在進行EMC抗擾度測試時，必須在所有適用的測試頻率下檢查所用射頻功率放大器的線性度。檢查方法如下：

確定產(chǎn)生測試電平所需的功率，包括調(diào)制。例如:

測試電平:10v /m

調(diào)制:80% AM, 1 kHz

所需場強包括調(diào)制:18 V/m

輻射抗干擾校準配置示例

在特定頻率下所需的功率由n點均勻性校準期間測量的校準文件決定(在上面的例子中，均勻面產(chǎn)生18 V/m的功率)。然后對所有頻率點進行如下檢查:

1.

設(shè)置信號發(fā)生器電平，使放大器提供所需的輸出功率。

2.

將信號發(fā)生器電平降低5.1 dB。

3.

放大器的輸出功率至少降低3.1 dB。如果功率下降小于3.1 dB，說明放大器壓縮過遠，不滿足壓縮要求。

放大器線性度測試結(jié)果示例

通過上述測試，將檢查每個頻率點的放大器是否表現(xiàn)出小于 2 dB 的壓縮，從所需測試電平（包括調(diào)制）所需的（最大）功率測量，幅度范圍為 5.1 dB 。作為對照組，1 dB 壓縮點測試需要測量放大器的增益降低 1 dB 的點，即以放大器的“小信號增益”為起點（全功率下典型值為 20 dB），測量在哪個輸出功率下增益降低了 1 dB。這種測量是在更大的幅度范圍內(nèi)進行的，從而更早地實現(xiàn)了壓縮。

1 dB 方法主要用于電信市場，其中大振幅范圍內(nèi)的線性度很重要。這與 EMC 測試相反，EMC 測試中唯一相關(guān)的一點是放大器在應(yīng)用放大器的功率點周圍的表現(xiàn)，目的是確保 AM 調(diào)制不會失真太多。因此，1db壓縮點對EMC測量的要求過于嚴格。

根據(jù)所使用的放大器技術(shù)，放大器將表現(xiàn)出“軟”或“硬”壓縮行為。在第一種情況下，放大器將提供很多額外的“可用”功率高于1db壓縮點，而放大器的“硬”壓縮行為通常鎖定僅高于1db壓縮點。特別是具有 GaN 晶體管的放大器會表現(xiàn)出軟壓縮行為。與基于硅和砷化鎵的放大器相比，這種相對較新的晶體管技術(shù)的優(yōu)點是壽命更長、效率更高。

虹科測試測量團隊

虹科是在各細分專業(yè)技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的資源整合及技術(shù)服務(wù)落地供應(yīng)商。在測試測量行業(yè)經(jīng)驗超過17年的高科技公司，虹科與世界知名的測量行業(yè)巨頭公司Marvin Test、Pickering Interface, Spectrum, Raditeq等公司合作多年，提供領(lǐng)域內(nèi)頂尖水平的基于PXI/PXIe/PCI/LXI平臺的多種功能模塊，以及自動化測試軟件平臺和測試系統(tǒng)，通用臺式信號源設(shè)備，高速數(shù)字化儀，EMC和射頻測試方案等。事業(yè)部目前已經(jīng)提供覆蓋半導(dǎo)體、3C、汽車行業(yè)的超過25個大型和超大型自研系統(tǒng)項目。我們的解決方案已在汽車電子、半導(dǎo)體、通信、航空航天、軍工等多個行業(yè)得到驗證。此外，我們積極參與半導(dǎo)體、汽車測試等行業(yè)協(xié)會的工作，為推廣先進技術(shù)的普及做出了重要貢獻。至今，虹科已經(jīng)先后為全國用戶提供了100+不同的解決方案和項目，并且獲得了行業(yè)內(nèi)用戶極好口碑。