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PCB自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的自動(dòng)選取定位核滿足實(shí)時(shí)性

新機(jī)器視覺(jué) ? 來(lái)源:3D視覺(jué)工坊 ? 作者:白楊楊 ? 2022-07-06 11:12 ? 次閱讀
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PCB自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)是如何工作的?(視頻)PCB產(chǎn)品AOI檢測(cè),需要將模版與實(shí)際圖像對(duì)齊,因此需要定位功能。定位功能就需要選取定位核,定位核的提取方法分為手動(dòng)和自動(dòng)。基于人眼視覺(jué)特征對(duì)區(qū)域敏感度判斷的手動(dòng)提取法存在很大的局限性,且當(dāng)需要較多定位核時(shí)建模復(fù)雜,因此目前廣泛應(yīng)用的是自動(dòng)提取法。 PCB由于高精度成像和高標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)需求,決定了一個(gè)料號(hào)可能需要幾百甚至上千個(gè)定位核,所以需要實(shí)現(xiàn)自動(dòng)選取定位核的功能;檢測(cè)時(shí)料號(hào)是未知的,且切換比較頻繁,所以無(wú)法離線選取定位核,因此算法要求滿足實(shí)時(shí)性。

1 功能說(shuō)明

自動(dòng)定位核選取模塊主要功能如下:1)支持多個(gè)相互獨(dú)立的全功能型定位核選取

cd9b01c6-e63b-11ec-ba43-dac502259ad0.png

圖1 全功能型定位核演示2)支持組合定位核的選取

cdc48122-e63b-11ec-ba43-dac502259ad0.png

圖2 組合型定位核演示3)支持單向(任意方向)定位核的選取

cde77c68-e63b-11ec-ba43-dac502259ad0.png

圖 3 單向定位核演示4)增加局部唯一性驗(yàn)證,支持兩種不同的定位模式,NCC和Shape

2 算法設(shè)計(jì)

根據(jù)常見(jiàn)的定位算法的原理可知,選取定位核應(yīng)選擇: 1)梯度信息豐富的地方,并且該梯度信息在水平和垂直方向都有分量; 2)在一定范圍內(nèi)滿足唯一性。

圖 4 彩色圖及對(duì)應(yīng)的梯度圖PCB產(chǎn)品的模板圖像一般由Gerber或ODB++文件解碼生成,因此自動(dòng)選定位核的輸入圖像一般為二值圖,圖案由直線和弧形組成,其所對(duì)應(yīng)梯度信息如下圖所示:

ce5724f0-e63b-11ec-ba43-dac502259ad0.png

ce806504-e63b-11ec-ba43-dac502259ad0.png

圖5 PCB二值圖及對(duì)應(yīng)的梯度圖可見(jiàn),適合選取定位核的位置如下圖所示:

cea85b36-e63b-11ec-ba43-dac502259ad0.png

圖6 可選為定位核的位置

2.1設(shè)計(jì)概要

在定位核的選取過(guò)程中,遵循的原則如下:

優(yōu)先選擇滿足條件的全功能型定位核;

若無(wú)全功能型定位核,則篩選出滿足條件的組合定位核;

若無(wú)組合定位核,則篩選出單向定位核。

2.2 算法流程

ceb82ee4-e63b-11ec-ba43-dac502259ad0.png

2.2.1 圖像降采樣

圖像降采樣,即采樣點(diǎn)數(shù)減少。對(duì)于一幅N*M的圖像來(lái)說(shuō),如果降采樣系數(shù)為k,則即是在原圖中每行每列每隔k個(gè)點(diǎn)取一個(gè)點(diǎn)組成一幅圖像。 采取降采樣的目的是為了降低處理時(shí)間。

2.2.2 提取亞像素輪廓XLD

cf04251a-e63b-11ec-ba43-dac502259ad0.png

降采樣后的圖像

cf23a0d4-e63b-11ec-ba43-dac502259ad0.png

亞像素輪廓圖XLD代表亞像素精度的邊緣輪廓和多邊形,并不是沿著像素與像素交界的地方,而是經(jīng)過(guò)插值之后的位置。

2.2.3 獲得備選定位核

cf3401c2-e63b-11ec-ba43-dac502259ad0.png

全功能型定位核

cf48811a-e63b-11ec-ba43-dac502259ad0.png

單方向定位核實(shí)現(xiàn)流程:

