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深度解讀提高芯片計算的密度晶體管堆疊技術(shù)

電子設(shè)計 ? 來源:機(jī)器之心 ? 作者:機(jī)器之心 ? 2021-01-06 16:31 ? 次閱讀
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兩種晶體管一起造——英特爾正在研究的晶體管堆疊技術(shù)將大幅度提高芯片的計算密度。 目前我們所熟知的臺積電、三星、英特爾、格芯、中芯國際等芯片代工廠量產(chǎn)的先進(jìn)工藝普遍采用基于多柵鰭型場效應(yīng)晶體管(FinFET)結(jié)構(gòu)。在 5 納米及以下的制程時,更先進(jìn)的技術(shù)節(jié)點(diǎn)面臨的發(fā)熱和漏電將變得難以控制,人們必須尋找全新的工藝,堆疊晶體管設(shè)計正在成為重要方向。

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NMOS 和 PMOS 組件通常是并列出現(xiàn)在芯片上的。英特爾現(xiàn)在已經(jīng)找到了讓它們彼此堆疊的方法,這可以大幅度降低電路尺寸。 當(dāng)今幾乎所有電子設(shè)備的算力本質(zhì)都是兩種晶體管的組合——NMOS 和 PMOS。當(dāng)電壓信號輸入時,其中一個打開則另一個會被關(guān)閉,兩者放在一起時,只有 bit 變化才有電流,這種設(shè)計顯著降低了能耗。這種晶體管組合自 1959 年以來幾乎沒有變化,但隨著芯片制造制程的不斷提升,電路正在不斷被縮小,它們之間的距離也在不斷靠近。 在本周 IEEE 國際電子設(shè)備會議(IEDM)上,英特爾展示了一種全新的方式:將 NMOS 和 PMOS 對堆疊起來,該方案有效地將簡單 CMOS 電路的占位面積減少了一半,這意味著未來 IC 的晶體管密度可能直接翻倍。

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這種設(shè)計被廣泛認(rèn)為會首先被應(yīng)用于下一代制程晶體管即 nanosheet、nanoribbon(納米薄片)、nanowire(圓柱體納米線),或被稱為全環(huán)繞柵極晶體管(Gate-All-Around FET)的方法上,這可能是常規(guī)架構(gòu)計算機(jī)通向摩爾定律的最后一步。nanosheet 的溝道區(qū)域不會是像目前 FinFET 等方式,由垂直硅鰭片構(gòu)成晶體管主要部分,而是由多層、水平、幾納米厚的片層堆疊在一起構(gòu)成。

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CMOS 設(shè)備已經(jīng)從平面發(fā)展到 FinFET,馬上就將在 3nm 制程節(jié)點(diǎn)上轉(zhuǎn)為 nanosheet。進(jìn)一步縮小的電路需要堆疊NMOS 和 PMOS。 英特爾的工程師打算使用這些組件來構(gòu)建最簡單的 CMOS邏輯電路,即逆變器(inverter)。它需要由兩個晶體管組成,兩個電源連接,一個輸入和一個輸出連接。即使是像今天晶體管并排放置的設(shè)計中,這種布局也已非常緊湊了。但通過堆疊晶體管,調(diào)整互聯(lián),逆變器的面積還可以減半。 英特爾用于構(gòu)建堆疊式 nanosheet 的方法被稱為自對準(zhǔn)工藝,因為它可以在實(shí)際上相同的步驟中構(gòu)建兩種組件。這是至關(guān)重要的一點(diǎn),因為假如出現(xiàn)第二種步驟的話(例如在互相分離的晶片上制造兩種組件再粘合),可能會導(dǎo)致無法對準(zhǔn),進(jìn)而失敗。 從本質(zhì)上講,晶體管堆疊技術(shù)是對 nanosheet 晶體管制造方式的修改。它從硅和硅鍺的重復(fù)層開始,隨后將其雕刻成一個較高的窄鰭,然后蝕刻掉硅鍺,留下一組懸浮的 nanosheet。通常,所有的 nanosheet 都會形成單獨(dú)的晶體管。但是在新方法中,為了形成一個 NMOS 器件,頂部的兩個 nanosheet 被連接到了磷摻雜的硅上,而底部的兩個 nanosheet 被連接到了硼摻雜的硅鍺上以產(chǎn)生 PMOS。 「完整的『集成流程』當(dāng)然會更加復(fù)雜,但英特爾的研究者們正希望讓工藝盡可能地簡單,」英特爾高級研究員、組件研究主管 Robert Chau 表示?!讣闪鞒滩荒芴珡?fù)雜,因為這將影響到制造具有堆疊CMOS 芯片的實(shí)用性。這是一個非常實(shí)際的流程,可產(chǎn)生可觀的結(jié)果。」

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逆變器由兩個彼此疊置的晶體管組成,它們的某些部分和互連點(diǎn)是公用的。 「一旦你掌握了這種方法,接下來要做的就是追求性能了,」Chau 說道。這可能將涉及改進(jìn)的 PMOS 組件,目前它在驅(qū)動電流的能力上落后于 NMOS。解決這個問題的答案可能在于在晶體管通道中引入「應(yīng)變」,其思路是讓硅晶格變形,從而為電載荷創(chuàng)造更快的通路(此處為孔洞)。英特爾早在 2002 年就將應(yīng)變方法引入其芯片。在另一項 IEDM 的研究中,英特爾展示了一種在 nanoribbon 晶體管中產(chǎn)生壓縮應(yīng)變和拉伸應(yīng)變的方法。 除了英特爾之外,其他頂尖芯片工廠和研究機(jī)構(gòu)也在尋求堆疊式的 nanosheet 設(shè)計,當(dāng)然有些時候類似的方法會被命名為互補(bǔ) FET 或納米薄片場效應(yīng)晶體管(CFET)。比利時研究組織 Imec 率先提出了 CFET 概念,并于去年 6 月在 IEEE VLSI 研討會上報告了構(gòu)建它們的過程。不過,Imec 組件并非完全由 nanosheet 晶體管構(gòu)成——它的底層由 FinFET 組成,頂層是單個 nanosheet。 來自臺灣省的半導(dǎo)體研究中心(Taiwan Semiconductor Research Institute, TSRI)研究人員提出了另一種 CFET 的生產(chǎn)方法,其 PMOS 和 NMOS 需要用不同的 nanosheet 制造出來。英特爾的電路在三個 nanosheet PMOS 上有兩個 NMOS,相比之下更接近于堆疊組件的概念。
編輯:hfy

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