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利用3D NAND克服工業(yè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)問題

星星科技指導(dǎo)員 ? 來源:嵌入式計(jì)算設(shè)計(jì) ? 作者:Ralph Thomson ? 2022-11-28 17:04 ? 次閱讀
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隨著對(duì)新特性和功能需求的增加,大容量存儲(chǔ)在嵌入式工業(yè)應(yīng)用中的使用持續(xù)增長(zhǎng)。雖然通過增加NAND芯片容量使更復(fù)雜的GUI和應(yīng)用成為可能;更快的接口和各種托管NAND解決方案的可用性;尋找能夠應(yīng)對(duì)極端環(huán)境需求的足夠固態(tài)存儲(chǔ)解決方案的挑戰(zhàn)仍然存在。幸運(yùn)的是,NAND存儲(chǔ)介質(zhì)和控制器設(shè)計(jì)的發(fā)展意味著現(xiàn)在可以使用更可靠和更具成本效益的選項(xiàng)。

滿足極端環(huán)境的需求

嵌入式設(shè)計(jì)人員對(duì)大容量存儲(chǔ)功能的愿望清單中,高可靠性通常是最重要的。清單上還有對(duì)沖擊和振動(dòng)的高機(jī)械抵抗力的需求,這通常排除了使用可移動(dòng)存儲(chǔ),轉(zhuǎn)而使用焊接球柵陣列(BGA)設(shè)備。保證在擴(kuò)展溫度范圍內(nèi)的工作也可以添加到列表中。此外,理想的解決方案應(yīng)該長(zhǎng)期可用,以防止昂貴且耗時(shí)的存儲(chǔ)設(shè)備重新認(rèn)證。

實(shí)際使用案例 — 尋找合適的存儲(chǔ)解決方案

在 SSD 中,數(shù)據(jù)完整性和電源故障數(shù)據(jù)保護(hù)的優(yōu)勢(shì)至關(guān)重要,這是一個(gè)實(shí)際用例,那就是火車制動(dòng)管理系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)。雖然運(yùn)輸系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員非常小心地確保穩(wěn)定的電力供應(yīng),但掉電并不是完全可以預(yù)防的。如果沒有內(nèi)置的固有電源故障保護(hù),則存在明顯的數(shù)據(jù)損壞風(fēng)險(xiǎn)。如果受影響的文件是操作系統(tǒng)或應(yīng)用程序軟件的一部分,這可能意味著制動(dòng)管理系統(tǒng)的重大故障。典型的制動(dòng)管理系統(tǒng)監(jiān)控關(guān)鍵參數(shù),例如總使用小時(shí)數(shù)、制動(dòng)效率和溫度,以告知關(guān)鍵的維護(hù)計(jì)劃。記錄此數(shù)據(jù)期間的故障可能意味著錯(cuò)過或不必要的停機(jī)時(shí)間以及增加的維護(hù)成本。

為這種類型的嵌入式應(yīng)用選擇合適的 SSD 至關(guān)重要。在許多情況下,單級(jí)單元(SLC)NAND存儲(chǔ)器可能是理想的技術(shù),它既提供強(qiáng)大的數(shù)據(jù)保留能力,又提供高編程和擦除(P/E)周期。但是,這種技術(shù)的主要問題是缺乏高容量選項(xiàng)和更高的內(nèi)存成本。如果我們考慮一種低成本的技術(shù),如平面(2D)多層單元(MLC)NAND,每個(gè)單元可容納兩個(gè)位,我們會(huì)立即獲得更經(jīng)濟(jì),更高容量的選擇。在大多數(shù)情況下,可用的耐久性為 3,000 到 10,000 P/E 周期,這對(duì)于許多應(yīng)用來說已經(jīng)足夠了。

完美的解決方案?

