ATE測試是一種通過計算機控制，自動完成對待測器件（DUT）進行激勵施加、信號采集、結(jié)果判定與數(shù)據(jù)處理的測試系統(tǒng)。其工作原理可拆解為以下關(guān)鍵環(huán)節(jié)：

1. 測試程序加載

主控計算機先載入針對DUT的測試程序，解析出激勵波形、電壓/電流檔位、時序、判定閾值等全部測試向量 。

2. 信號激勵與精密供電

程控信號源、電源模塊按測試向量向DUT提供精確的電壓、電流、時鐘、數(shù)字圖形或射頻激勵；開關(guān)矩陣/繼電器網(wǎng)絡(luò)把不同資源動態(tài)路由到對應(yīng)管腳，實現(xiàn)“一套儀器多工位復(fù)用” 。

3. 響應(yīng)采集與調(diào)理

DUT輸出信號經(jīng)探針卡或測試座進入ATE內(nèi)部，由高速數(shù)字化儀、示波器、計數(shù)器、頻譜儀等測量模塊進行采樣；信號調(diào)理電路（放大、濾波、阻抗匹配）保證采樣精度 。

4. 實時比對與判定

處理器把實測值與測試程序中的上下限實時比較，同時監(jiān)控功耗、短路、開路、接觸電阻等異常；若任一參數(shù)超限即標(biāo)記失敗并觸發(fā)中斷，節(jié)省后續(xù)測試時間 。

5. 數(shù)據(jù)記錄與分揀

測試結(jié)果、失效項目、Shmoo圖、良率統(tǒng)計被即時寫入數(shù)據(jù)庫；機械手或分選機根據(jù)PASS/FAIL信號把器件放入對應(yīng)料盤，實現(xiàn)全自動化分揀 。

6. 并行測試與高速掃描（高級場景）

ATE通過Streaming Scan Network等并行技術(shù)，把單組高速數(shù)據(jù)流解碼后同時灌入多根掃描鏈，實現(xiàn)一拍多bit移入/移出，成倍提升掃描測試帶寬 。

ATE測試

一句話總結(jié)：ATE測試的關(guān)鍵就是“程序控制激勵→精確采集→實時比對→數(shù)據(jù)閉環(huán)”，用軟硬件協(xié)同把人工示波器+電源+萬用表+電子負(fù)載的傳統(tǒng)測試流程壓縮到毫秒甚至微秒級，并保證可重復(fù)、可追溯、可大規(guī)模并行。

審核編輯 黃宇