在電子系統(tǒng)中,功率器件的熱性能直接決定了其長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性。以MUN12AD03-SEC為代表的MOSFET器件,MUN12AD03-SEC的熱性能對(duì)其
發(fā)表于 05-15 09:41
頻率穩(wěn)定性?指信號(hào)源(包括振蕩器、時(shí)鐘源、射頻發(fā)射機(jī)等)在時(shí)間、環(huán)境或外部干擾下維持輸出頻率恒定的能力,其核心在于量化頻率的波動(dòng)范圍及系統(tǒng)抗干擾性能。 一、基礎(chǔ)定義? 短期穩(wěn)定性?
發(fā)表于 04-10 15:18
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情況:訪問(wèn)空指針、訪問(wèn)已經(jīng)釋放的內(nèi)存和內(nèi)存訪問(wèn)越界。但具體是哪種情況觸發(fā)的應(yīng)用閃退,還需要我們根據(jù)相應(yīng)代碼片段進(jìn)行具體分析,較為耗時(shí)。我們可以參考穩(wěn)定性專欄中的相關(guān)內(nèi)容,來(lái)降低定位難度并縮減定位時(shí)間
發(fā)表于 02-17 17:17
我在測(cè)量A/D轉(zhuǎn)換器時(shí)出現(xiàn)這樣一個(gè)問(wèn)題。采樣率的提高,其A/D轉(zhuǎn)換器的穩(wěn)定性隨之降低。從我個(gè)人理解,采樣率的提高已經(jīng)在測(cè)量有效位數(shù)上將誤差算出來(lái)了,我只需要考慮在高采樣率時(shí),有效分辨率的位數(shù)
發(fā)表于 02-11 08:24
在電源測(cè)試過(guò)程中,電子負(fù)載作為關(guān)鍵設(shè)備,其保護(hù)機(jī)制對(duì)于確保測(cè)試的穩(wěn)定性和安全性至關(guān)重要。本文將探討源儀電子負(fù)載的保護(hù)功能,以及如何保障電源測(cè)試的穩(wěn)定
發(fā)表于 01-02 17:04
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12月19日,經(jīng)緯恒潤(rùn)智能座艙仿真團(tuán)隊(duì)將結(jié)合實(shí)戰(zhàn)項(xiàng)目開(kāi)發(fā)經(jīng)驗(yàn),分享探討智能座艙測(cè)試工具鏈以及不同測(cè)試場(chǎng)景下的方案選型等內(nèi)容,旨在探討和分享智
發(fā)表于 12-17 14:45
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開(kāi)關(guān)周期內(nèi)導(dǎo)通的時(shí)間比例。占空比的穩(wěn)定性對(duì)于電路的性能至關(guān)重要,因?yàn)樗苯佑绊懙捷敵鲭妷旱?b class='flag-5'>穩(wěn)定性和紋波。以下是一些影響B(tài)UCK電路占空比穩(wěn)定性的因素: 輸入電壓變化: 輸入電壓的波動(dòng)會(huì)
發(fā)表于 12-12 17:14
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以下是一些常用的方法來(lái)測(cè)試晶振的穩(wěn)定性。
發(fā)表于 11-29 16:41
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工具,可以對(duì)內(nèi)存進(jìn)行全面的穩(wěn)定性測(cè)試。 操作:通過(guò)運(yùn)行MemTest86,軟件會(huì)對(duì)內(nèi)存進(jìn)行多種復(fù)雜運(yùn)算,從而檢測(cè)出內(nèi)存可能存在的錯(cuò)誤。 注意事項(xiàng):測(cè)試過(guò)程可能需要幾個(gè)小時(shí),因此建議在空
發(fā)表于 11-29 15:01
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是德科技的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀以其高精度、高動(dòng)態(tài)范圍和豐富的功能而聞名,廣泛應(yīng)用于射頻、微波和毫米波領(lǐng)域的科研和生產(chǎn)。然而,儀器的穩(wěn)定性是確保測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠的關(guān)鍵。VNA的穩(wěn)定性是指其在一段時(shí)間內(nèi)保持
發(fā)表于 11-19 16:21
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常態(tài)化穩(wěn)定性治理。在常態(tài)化治理過(guò)程中我們將識(shí)別問(wèn)題等重復(fù)性有規(guī)律的工作實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化,技術(shù)人員更專注于解決問(wèn)題。 二、穩(wěn)定性治理常態(tài)化 保障穩(wěn)定性治理常態(tài)化,部門(mén)組建了一支由研發(fā)團(tuán)隊(duì)、測(cè)試
發(fā)表于 11-19 11:19
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11月4日,據(jù)外媒MacRumours的最新消息,蘋(píng)果公司決定提前一周發(fā)布其最新的iOS 18.2操作系統(tǒng),確切時(shí)間為
發(fā)表于 11-04 15:00
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在自動(dòng)駕駛技術(shù)迅速發(fā)展的今天,芯片的穩(wěn)定性和可靠性成為了衡量其性能的重要指標(biāo)。NVIDIA的Orin芯片,作為自動(dòng)駕駛領(lǐng)域的一項(xiàng)突破性產(chǎn)品,其穩(wěn)定性測(cè)試顯得尤為重要。 一、Orin芯片簡(jiǎn)介 Orin
發(fā)表于 10-27 16:56
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VCO(Voltage-Controlled Oscillator,壓控振蕩器)的頻率穩(wěn)定性是一個(gè)關(guān)鍵的性能指標(biāo),它描述了VCO輸出頻率對(duì)輸入電壓變化的敏感程度及在長(zhǎng)時(shí)間或不同環(huán)境條件下保持頻率穩(wěn)定
發(fā)表于 08-20 16:08
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狀態(tài)能否在有限時(shí)間內(nèi)恢復(fù)到平衡狀態(tài)或穩(wěn)定在某個(gè)范圍內(nèi)。穩(wěn)定性分為以下幾種類(lèi)型: BIBO(有界輸入有界輸出)穩(wěn)定性 :對(duì)于任何有界輸入,系統(tǒng)
發(fā)表于 07-29 10:28
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評(píng)論