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干貨 | 第三代半導體器件可靠性檢測知多少?

廣電計量 ? 2022-06-20 15:33 ? 次閱讀
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第三代半導體作為一種理想的半導體材料,在新一代信息技術、新基建等領域得到了愈發(fā)廣泛的應用。根據(jù)CASA(第三代半導體產(chǎn)業(yè)技術創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟) Research數(shù)據(jù)顯示,2020年,我國第三代半導體產(chǎn)業(yè)整體總產(chǎn)值約7100億元,其中約7000億是LED相關產(chǎn)業(yè),市場相對成熟;而SiC、GaN電力電子和GaN微波射頻產(chǎn)值加起來約100 億元,但同比增長分別達到54%和80.3%。截至2020年底,國內(nèi)從事第三代半導體電力電子和微波射頻的企業(yè)超過170家,雖然整體產(chǎn)業(yè)規(guī)模和市場份額還較小,但是增長空間巨大,極具應用潛力,政策也在加碼扶持。

對于國內(nèi)企業(yè)而言,要獲取市場信任,檢測是證明第三代半導體質(zhì)量與可靠性的可行手段,同時也是提高其質(zhì)量可靠性的重要保障。為了更好地為行業(yè)解讀第三代半導體檢測需求,本文特邀廣電計量元器件篩選與失效分析中心總監(jiān)李汝冠博士分享其對第三代半導體的認識。

李汝冠 廣電計量元器件篩選與失效分析中心總監(jiān)

電子科技大學博士,高級工程師,半導體相關領域近10年工作經(jīng)驗,曾獲工信部“國防科技進步二等獎”,廣東省人社廳“2020年度廣東省百名博士博士后創(chuàng)新人物”,主持省部級科研項目三項、參與重大課題研究六項,授權國家發(fā)明專利7件、實用新型專利1件,發(fā)表學術論文二十余篇,其中SCI收錄15篇。

①第三代半導體是什么?

目前國內(nèi)將半導體劃分為第一代、第二代和第三代。

第一代半導體指的是硅(Si)和鍺(Ge)元素半導體,以Si為主。目前世界上Si占半導體器件的95%以上,99%的集成電路都是由Si材料制作的。

第二代半導體材料以砷化鎵(GaAs)、磷化銦(InP)化合物半導體為主,GaAs技術相對成熟已廣泛應用于信息通信產(chǎn)業(yè),但由于原材料昂貴且具有毒性所以具有一定的局限性。InP主要用于光纖通訊技術和毫米波通訊,但是高質(zhì)量的InP 單晶的制備更加困難,InP比GaAs更加昂貴。

第三代半導體也就是寬禁帶半導體,包括氮化鎵(GaN)、碳化硅(SiC)、氮化鋁(AlN)、氧化鋅(ZnO)、氧化鉀(Ga2O3)、金剛石等。Ga2O3又被稱為超寬禁帶半導體,金剛石被成為“終極半導體”; 最具代表性、目前最具發(fā)展?jié)摿Φ牡谌雽w是GaN和SiC;第三代半導體雖是一種很理想的半導體材料,但存在著生長困難、大尺寸技術未成熟、良率低、成本高等問題。

②第三代半導體和第一代、第二代半導體的關系是什么?

需要指出的是,第三代并不是要完全替代第一代、第二代的意思。因第三代半導體是在一些場合中具有比Si器件明顯的優(yōu)勢,而成為新一代信息技術產(chǎn)業(yè)和新基建的七大領域不可或缺的半導體材料。

圖:各種半導體禁帶寬度示意圖

上圖體現(xiàn)了第一代、第二代、第三代半導體之間禁帶寬度的差異--第三代半導體的禁帶寬度幾乎是前面兩者的3倍。這為第三代半導體帶來許多優(yōu)勢,簡單來講就是第三代半導體器件有“三高”:高頻率、高功率、高耐溫。同時第三代半導體在應用上能夠降低能耗、減小體積、減小重量,簡單來說是有三低:能耗低、體積小、重量輕。

③第三代半導體的應用領域及優(yōu)勢

第三代半導體在新基建七大領域都有其廣泛的應用前景。在5G基站領域, GaN PA(即氮化鎵功率放大器)是5G基站的最優(yōu)選擇,預計在2025年前,我國 5G 宏基站預計將建設超過500萬站,而5G宏基站、微基站、及毫米波基站帶來的GaN PA 市場規(guī)模將超過1000億元,而特高壓、高鐵和軌交、充電樁、大數(shù)據(jù)中心等高壓大功率領域都將是SiC的天下。

