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利用橫向色散超透鏡陣列和單色成像傳感器構(gòu)建了超緊湊型光譜光場(chǎng)成像系統(tǒng)

MEMS ? 來(lái)源:麥姆斯咨詢 ? 作者:麥姆斯咨詢 ? 2022-06-02 10:36 ? 次閱讀

據(jù)麥姆斯咨詢報(bào)道,近日,南京大學(xué)王振林教授和祝世寧院士團(tuán)隊(duì)在Nature Communications上報(bào)道其通過(guò)利用橫向色散超透鏡陣列和單色成像傳感器構(gòu)建了超緊湊型光譜光場(chǎng)成像系統(tǒng)(spectral light-field imaging,SLIM)。SLIM只需一次快照,即可呈現(xiàn)具有4nm光譜分辨率和接近衍射極限分辨率的高級(jí)成像。因此,通過(guò)SLIM可以區(qū)分視覺上無(wú)法區(qū)分的物體和材料,這極大地推動(dòng)了理想全光成像技術(shù)的發(fā)展。

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基于超透鏡陣列的光譜光場(chǎng)成像


光學(xué)成像是一項(xiàng)重要的技術(shù),廣泛用于收集物體的空間信息,從高山大樓到微觀細(xì)胞甚至分子。為了解決平面成像深度分辨率的不足,各種三維(3D)成像技術(shù)(例如光場(chǎng)成像、立體視覺、結(jié)構(gòu)光照明和帶有附加光源的飛行時(shí)間法)已被用于有效地獲取拍攝場(chǎng)景或?qū)ο蟮?D空間信息。此外,基于麥克斯韋三元色理論的彩色成像為傳統(tǒng)的單色成像引入了一個(gè)新的維度,即光譜維度,其簡(jiǎn)單地將所有光譜整合成一個(gè)單一的強(qiáng)度。雖然三色機(jī)制(紅、綠、藍(lán))廣泛應(yīng)用于商品成像和顯示產(chǎn)品中,但在材料鑒別、工業(yè)檢測(cè)和同色異譜識(shí)別等各種應(yīng)用領(lǐng)域?qū)θ庾V信息的需求日益迫切。因此,傳統(tǒng)成像與光譜學(xué)的融合已成為光學(xué)成像發(fā)展的必然趨勢(shì)。

在過(guò)去的十年中,科研學(xué)者已經(jīng)開發(fā)出許多結(jié)合傳統(tǒng)平面成像的高效光譜成像技術(shù),例如編碼孔徑快照光譜成像儀(coded aperture snapshot spectral imager,CASSI)、計(jì)算機(jī)斷層成像光譜儀(computed tomographic imaging spectrometer,CTIS)和棱鏡掩模調(diào)制成像光譜儀(prism-mask modulation imaging spectrometer,PMIS)。盡管其性能和快照能力令人印象深刻,但嵌入相機(jī)中的各種光學(xué)元件,例如棱鏡、透鏡、光柵和掩模,都非常笨重,這嚴(yán)重阻礙了相機(jī)更廣泛的應(yīng)用。另一方面,一種能夠以超緊湊的尺寸和高質(zhì)量的性能獲取四維信息(4D信息:3D空間信息加上1D光譜信息)的先進(jìn)成像技術(shù)尚未得到有效開發(fā)。

近年來(lái),超表面因其輕薄特性而備受青睞,這使其成為笨重、復(fù)雜的體光學(xué)器件的理想替代品。由密集排列的納米天線組成的超表面可以精確控制入射光的相位、強(qiáng)度、偏振、軌道角動(dòng)量和頻率。迄今為止,在所有基于超表面的平面光子器件中,超透鏡是最典型和最突出的。通過(guò)定制化的納米天線,超薄超透鏡在效率、數(shù)值孔徑(numerical aperture,NA)、寬帶消色差、彗差消除等方面表現(xiàn)出相當(dāng)甚至更好的性能。最近,基于超透鏡陣列的光場(chǎng)成像系統(tǒng)也被證明可以在可見光范圍內(nèi)獲得3D信息而沒有任何色差。開創(chuàng)性的工作還包括利用超表面或其他納米結(jié)構(gòu)以緊湊的配置獲得了高質(zhì)量的光譜。然而,盡管這一進(jìn)展為光譜信息獲取奠定了良好的基礎(chǔ),但由于難以同時(shí)實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量光譜和高3D空間分辨率,4D成像仍然遙遙無(wú)期。

