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如何對IGBT模塊進(jìn)行特性測試

電子工程師 ? 來源:網(wǎng)絡(luò)整理 ? 作者:佚名 ? 2020-03-14 09:30 ? 次閱讀
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對市場新推出的低功耗IC及功率器件特性無法準(zhǔn)確把握?是否真正在自己的電源設(shè)計中發(fā)揮最大的作用,缺少一種簡單經(jīng)濟(jì)的評價方法。對于電源產(chǎn)品設(shè)計,大功率開關(guān)管的選擇是非常關(guān)鍵也是非常困難的。 如何在系統(tǒng)調(diào)試之前對IGBT模塊特性進(jìn)行測試,尤其基于橋式拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),在不同的負(fù)載條件測試IGBT及相應(yīng)的二極管的特性?這些成為工程師非常頭疼的問題。

功率器件動態(tài)參數(shù)/雙脈沖測試

功率器件如MOSFET和IGBT提供了快速開關(guān)速度,能夠耐受沒有規(guī)律的電壓峰值,被廣泛應(yīng)用于電源轉(zhuǎn)換產(chǎn)品的設(shè)計。尤其最新第三代半導(dǎo)體SiC和GaN快速發(fā)展和應(yīng)用可以毫不夸張的說給電源行業(yè)帶來顛覆性的變化。對于設(shè)計工程師來說卻帶來了非常大的測試挑戰(zhàn),如何保證選用的高速功率器件能穩(wěn)定可靠的運(yùn)行在自己的電源產(chǎn)品中,我們需要了解功率器件的動態(tài)特性:

器件在不同溫度的特性

短路特性和短路關(guān)斷

柵極驅(qū)動特性

關(guān)斷時過電壓特性

二極管回復(fù)特性

開關(guān)損耗測試等

泰克推出了IGBT Town功率器件支持單脈沖,雙脈沖及多脈沖測試方案,集成強(qiáng)大的發(fā)生裝置,數(shù)據(jù)測試裝置及軟件。用戶可以自定義測試條件,測試項目包含:Toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on),tr(Ic), Eon, di/dt, dv/dt, Err, qrr, Irr based on IEC60747。推薦解決方案:MSO54 + 5-wins + 5-PWR + TIVM02 + TIVH08 + TCP0030A + IGBT town軟件。

如何對IGBT模塊進(jìn)行特性測試

采用雙脈沖法,用信號發(fā)生器設(shè)置脈寬為1uS,周期為2.5uS,脈沖次數(shù)為2次,示波器采用單次觸發(fā)。

采用MSO58功率器件分析功能可以直接得出CoolGaN?的動態(tài)參數(shù)。左下的測試提示Icoff是因為英飛凌的CoolGaN?完全沒有反向恢復(fù)電流,從測試數(shù)據(jù)中可以看到基于英飛凌的CoolGaN?專用驅(qū)動1EDF5673K下的CoolGaN? IGO60R070D1速度還是非??斓模彝耆珱]有反向恢復(fù)損耗。

從測試結(jié)果可以看出該方案特點(diǎn):

可靠、可重復(fù)地測試IGBT及MOSFET(包括第三代半導(dǎo)體器件SiC、GaN)功率半導(dǎo)體動態(tài)特征;

測量的特征包括開啟、關(guān)閉、開關(guān)切換、反向恢復(fù)、柵極驅(qū)動,開關(guān)損耗等參數(shù);

適用于用戶對測試環(huán)境的自定義;

全部使用泰克示波器及原廠電源探頭,可準(zhǔn)確補(bǔ)償探頭延遲,專用的開關(guān)損耗算法,提供可靠的測試結(jié)果;

獨(dú)特的IsoVu 探頭,最高800MHz帶寬高達(dá)120dB共模抑制比,準(zhǔn)確測試驅(qū)動信號的真實(shí)情況。

高功率半導(dǎo)體器件檢定測試

開發(fā)和使用MOSFET、IGBT、二極管及其他大功率器件,需要全面的器件級檢定,如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測量。Keithley高功率參數(shù)化曲線跟蹤儀支持所有的器件類型和測試參數(shù)。Keithley高功率參數(shù)化曲線跟蹤儀包括檢定工程師快速開發(fā)全面測試系統(tǒng)所需的一切。ACS-Basic基本版軟件提供了完整的器件特性分析,包括實(shí)時跟蹤模式及全部參數(shù)模式,實(shí)時跟蹤模式用來迅速檢查基礎(chǔ)器件參數(shù),如擊穿電壓;全部參數(shù)模式用來提取精確的器件參數(shù)。

測試平臺搭建

Keithley提供完整解決方案

從實(shí)驗室到工廠,從晶圓級到獨(dú)立封裝器件,從測試設(shè)置到分析結(jié)果,為最優(yōu)性價比設(shè)計的一體化完整解決方案。從實(shí)驗室科研級別的單臺SMU源表到適用于高功率半導(dǎo)體器件檢定的完整測試方案,再到適用于自動芯片級測試系統(tǒng),Keithley均能為您提供最優(yōu)性價比的完整解決方案。其方案配置如下:

硬件:上至3kV/100A的功率電平,下至uV/fA級別小信號的寬動態(tài)范圍;(SMU, 4200,PCT,S500多硬件平臺覆蓋) ;

軟件:ACS-Basic支持各種Keithley儀器,用于半導(dǎo)體器件檢定、可靠性測試、參數(shù)化測試以及元器件功能測試;

夾具:傳統(tǒng)連線測試夾具、8010高功率器件測試夾具、手動/自動探針測試臺。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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