將亞像素輪廓XLD轉(zhuǎn)為多邊形輪廓XLD(Ramer算法);

cf6e75f0-e63b-11ec-ba43-dac502259ad0.png

亞像素輪廓XLD

cf8daae2-e63b-11ec-ba43-dac502259ad0.png

多邊形輪廓XLD

遍歷多邊形輪廓XLD,依次獲取多邊形輪廓對(duì)應(yīng)的N個(gè)離散點(diǎn)、N-1個(gè)角度,并計(jì)算當(dāng)前離散點(diǎn)即拐點(diǎn)對(duì)應(yīng)的夾角Angle。這些離散點(diǎn)就是各個(gè)疑似定位核的中心點(diǎn);

cfb3130e-e63b-11ec-ba43-dac502259ad0.png

離散點(diǎn)即拐點(diǎn)圖示

通過(guò)拐點(diǎn)夾角Angle計(jì)算各自的正交值Orthogonality,超過(guò)設(shè)定的分值加入待選的全功能型定位核中,否則加入到單向定位核中,其中:

Orthogonality = abs(Angle-ORTHANGLE)/ ORTHANGLE。其中:ORTHANGLE = PI/2;

2.2.4 全功能型定位核選取

實(shí)現(xiàn)流程:

按照正交分值從大到小排序;

依次驗(yàn)證唯一性(在一定范圍內(nèi)進(jìn)行模板匹配,判斷找到的數(shù)目是否為1),找到要求的數(shù)目即返回;

2.2.5 組合型定位核選取

若沒(méi)有找到符合條件的全功能型定位核,或找到的數(shù)目不夠,則選取滿足條件的組合型定位核。實(shí)現(xiàn)流程:

對(duì)剩余的定位核進(jìn)行排序(全功能型定位核按照正交值從大到小排序,單向定位核按照水平、垂直、任意方向的類別依次排序);

找到所有符合組合型定位核條件的定位核組(兩個(gè)),滿足以下條件之一即可:

1 定位核組中至少有一個(gè)全功能型定位核; 2 若均是單向定位核,則根據(jù)兩者的方向角度差計(jì)算正交分值,大于等于設(shè)定的正交值。

依次驗(yàn)證唯一性(在一定范圍內(nèi)進(jìn)行模板匹配,判斷找到的數(shù)目是否為1),找到要求的數(shù)目即返回;

單向定位核判斷是否滿足組合條件的流程如下: Step1:?jiǎn)蜗蚨ㄎ缓税凑账?、垂直、任意方向的類別依次排序,類別相同則按照歸一化后的角度從小到大排序; Step2:去除相鄰角度相同的定位核(僅保留一個(gè)),得到不同方向的定位核組; Step3:遍歷定位核組,兩兩計(jì)算對(duì)應(yīng)的夾角,篩選出滿足正交分值的定位核組對(duì)(兩個(gè)); Step4:按照每組對(duì)的正交分值進(jìn)行排序; Step5:遍歷所有的組對(duì),每組找到對(duì)應(yīng)的所有的單向定位核,依次計(jì)算定位核的距離是否滿足最小值,若滿足直接返回,否則找到為止。

2.2.6 單向定位核選取

實(shí)現(xiàn)流程:?jiǎn)蜗蚨ㄎ缓税凑账?、垂直、任意方向的類別依次排序,返回第一個(gè)。

3 模塊輸出

可將模塊封裝成獨(dú)立的dll,接口函數(shù)如下:

pYYBAGLE_e6AWkyGAABHDNi59Y8340.png

pYYBAGLE_gCAUISaAAAVsFbL_y4443.png

參數(shù)界面如下所示:

cfd5b116-e63b-11ec-ba43-dac502259ad0.png


審核編輯:郭婷

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原文標(biāo)題:缺陷檢測(cè) | PCB AOI質(zhì)量檢測(cè)之自動(dòng)定位核選取算法

文章出處:【微信號(hào):vision263com,微信公眾號(hào):新機(jī)器視覺(jué)】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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