chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

季豐電子面向客戶提供完整的半導(dǎo)體工藝可靠性測試服務(wù)

上海季豐電子 ? 來源:上海季豐電子 ? 2023-07-23 11:16 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

季豐電子面向客戶提供完整的半導(dǎo)體工藝可靠性測試、驗(yàn)證和咨詢服務(wù),可有效縮短制造工藝和器件開發(fā)的時(shí)間,加速客戶產(chǎn)品投入市場的進(jìn)程周期。

工藝可靠性業(yè)務(wù)主要基于行業(yè)通用及客戶定制標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)品、工藝特點(diǎn),規(guī)劃評估驗(yàn)證策略,制定認(rèn)證測試規(guī)范性準(zhǔn)則,最終完成各項(xiàng)驗(yàn)證測試項(xiàng)目,出具權(quán)威檢驗(yàn)認(rèn)證報(bào)告。

該業(yè)務(wù)結(jié)合多種測試和FA手段,確定失效模式、探究失效機(jī)理,幫助客戶定位失效根因。

測試設(shè)備介紹

1.晶圓級WLR工藝可靠性測試設(shè)備(B1500+CM300)

2.晶圓級器件可靠性測試HCI,NBTI,TDDB等

3.封裝級PLR工藝可靠性測試設(shè)備(PLRTester)

4.電遷移EM測試,封裝級器件可靠性測試HCI,NBTI等

測試項(xiàng)目介紹

季豐電子工藝可靠性可以執(zhí)行的可靠性認(rèn)證測試范圍,包括車規(guī)(AEC-Q100,D組)和 JEDEC(JEP001)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的所有項(xiàng)目,具體可參考下列表格。

7549f308-27b0-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

GIGA FORCE

季豐電子

季豐電子成立于2008年,致力于集成電路新能源、新材料、新裝備等領(lǐng)域內(nèi)的軟硬件及設(shè)備研發(fā)與專業(yè)技術(shù)服務(wù),為客戶提供一站式的綜合解決方案。公司的四大業(yè)務(wù)版塊包括:基礎(chǔ)技術(shù)中心、硬件軟件方案、特種封裝測試、儀器設(shè)備。

季豐電子通過國家級專精特新“小巨人”、國家高新技術(shù)企業(yè)、上海市“科技小巨人”、上海市企業(yè)技術(shù)中心、研發(fā)機(jī)構(gòu)、公共服務(wù)平臺等企業(yè)資質(zhì)認(rèn)定,通過了ISO9001、 ISO17025、CMA、CNAS等認(rèn)證。公司員工近1000人,總部位于上海,在浙江、北京、深圳、成都等地設(shè)有分公司。

責(zé)任編輯:彭菁

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 晶圓
    +關(guān)注

    關(guān)注

    53

    文章

    5342

    瀏覽量

    131633
  • 半導(dǎo)體工藝
    +關(guān)注

    關(guān)注

    19

    文章

    107

    瀏覽量

    26889
  • 季豐電子
    +關(guān)注

    關(guān)注

    2

    文章

    145

    瀏覽量

    2556

原文標(biāo)題:季豐電子工藝可靠性業(yè)務(wù)介紹

文章出處:【微信號:zzz9970814,微信公眾號:上海季豐電子】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    電子功率器件動(dòng)態(tài)老化測試能力介紹

    DGS & DRB是功率器件可靠性測試中的關(guān)鍵內(nèi)容。DGS評估器件檢測碳化硅功率MOSFET 的柵極開關(guān)不穩(wěn)定性,DRB評估器件芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)因高dv/dt 導(dǎo)致的快速充電老化現(xiàn)象。因此,
    的頭像 發(fā)表于 11-19 11:19 ?336次閱讀
    <b class='flag-5'>季</b><b class='flag-5'>豐</b><b class='flag-5'>電子</b>功率器件動(dòng)態(tài)老化<b class='flag-5'>測試</b>能力介紹

    新聲半導(dǎo)體榮獲電子AEC-Q200認(rèn)證證書

    近日,新聲半導(dǎo)體SAW車規(guī)級產(chǎn)品在電子可靠性實(shí)驗(yàn)室的助力下,成功通過AEC-Q200認(rèn)證測試
    的頭像 發(fā)表于 09-05 11:18 ?865次閱讀

    電子嘉善晶圓測試廠如何保障芯片質(zhì)量

    半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)飛速發(fā)展的今天,芯片質(zhì)量的把控至關(guān)重要。浙江電子科技有限公司嘉善晶圓測試廠(以下簡稱嘉善晶圓
    的頭像 發(fā)表于 09-05 11:15 ?870次閱讀