嗯,不完全是。

平面MLC NAND將其兩位數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在一個(gè)存儲(chǔ)單元中。這兩個(gè)位位于兩個(gè)不同的配對(duì)頁面中,這些頁面在不同的階段進(jìn)行編程。這意味著,如果在寫入一頁時(shí)電源出現(xiàn)故障,則配對(duì)頁中的數(shù)據(jù)也可能損壞。主機(jī)文件系統(tǒng)可能能夠管理在電源故障時(shí)正在寫入的頁面,但在以后嘗試讀取該數(shù)據(jù)之前,它不會(huì)知道損壞的配對(duì)頁面。配對(duì)頁面的內(nèi)容將包含不可更正 (UNC) 數(shù)據(jù),其中每個(gè)單元格的充電狀態(tài)不確定,無法解析為 0 或 1。

防止這種情況的傳統(tǒng)解決方案包括將驅(qū)動(dòng)器的電源保留足夠的時(shí)間,以允許頁面程序操作完成。這可以通過板載斷電保護(hù)電容來實(shí)現(xiàn),為頁面程序時(shí)間和一些程序延遲提供足夠的電荷。如果正在使用的驅(qū)動(dòng)器具有 DRAM 緩存,則存儲(chǔ)的能量需要顯著增加,以防止緩存內(nèi)容丟失。典型的斷電保護(hù)(PLP)解決方案可能類似于圖1中的通用示例。

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圖1:通用電源保持電路

新型 NAND 技術(shù)

內(nèi)存架構(gòu)的最新進(jìn)展使一類新的基于 3D NAND 的固態(tài)存儲(chǔ)解決方案成為可能,消除了配對(duì)頁面問題。3D NAND 使用垂直堆疊的存儲(chǔ)單元層,可提供與平面 NAND 閃存相同的耐用性,具有更高的成本效益和更快的性能。借助美光的工業(yè)級(jí) 3D MLC NAND,現(xiàn)在可以一次性完成編程,同時(shí)對(duì)兩個(gè)頁面進(jìn)行編程。圖2中單程編程的表示顯示了MLC NAND中電池的經(jīng)典閾值電壓(Vt)分布,以及如何將充電狀態(tài)解碼為這些電池的位值。

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圖 2:?jiǎn)纬叹幊痰谋硎?/p>

上頁和下頁可由NAND閃存控制器在一次操作中編程,因此電池電荷同時(shí)移動(dòng)到兩個(gè)頁面所需的水平,從而有效地消除了電源中斷期間配對(duì)頁面中數(shù)據(jù)損壞的可能性??刂破饔胸?zé)任確保塊中的頁面按順序編程,并且下部和上部頁面地址位于共享字行 (WL) 上。

美光的3D NAND+Greenliant的NANDrive解決方案

具有智能控制器,例如Greenliant開發(fā)的用于其小型eMMC NANDrive BGA SSD的控制器,以及3D MLC NAND的單程編程功能。制動(dòng)管理系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員現(xiàn)在可以確保存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)不受突然斷電的影響。

控制器在一個(gè)步驟中對(duì)所有狀態(tài)進(jìn)行編程,而不會(huì)干擾相鄰單元,從而降低驅(qū)動(dòng)器上已有數(shù)據(jù)(稱為“靜態(tài)數(shù)據(jù)”)的風(fēng)險(xiǎn)。此外,該控制器通過使用美光先進(jìn)的 3D NAND 功能,有助于最大限度地減少傳輸中或傳輸中的數(shù)據(jù)損壞(在臨時(shí) DRAM 或 SRAM 緩存緩沖區(qū)中)。

如果寫入操作中途電源出現(xiàn)故障,主機(jī)通??梢允褂萌沼浕蚱渌恍┦聞?wù)故障保護(hù)協(xié)議來確定最后一個(gè)寫入的文件未完成,因此應(yīng)忽略或替換該文件中的數(shù)據(jù)。如果應(yīng)用程序使用小型寫入,則最好是 NAND 頁面的大小。然后,復(fù)雜的控制器固件將使用利用3D NAND自動(dòng)讀取校準(zhǔn)的高級(jí)算法來嘗試恢復(fù)最后一頁,即使在寫入操作期間電源出現(xiàn)故障也是如此。

控制器自適應(yīng)閾值電壓調(diào)諧進(jìn)一步增強(qiáng)了控制器恢復(fù)最后一頁數(shù)據(jù)的能力。為了保留由于過度 P/E 循環(huán)導(dǎo)致的介電泄漏而可能丟失的數(shù)據(jù),控制器還可以定期刷新存儲(chǔ)單元中的數(shù)據(jù)。

通過實(shí)施上述所有功能,Greenliant的工業(yè)eMMC 5.1 SSD和美光的3D MLC NAND已成功通過廣泛的電源故障測(cè)試(數(shù)千次電源中斷周期),而不會(huì)在制動(dòng)管理系統(tǒng)中損壞數(shù)據(jù)。

審核編輯:郭婷

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