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如何選擇合適的氦質(zhì)譜檢漏方法?

上海伯東Hakuto ? 來(lái)源:上海伯東Hakuto ? 2023-02-15 14:09 ? 次閱讀

上海伯東依據(jù)專業(yè)知識(shí)和技術(shù)支持, 從設(shè)計(jì)階段到最終實(shí)施檢漏解決方案的全程服務(wù), 針對(duì)不同產(chǎn)品和工況, 提供不同工作原理的泄漏檢測(cè)設(shè)備 (氦質(zhì)譜檢漏儀,微流量空氣檢漏儀,質(zhì)量提取泄漏測(cè)試儀) 滿足生產(chǎn)和研發(fā)過(guò)程中實(shí)際的, 更經(jīng)濟(jì)的要求. 不論是高靈敏度要求的半導(dǎo)體器件, 工業(yè)應(yīng)用中的熱交換器, 電池組件還是制藥行業(yè)的注射器或玻璃小瓶的包裝,,, 均能提供適合的檢漏方案.

微流量空氣檢漏儀:在壓力條件下使用微流量傳感器進(jìn)行空氣泄漏測(cè)試

該技術(shù)以使用加速流的集成微型傳感器為基礎(chǔ). 當(dāng)空氣從被測(cè)組單元或組件泄漏時(shí), 通過(guò)微流量傳感器補(bǔ)充空氣損失, 以保持恒定的壓力. 損耗導(dǎo)致電信號(hào)與體積流量, 質(zhì)量流量分別成比例. 微流量傳感器因此與壓力容器一起運(yùn)行, 并具有 5X10-4mbar l/s 的靈敏度, 壓力容器用于給被測(cè)單元 (UUT) 加壓. 這種測(cè)試方法通常只需要簡(jiǎn)單的固定裝置.

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質(zhì)量提取泄漏測(cè)試儀:使用批量提取(真空條件)進(jìn)行空氣泄漏測(cè)試,靈敏度可高達(dá) 6.7X10-7mbar l/s.

微流量傳感器技術(shù)的一種特殊形式叫做批量提取技術(shù). 其基本原理與微流量方法相似, 但為了達(dá)到更高的靈敏度, 在真空條件下進(jìn)行測(cè)試. 該方法集成了傳感器設(shè)計(jì), 可以在連續(xù)體/滑流條件 (較低真空)和過(guò)渡/分子流狀態(tài)(較高真空)下運(yùn)行. 該技術(shù)可用于包裝或電子機(jī)箱等密封容器的泄漏測(cè)試. 將被測(cè)單元置于壓力條件低至 1 mbar 或更低的真空室中. 在真空室抽真空之后, 真空室和真空容器之間的余流可用于確定被測(cè)零件的泄漏率.

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上海伯東提供美國(guó)ATC 空氣泄漏檢測(cè)儀, 獲得 SAE, USP (1207), 美國(guó) FDA ASTM (F3287-17) 等認(rèn)證. 專利 Micro-Flow微流空氣泄漏試驗(yàn)技術(shù), 通過(guò)加壓或抽真空方式, 測(cè)試產(chǎn)品的密封性.ATC 檢漏儀適用于新能源電池檢漏,制藥包裝密封性檢測(cè) CCIT, 汽車油管, 消費(fèi)電子 IP 防水等應(yīng)用.

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氦質(zhì)譜檢漏儀: 扇形場(chǎng)質(zhì)譜儀的工作原理,當(dāng)漏率要求小于 1X10-7mbar l/s 時(shí), 建議使用氦質(zhì)譜檢漏儀

由于其相對(duì)簡(jiǎn)單, 堅(jiān)固的設(shè)計(jì), 扇形場(chǎng)質(zhì)譜儀用于使用示蹤氣體的泄漏檢測(cè), 通常調(diào)諧到氦氣 4u 的檢測(cè)質(zhì)量, 氣體分子通過(guò)電子轟擊在離子源中離子化, 然后使用電子電壓加速到扇形磁場(chǎng). 或者, 也可以使用質(zhì)量為 2u 的氫氣來(lái)進(jìn)行這種檢漏測(cè)試. 氦或氫分子能夠通過(guò)專用狹縫以到達(dá)檢測(cè)器, 而所有其它現(xiàn)有分子不能通過(guò)并因此被重新中和. 測(cè)量的離子電流與氣體分壓成正比.真空環(huán)境中的氦氣檢漏率為 5X10-12mbar l/s.

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使用上海伯東氦質(zhì)譜檢漏儀, 可以進(jìn)行基于真空法和吸槍法的快速檢漏

真空法是氦質(zhì)譜檢漏儀最靈敏的檢漏方法. 該方法中, 被測(cè)產(chǎn)品被放置在真空室內(nèi), 先抽真空然后用氦氣填充. 為了定位泄漏, 需要使用氦氣噴槍或吸槍. 當(dāng)使用噴槍時(shí), 被測(cè)產(chǎn)品連接到檢漏儀, 并從外部向被測(cè)產(chǎn)品噴射氦氣的同時(shí)抽真空.真空環(huán)境中的氦氣檢漏率為 5X10-12mbar l/s.