近期,南京大學(xué)王振林教授和祝世寧院士團(tuán)隊(duì)利用橫向色散超透鏡陣列構(gòu)建了超緊湊型光譜光場(chǎng)成像(SLIM)系統(tǒng),其通過(guò)單色傳感器的一次快照記錄4D信息。SLIM的主要部件是48 × 48個(gè)TiO2基超透鏡陣列,其與單色CMOS圖像傳感器相結(jié)合。每個(gè)超透鏡的直徑為30μm,包含了超過(guò)25000個(gè)TiO2納米柱和納米孔。值得一提的是,所設(shè)計(jì)的納米柱具有近乎完美的垂直側(cè)壁,且最大縱橫比達(dá)到了40,這對(duì)于控制超透鏡陣列的有效折射率至關(guān)重要。

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橫向色散超透鏡示意圖及超透鏡陣列的掃描電子顯微鏡(SEM)圖像


研究人員所提出的SLIM的本質(zhì)是在通過(guò)超透鏡陣列(一種元件代替多種元件:橫向色散元件+代碼孔徑/掩模+微透鏡陣列)成像期間,可以為每個(gè)子孔徑自然地形成邊界約束,從而獲得更緊湊的結(jié)構(gòu)和高光線吞吐量。在所提出的SLIM中,圖像被每個(gè)子孔徑分離,這也是用于重建算法的先驗(yàn)知識(shí)。

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SLIM光譜重建算法的數(shù)值模擬結(jié)果


在這項(xiàng)工作中,SLIM顯示了超越傳統(tǒng)成像系統(tǒng)的能力。品紅色化學(xué)織物布和水彩紙兩種材料在可見光區(qū)域顯示出非常相似的光譜分布。當(dāng)使用典型的平面成像相機(jī)時(shí),由于缺乏來(lái)自高分辨率光譜信息的深度信息和材料特性,只能捕獲品紅色“Φ”形圖像。無(wú)論是光場(chǎng)成像還是光譜成像都不能完全揭示這兩個(gè)物體之間的差異,只有同時(shí)獲得4D信息的SLIM成像才能解決此問題。這兩種材料的光譜在618nm和626nm處有接近的峰。采用經(jīng)過(guò)訓(xùn)練的光譜重建算法后,光譜分辨率最高可達(dá)4?nm,可以很好地區(qū)分這兩個(gè)光譜峰。因此,SLIM捕獲的高分辨率光譜非常適應(yīng)于材料識(shí)別和偽裝鑒別。

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利用SLIM進(jìn)行材料識(shí)別


研究人員表示,通過(guò)SLIM系統(tǒng)捕獲的4D信息可以輕松地將變色龍與環(huán)境區(qū)分開。值得注意的是,SLIM的應(yīng)用不限于可見光透射/反射/發(fā)射光譜。同樣的概念可以擴(kuò)展到紅外和拉曼信號(hào)場(chǎng)景。此外,緊湊型SLIM主要是在輕薄的超透鏡陣列中實(shí)現(xiàn),可與光子芯片或光纖等光學(xué)部件集成。基于超透鏡陣列的SLIM的4D成像能力將徹底改變現(xiàn)代光學(xué)和生物光學(xué)系統(tǒng)。


論文信息:
Hua, X., Wang, Y., Wang, S. et al. Ultra-compact snapshot spectral light-field imaging. Nat Commun 13, 2732 (2022).
https://doi.org/10.1038/s41467-022-30439-9

審核編輯 :李倩

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原文標(biāo)題:南京大學(xué)開發(fā)出基于超透鏡陣列的光譜光場(chǎng)成像系統(tǒng)

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