知用近場探頭在輻射干擾源定位測試的應(yīng)用
如果一個新產(chǎn)品在電磁干擾(EMI)預(yù)兼容測試或者標(biāo)準(zhǔn)兼容測試中失敗，進行故障診斷和改進是當(dāng)務(wù)之急。西安普科科技PRBTEK在經(jīng)過多方面選擇過程中，了解到知用有一套完整的測試方案，知用接收機和知用近場探頭就可以查找干擾源，完成輻射干擾源定位測試。
一、推薦設(shè)備：
知用接收機EM5080B+知用近場探頭EM5030 系列
近場探頭產(chǎn)品圖
接收機產(chǎn)品圖
二、輻射干擾源定位測試示意圖：
三、知用近場探頭規(guī)格：
EM5030/EM5030LF 系列探頭組包含了 7 個專門用來測試磁場(H)探頭，它有效地屏蔽了電場干擾(E)，主要用于電磁兼容整改時定位干擾源的近場探頭。 EM5030 的頻率范圍是 30MHz-3GHz，共4 種探頭形狀; EM5030LF 的頻率范圍是 9kHz-50MHz，共 3 種探頭形狀。EM5030E 系列探頭組包含了 2 個專門用來測試電場(E)的探頭，覆蓋頻率范圍為 30MHz 到 3GHz，主要應(yīng)用于查找電場干擾源，除了探頭其他部分均為屏蔽設(shè)計。
以上內(nèi)容由普科科技prbtek為您分享，近場探頭除了搭配接收機，也可配合頻譜分析儀查找干擾源，如想了解更多近場探頭測試方案，咨詢普科科技官網(wǎng)。
審核編輯：湯梓紅
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