協(xié)作，以確保客戶取得成功的重要實例?！?/p>