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如何快速找到芯片設(shè)計(jì)故障的根本原因

新思科技 ? 來(lái)源:新思科技 ? 作者:新思科技 ? 2021-09-08 10:12 ? 次閱讀
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盡管芯片正變得越來(lái)越復(fù)雜,但產(chǎn)品仍需更快地推向市場(chǎng)。高性能計(jì)算(HPC)、人工智能AI)、5G、汽車及GPU等應(yīng)用領(lǐng)域使芯片開發(fā)者面臨著巨大壓力,因?yàn)樗麄儽仨毺峁┠軡M足處理性能、帶寬、延遲和功耗要求的十億門級(jí)設(shè)計(jì),以保證這些應(yīng)用蓬勃發(fā)展。

在這種環(huán)境下,開發(fā)者希望利用設(shè)計(jì)和驗(yàn)證工具在更短時(shí)間內(nèi)完成更多工作。為滿足這些需求,芯片設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)公司推出了強(qiáng)大的產(chǎn)品,幫助開發(fā)者在設(shè)計(jì)周期中及早發(fā)現(xiàn)并解決問(wèn)題。

如何快速找到故障的根本原因?

硬件和軟件驗(yàn)證的兩種主要方式各有優(yōu)點(diǎn): ●支持全自動(dòng)流程的硬件仿真系統(tǒng)。速度遠(yuǎn)超一般模擬器,并且能提供完全直觀的調(diào)試功能 ●原型設(shè)計(jì)系統(tǒng)通常比仿真器更快,可用于檢查時(shí)間更長(zhǎng)的應(yīng)用負(fù)載。此項(xiàng)工作往往需要開發(fā)者付出更多精力才能完成

在典型的驗(yàn)證場(chǎng)景中,兩類系統(tǒng)都有用武之地。仿真適合設(shè)計(jì)不太成熟的情況,而在設(shè)計(jì)非常成熟時(shí)則可進(jìn)行原型設(shè)計(jì),從而快速發(fā)現(xiàn)極端情況。然而,業(yè)界一直希望仿真系統(tǒng)能夠進(jìn)一步提升性能,同時(shí)保持其在調(diào)試和自動(dòng)化方面的優(yōu)勢(shì)。

調(diào)試在驗(yàn)證過(guò)程中最耗費(fèi)時(shí)間。2020年Wilson Research Group的功能驗(yàn)證研究表明,驗(yàn)證工程師花在調(diào)試工作上的時(shí)間大約占41%。然而,這項(xiàng)工作的重要性不容低估。因?yàn)樵皆绨l(fā)現(xiàn)并解決錯(cuò)誤,設(shè)計(jì)和整體預(yù)算的成本就越低。事實(shí)上,在百億億次級(jí)調(diào)試時(shí)代,軟件應(yīng)用在十億門級(jí)設(shè)計(jì)仿真中需要進(jìn)行超過(guò)10億個(gè)周期的測(cè)試,這會(huì)進(jìn)一步加劇調(diào)試吞吐量方面的挑戰(zhàn)。除了軟件復(fù)雜性和SoC規(guī)模不斷增大之外,還有其他一些因素,如芯片與芯片之間和外部通信要求不斷增加。而這些需要更快、更強(qiáng)大的仿真系統(tǒng)。

仿真在芯片設(shè)計(jì)中調(diào)試驗(yàn)證軟硬件正確交互方面發(fā)揮著重要作用。通過(guò)快速鎖定測(cè)試失敗的根本原因,能夠加快芯片設(shè)計(jì)和驗(yàn)證過(guò)程。

在單個(gè)平臺(tái)上進(jìn)行10-MHz SoC仿真

正是在這種高壓環(huán)境下,電子器件公司持續(xù)投資購(gòu)置快速仿真和原型驗(yàn)證設(shè)施,為加速軟件啟動(dòng)、SoC驗(yàn)證和系統(tǒng)驗(yàn)證提供基礎(chǔ)。然而,并非所有驗(yàn)證系統(tǒng)都相同。有些情況下需要為同一個(gè)硬件驗(yàn)證流程購(gòu)買一套仿真系統(tǒng),以及一套原型驗(yàn)證系統(tǒng),并且在這兩個(gè)系統(tǒng)之間來(lái)回切換,以完成硬件調(diào)試和軟件驗(yàn)證。盡管這兩套系統(tǒng)可能采用共同的編譯和測(cè)試平臺(tái)方法,但仍需要為采購(gòu)和維護(hù)兩套系統(tǒng)而支付成本。此外,從工作流程的角度需要管理兩個(gè)平臺(tái)不同項(xiàng)目同時(shí)運(yùn)行的工作。

除了軟件啟動(dòng)外,更好的驗(yàn)證方法是采用運(yùn)行速度更快的單個(gè)仿真系統(tǒng)。利用單一平臺(tái),開發(fā)者可以使用一個(gè)通用的預(yù)約系統(tǒng)運(yùn)行所有工作,從而更有效地執(zhí)行調(diào)試計(jì)劃。還可以靈活地購(gòu)買所需要的容量,而無(wú)需投資購(gòu)置兩套系統(tǒng)。新思科技的ZeBu EP1 emulation system具有所有這些優(yōu)勢(shì),這是業(yè)界首個(gè)10-MHz仿真解決方案,是20億門級(jí)SoC設(shè)計(jì)的理想選擇。該系統(tǒng)基于系統(tǒng)中FPGA之間的直連架構(gòu),最大限度減少處理延遲,并提高性能。ZeBu EP1還提供: ●系統(tǒng)級(jí)調(diào)試,包括快速波形輸出 ●業(yè)內(nèi)最低的總體成本,同時(shí)考慮了冷卻和電力等運(yùn)營(yíng)費(fèi)用以及運(yùn)行單個(gè)系統(tǒng)的更低總體開銷 ●高可靠性,這一點(diǎn)已通過(guò)新思科技ZeBu仿真系統(tǒng)的成功經(jīng)驗(yàn)得到了證明

ZeBu EP1為汽車、5G基礎(chǔ)設(shè)施、邊緣AI和HPC等領(lǐng)域的SoC提供了所需的容量和性能(即使完整的HPC SoC對(duì)于系統(tǒng)來(lái)說(shuō)規(guī)模太大,ZeBu EP1也可以支持其大型IP塊)。ZeBu系列產(chǎn)品是新思科技Verification Continuum解決方案的組成部分,旨在幫助更早更快地發(fā)現(xiàn)SoC錯(cuò)誤,更早啟動(dòng)軟件并驗(yàn)證整個(gè)系統(tǒng)。

責(zé)任編輯:haq

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原文標(biāo)題:新思科技Zebu EP1加速SoC驗(yàn)證應(yīng)對(duì)復(fù)雜芯片設(shè)計(jì)需求

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    發(fā)表于 06-12 08:05

    STM32G473 flash擦除時(shí)程序卡死的原因?

    ,也有更新4次、6次卡死的。我嘗試在進(jìn)行擦除之前關(guān)中斷 __disable_irq();發(fā)現(xiàn)測(cè)試連續(xù)30次升級(jí)都沒卡死,但沒有找到根本原因。注:調(diào)用擦除bank的函數(shù)執(zhí)行在CAN接收中斷里的一個(gè)自定義
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