同時第三代半導體對實現(xiàn)“碳達峰、碳中和”起到至關重要的作用。

④第三代半導體檢測需求

未來 5 年將是第三代半導體產(chǎn)業(yè)發(fā)展的關鍵期。然而,產(chǎn)業(yè)的發(fā)展與前進通常是在曲折中探索,其中一個需要解決的就是信任問題。第三代半導體及器件為新材料、新器件、新技術,如何證明其質(zhì)量與可靠性已具備使用條件?而這背后的實質(zhì),則是缺乏長期、大規(guī)模應用的歷史數(shù)據(jù)。產(chǎn)業(yè)技術的發(fā)展尤為依賴大量檢測數(shù)據(jù)支撐(性能測試、可靠性評估試驗、分析表征等)。

目前第三代半導體的檢測需求包含性能測試、可靠性評估試驗、分析表征等一般性測試,同時由于第三代半導體的特點,目前國內(nèi)外也提出了一些針對與第三代半導體的特殊檢測需求。

大分類

項目

簡稱(涉及到的相關內(nèi)容)

性能參數(shù)測試

靜態(tài)參數(shù)測試

BVDSS/VGS(th)/IDSS/IGSS/RDS(on)/gfs/Cies/Coes/Cres……

動態(tài)參數(shù)測試

td(on) / td(off) / Tr / tf / Eon / Eoff / QG / Trr / Qrr……

極限能力測試

IFRM、IFSM、UIS

微波參數(shù)測試

RL / IL / Gain / Pout / Efficiency……

ESD測試

HBM/CDM/TLP

專用測試

/

可靠性評估

濕熱試驗

TH/UHAST/Autoclave

高溫高濕反偏試驗

H3TRB/HAST/AC-HTC

溫度循環(huán)試驗

TC

功率循環(huán)試驗

PC/IOL

高溫工作壽命試驗

HTRB/HTGB/HTOL/RF-HTOL

高低溫貯存試驗

HTSL/LTSL

低壓試驗

LPT

超長時間連續(xù)試驗

/

分析儀器

無損分析

X-Ray/SAT

熱分析

Electrical method/ Infrared radiation/ Raman scattering/ Thermoreflectance imaging

元素成分分析

EDS/XPS/SIMS

結(jié)構(gòu)分析

XRD/Raman

材料形貌分析

SEM/TEM/AFM

缺陷定位分析

EMMI/OBIRCH

微區(qū)定點制樣

DB-FIB

第三代半導體特殊檢測需求,主要包括電流崩塌、動態(tài)參數(shù)、柵氧缺陷的參數(shù)分離、高壓H3TRB及高壓HAST、動態(tài)H3TRB、超高溫的溫度循環(huán)、超高溫的高溫工作、超長時間連續(xù)試驗、熱分析技術、SiC MOS體二極管雙極性退化、SiC MOS偏壓溫度不穩(wěn)定性等等。

l電流崩塌 :GaN HEMT特有的電流崩塌現(xiàn)象,需要準確評估 。

l動態(tài)參數(shù)測試:SiC及GaN FET有更快的開關速度及邊緣速率,在動態(tài)參數(shù)測試設備開發(fā)上面臨新的挑戰(zhàn),如何確保測試結(jié)果的可重復性及可靠性是急需攻克的難題

l柵氧缺陷的參數(shù)分離 :SiC MOS柵氧缺陷的參數(shù)分離分析系統(tǒng),由于柵氧界面附近缺陷的作用,相比于Si器件,SiC MOSFET器件的性能不穩(wěn)定問題是一個突出的新問題。柵氧界面缺陷及性能不穩(wěn)定性是SiC MOSFET器件性能評測的重要參數(shù),開發(fā)其測試技術和測試裝備不但對于器件性能評測,而且對于指導優(yōu)化制造工藝具有非常重要的作用和實際意義。

⑤廣電計量解決方案

第三代半導體具有廣泛的應用,已成為戰(zhàn)略物資,被美國列入301管制清單。檢測是提高半導體器件質(zhì)量與可靠性的重要保障,廣電計量作為國有檢測機構(gòu),在我國第三代半導體發(fā)展過程中,秉承國企擔當,為光電子、電力電子、微波射頻等第三代半導體三大應用領域構(gòu)筑了較為全面的能力。目前,廣電計量在光電子檢測領域合作客戶數(shù)十家,涉及型號近百個;在電力電子領域,覆蓋了現(xiàn)行所有可靠性測試標準,單在SiC領域合作客戶十余家,涉及產(chǎn)品型號超過30個;在微波射頻領域,助力完成國內(nèi)第一個車規(guī)標準的微波射頻的測試,并向更高頻率、更高功率領域布局。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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