智能駕駛越來越進入大眾生活的同時，汽車芯片的類型從之前的成熟封裝向先進封裝演進，同時對測試的要求也愈加復雜。在保證芯片功能安全性的條件下如何優(yōu)化測試的方法是其中重要的挑戰(zhàn)。

月芯科技（ISE Labs）業(yè)務工程處總監(jiān)王鈞鋒先生在第四屆無人駕駛及智能駕艙中國峰會AutoAI 2021上分享如何通過測試提高車載SoC芯片功能安全，探討汽車封裝與測試類型、市場需求及AEC-Q100認證等。

隨著汽車行業(yè)進一步邁向智能化發(fā)展，汽車相關(guān)芯片的復雜度和尺寸要求不斷增加，封裝技術(shù)對提高汽車芯片微小化、多功能化及高度集成化愈趨重要。

因應汽車使用場景和功能的不同，對應的封裝類型有較大區(qū)別，如汽車安全控制系統(tǒng)和實現(xiàn)先進駕駛輔助系統(tǒng)（ADAS）需要的感知相關(guān)的傳感芯片一般采用小外形集成電路封裝（SOIC）或方形扁平無引腳封裝（QFN），汽車娛樂系統(tǒng)（Infotainment）包括車用音響、導航系統(tǒng)GPS、車載娛樂影音系統(tǒng)等一般采用細間距BGA封裝（FBGA）或晶圓級芯片封裝（WLCSP）方式。

此外，在汽車計算領(lǐng)域因為采用先進的工藝技術(shù)，封裝形式也更傾向于先進封裝，以滿足汽車對計算能力的要求。日月光在汽車集成電路有著豐富的經(jīng)驗與研發(fā)能力，提供Wire Bond/WLCSP/Flip Chip/SiP模塊與先進封裝的完整解決方案，滿足客戶不同的產(chǎn)品需求。

為確保汽車的安全性和可靠性，除了選對封裝技術(shù)，還需要嚴格的測試方法。從芯片的前期驗證到最終量產(chǎn)，測試主要分為特征化測試（Char Test）、量產(chǎn)測試（Production Test）和AEC-Q 測試，其中特征化測試主要測試設備的性能及三溫，量產(chǎn)測試主要包括屏幕故障部件以及相關(guān)的成本測試，而AEC-Q主要是質(zhì)量測試，測試芯片生命周期和能力。

傳統(tǒng)的汽車芯片與SoC芯片在測試結(jié)果上存在很大的差異，以典型的電源芯片與智能汽車SoC芯片對比為例，傳統(tǒng)芯片主要的測試內(nèi)容沒有數(shù)字測試，主要是低壓電流及模擬參數(shù)測試，測試時間約3.5秒，總測試項目約132項。反觀SoC芯片，數(shù)字測試比例達到44%，測試時間需26秒，總測試項目更是達到870多項，因此對測試標準的要求將越來越高。

月芯科技提供從芯片封裝、芯片測試開發(fā)、AEC-Q認證以及國內(nèi)稀缺的量產(chǎn)老化+FT測試，為車電芯片提供從工程到量產(chǎn)的完整解決方案。通過對汽車AEC-Q產(chǎn)品在測試過程中的流程管控，將40多項實驗產(chǎn)品的ATE測試數(shù)據(jù)處理呈現(xiàn)可視化數(shù)據(jù)報告，縮短芯片AEC-Q驗證周期。

隨著自動駕駛技術(shù)越來越成熟，適用范圍越來越廣，勢必對汽車芯片可靠性和安全性要求越來越嚴格。日月光長期與國際車用大廠合作，擁有專業(yè)的汽車封裝智慧制造工程團隊，運用客制化的制程技術(shù)， 結(jié)合上海測試工程研發(fā)中心月芯科技“工程中心+迷你工廠”一站式服務模式，提供下一代車用可靠性、高整合、高效率的完整封裝與測試解決方案。

編輯：jq