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對(duì)于吸槍法, 被測(cè)產(chǎn)品用氦氣加壓, 并用吸槍探頭在外面進(jìn)行嗅探, 該探頭連接到檢漏儀, 吸槍法氦氣檢漏率為 1X10-8mbar l/s.

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上海伯東代理德國(guó) Pfeiffer氦質(zhì)譜檢漏儀, 從便攜式氦質(zhì)譜檢漏儀到檢漏模塊, 提供負(fù)壓檢漏 (真空法) 和正壓檢漏(吸槍法), 滿足各種應(yīng)用.氦質(zhì)譜檢漏儀與傳統(tǒng)泡沫檢漏和壓差檢漏對(duì)比, 在提供無(wú)損檢漏的同時(shí)可以檢測(cè)出更小的漏率5X10-12mbar l/s., 利用氦氣作為示蹤氣體定位, 定量漏點(diǎn).氦質(zhì)譜檢漏儀滿足單機(jī)檢漏, 也可集成在檢漏系統(tǒng)或 PLC.

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如何選擇合適氦質(zhì)譜檢漏方法?

首先需要設(shè)定所需的氣密性標(biāo)準(zhǔn) — 即最大泄漏率. 這里面臨的一個(gè)挑戰(zhàn)是定義泄漏率, 需要考慮不同的單位. 通常, 以流速單位來(lái)規(guī)定泄漏率. 下表概述了通用流速測(cè)量單位及其轉(zhuǎn)換.

Pa m3 s-1 mbar · l s-1 Torr · l s-1 atm cm3 s-1 sccm slm 分子 s-1
Pa m3 s-1 1 10 7.5 9.87 5.92X102 5.92X10-2 2.651X1020
mbar · l s-1 1X10-1 1 7.5X10-1 9.87X10-1 5.92X101 5.92X10-2 2.651X1019
Torr · l s-1 1.33X10-1 1.333 1 1.32 7.89X101 7.89X10-2 3.535X1019
atm cm3 s-1 1.01X10-1 1.01 7.5X10-1 1 5.98X101 5.98X10-2 2.679X1019
sccm 1.69X10-3 1.69X10-2 1.27X10-2 1.67 X10-2 1 1X10-3 4.486X1017
slm 1.69 1.69X101 1.27X101 1.67X101 1 X103 1 4.486X1014
分子 s-1 3.77X10-21 3.77X10-20 2.83X10-20 3.72X10-20 2.23X1016 2.23X1019 1

常見(jiàn)泄漏流量測(cè)量單位及其轉(zhuǎn)換

定義應(yīng)用所需氣密性的另一種方法是確定最大缺陷尺寸 (針孔或微通道類型). 泄漏測(cè)試需要確保不超過(guò)該值. 當(dāng)漏率要求小于 1X10-7 mbar l/s 時(shí), 建議使用氦質(zhì)譜檢漏儀. 如果所需的泄漏率超過(guò)該值, 可以考慮的技術(shù)數(shù)量就會(huì)增加.下圖概述了潛在的泄漏測(cè)試方法及一些重要的特征.

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在選擇合適的泄漏測(cè)試方法之前, 建議考慮以下幾個(gè)方面

氣流量和節(jié)拍時(shí)間:如果泄漏測(cè)試程序在對(duì) 100% 的零件進(jìn)行泄漏測(cè)試的生產(chǎn)環(huán)境中, 氣流量或節(jié)拍時(shí)間是重要的參數(shù). 不過(guò)對(duì)于樣品測(cè)試和實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用, 循環(huán)時(shí)間則是不太重要的參數(shù).

泄漏測(cè)試條件:在許多情況下, 產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和特定的密封設(shè)定了所施加壓力和泄漏測(cè)試過(guò)程 (零件內(nèi)部或外部) 的要求. 一些密封件更適合于更高的壓力, 另一些則適合用于真空下的泄漏. 因此, 這里的泄漏測(cè)試通常包括將零件加壓至最大工作壓力, 以確保零件在最大工作條件下的完整性.

環(huán)境因素:環(huán)境條件可影響多種泄漏測(cè)試方法, 例如壓力衰減測(cè)試. 此時(shí), 穩(wěn)定時(shí)間和溫度控制對(duì)于確??煽康臏y(cè)量至關(guān)重要. 為了測(cè)試產(chǎn)生熱量的產(chǎn)品 (例如釬焊/焊接后), 或者在溫度變化較快的環(huán)境下進(jìn)行試驗(yàn), 可以采用真空空氣測(cè)試 (如批量提取) 或氦氣測(cè)試方法.

大多數(shù)應(yīng)用可以通過(guò)上海伯東空氣檢漏儀或氦質(zhì)譜檢漏儀進(jìn)行泄漏測(cè)試. 在下表中, 不同的應(yīng)用具有不同的泄漏率要求. 可以為檢漏應(yīng)用選擇更合適測(cè)試方法進(jìn)行參考.

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審核編輯:劉清

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原文標(biāo)題:如何選擇合適的檢漏方法

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