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陸芯晶圓切割機:藍寶石基片在精密劃片機中劃切實驗

博捷芯半導體 ? 2022-03-15 13:50 ? 次閱讀
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藍寶石基片在精密劃片機中劃切實驗

1、 藍寶石材料特性

藍寶石(Al2O3)因其獨特的晶格結(jié)構(gòu)(電絕緣和透明)、優(yōu)異的力學性能(硬度高)、良好的熱學性能(易導熱)被廣泛用于半導體發(fā)光二極管、微電子電路、大規(guī)模集成電路光電元器件的制造中。同時,藍寶石熔點高、強度高、光透性高以及化學穩(wěn)定性強等特性被廣泛應用于智能設(shè)備、航空航天等領(lǐng)域。

GaN(氮化鎵)基LED芯片主要以藍寶石基板作為襯底材料,而其結(jié)構(gòu)組成中,GaN的厚度只有5μm左右,藍寶石厚度在450μm左右,減薄后的厚度100μm左右。因此對GaN基LED芯片的劃切就是對藍寶石基片的劃切。

藍寶石屬于硬脆材料,劃切工藝參數(shù)對劃切質(zhì)量有很重要的影響。下面通過試驗對藍寶石基片進行開槽劃切工藝試驗,研究工藝參數(shù)對藍寶石劃切影響規(guī)律,探究藍寶石劃切最優(yōu)工藝參數(shù),驗證自主研發(fā)全自動砂輪劃片機的性能。

2、試驗條件

本試驗中藍寶石基片劃切采用的設(shè)備為LX6366全自動精密劃片機,主軸最高轉(zhuǎn)速為60000r/min,采用2英寸刀片,如圖所示為LX6366劃切試驗裝置圖。選擇單面拋光藍寶石基片,厚度為0.43mm,2英寸大小,晶向為C面,藍寶石基片材料。

pYYBAGIwKQmAIm0SAABshpHCvbw418.jpgpoYBAGIwKQmAdqb-AAA2jqUlGos279.jpg

根據(jù)以往劃切經(jīng)驗以及刀具性能特性,選定藍寶石劃切工藝參數(shù)范圍為:主軸轉(zhuǎn)速為25000~35000r/min,進給速度為1~5mm/s,劃切深度為0.05~0.1mm。相鄰劃切道之間間距設(shè)置為5mm,每組工藝參數(shù)試驗2次,每條切縫長為30~50mm,測量長度為5mm,每1mm取一個點測量,以最大切縫寬和崩邊寬度作為試驗結(jié)果,每劃切一組參數(shù)進行刀具磨損補償一次,避免刀具磨損對試驗的影響。

由于藍寶石硬脆特性,而樹脂結(jié)合劑刀片自銳能力強,具有良好的彈性,可以減小崩邊尺寸,提高劃切工件表面質(zhì)量,因此選擇一種由熱固性樹脂作為結(jié)合劑與金剛石磨料燒結(jié)而成樹脂軟刀,磨料類型為金剛石,粒度為600#,磨粒尺寸為10-20μm,結(jié)合劑類型為硬,集中度為75,刀片外徑為?56mm,厚度為0.25mm,內(nèi)徑為?40mm,刀片露出量為3mm,具體試驗條件如圖所示。

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3、試驗步驟及測量方法

3.1 試驗步驟

首先將劃切材料通過藍膜粘貼在崩盤上,再將粘貼好的工件安裝在真空吸盤上,通過負壓固定工件,然后設(shè)置相應的劃切參數(shù),真空吸盤帶著工件沿著水平方向進給,當劃切完一道后,刀片抬起,真空吸盤帶著工件沿著進給的垂直方向移動一個設(shè)定的偏執(zhí)距離以進行下一道劃切。劃切過程中記錄控制系統(tǒng)顯示的主軸電流大小,劃切后通過金相顯微鏡對切縫寬、崩邊寬度以進行測量,通過白光干涉儀對切割道表面形貌進行觀測。

3.2試驗測量方法原理

試驗后采用精密金相數(shù)碼顯微鏡采集加工后的溝槽圖樣,并測量切縫寬 Kw、崩邊寬度C,崩邊寬度為分布在劃切道兩側(cè)的崩邊的最大值,如圖所示為金相顯微鏡,藍寶石劃切后切縫寬和崩邊寬度測量示意圖。本文不考慮刀具厚度對劃切效果的影響,采用相對縫寬 Kwr來表示劃切過程工藝參數(shù)對劃切道寬度的影響,計算公式為:

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試驗發(fā)現(xiàn)對當主軸轉(zhuǎn)速 n=35000r/min,進給速度 v=5mm/s,劃切深度 a=50μm時對藍寶石的劃切效果最好。切割道寬度為248.69μm,相對縫寬為0.995,最大崩邊寬度為6.94μm。如圖a)和b)所示為劃切深度分別為a=100um,a=50um時,不同劃切工藝參數(shù)下藍寶石開槽劃切的形貌圖。

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通過試驗及測量發(fā)現(xiàn),隨著主軸轉(zhuǎn)速的增加,切縫寬增大,即相對縫寬增大,而隨主軸轉(zhuǎn)速增大切割道崩邊情況在一定程度上有所改善。進給深度對相對縫寬的影響較小,隨著進給速度增加,崩邊寬度有減小趨勢。劃切深度對崩邊寬度影響很大,增大劃切深度刀片磨損趨勢加劇。

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