    電子新增K8000芯片測試平臺硬件開發(fā)設(shè)計(jì)能力

    半導(dǎo)體測試領(lǐng)域,高性能、高可靠性測試設(shè)備是保障芯片品質(zhì)與量產(chǎn)效率的核心關(guān)鍵。目前上海
    的頭像 發(fā)表于 08-28 16:59 ?1536次閱讀

    半導(dǎo)體可靠性測試恒溫箱模擬嚴(yán)苛溫度環(huán)境加速驗(yàn)證進(jìn)程

    半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)蓬勃發(fā)展的當(dāng)下,芯片其性能與可靠性直接影響著各類電子設(shè)備的質(zhì)量與穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測試
    的頭像 發(fā)表于 08-04 15:15 ?979次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>恒溫箱模擬嚴(yán)苛溫度環(huán)境加速驗(yàn)證進(jìn)程

    瑞發(fā)科半導(dǎo)體榮獲電子AEC-Q100認(rèn)證證書

    近日,天津瑞發(fā)科半導(dǎo)體技術(shù)有限公司(以下簡稱“瑞發(fā)科”)的車載SerDes產(chǎn)品NS6129S和NS6168在電子可靠性實(shí)驗(yàn)室的助力下,成
    的頭像 發(fā)表于 07-29 16:46 ?821次閱讀

    電子與孤波科技建立戰(zhàn)略合作關(guān)系

    為進(jìn)一步提升對客戶服務(wù)效率與響應(yīng)速度,電子與孤波科技正式建立戰(zhàn)略合作關(guān)系。根據(jù)協(xié)議,
    的頭像 發(fā)表于 07-16 10:04 ?652次閱讀
    <b class='flag-5'>季</b><b class='flag-5'>豐</b><b class='flag-5'>電子</b>與孤波科技建立戰(zhàn)略合作關(guān)系

    車規(guī)級高精度SLT測試能力更新

    浙江電子測試廠新引入的SLT HT3012CT + ATC 5.1系統(tǒng)級測試設(shè)備,集高效、精準(zhǔn)、智能于一體,適配
    的頭像 發(fā)表于 07-05 11:43 ?879次閱讀

    電子自建引腳完整性測試能力

    可靠性測試項(xiàng)目拓展AEC-Q100車規(guī)芯片驗(yàn)證C6:LI - Lead Integrity 引腳完整性Q100要求。
    的頭像 發(fā)表于 06-23 09:22 ?828次閱讀
    <b class='flag-5'>季</b><b class='flag-5'>豐</b><b class='flag-5'>電子</b>自建引腳<b class='flag-5'>完整性</b><b class='flag-5'>測試</b>能力

    半導(dǎo)體芯片的可靠性測試都有哪些測試項(xiàng)目?——納米軟件

    本文主要介紹半導(dǎo)體芯片的可靠性測試項(xiàng)目
    的頭像 發(fā)表于 06-20 09:28 ?946次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>芯片的<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>都有哪些<b class='flag-5'>測試</b>項(xiàng)目?——納米軟件

    電子新型電池材料評估能力概覽

    電子,作為國內(nèi)半導(dǎo)體材料表征領(lǐng)域的領(lǐng)先企業(yè),憑借其深厚的半導(dǎo)體級精密分析技術(shù)積淀,成功將業(yè)務(wù)延伸至新型電池材料評估領(lǐng)域,為
    的頭像 發(fā)表于 05-23 16:38 ?748次閱讀

    半導(dǎo)體測試可靠性測試設(shè)備

    半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中,可靠性測試設(shè)備如同產(chǎn)品質(zhì)量的 “守門員”,通過模擬各類嚴(yán)苛環(huán)境,對半導(dǎo)體器件的長期穩(wěn)定性和可靠性進(jìn)行評估,確保其在實(shí)際使用中
    的頭像 發(fā)表于 05-15 09:43 ?875次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>測試</b><b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>設(shè)備

    提供半導(dǎo)體工藝可靠性測試-WLR晶圓可靠性測試

    隨著半導(dǎo)體工藝復(fù)雜度提升,可靠性要求與測試成本及時(shí)間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級可靠性(Wafer Level Reliability, WL
    發(fā)表于 05-07 20:34

    半導(dǎo)體器件可靠性測試中常見的測試方法有哪些?

    半導(dǎo)體器件可靠性測試方法多樣,需根據(jù)應(yīng)用場景(如消費(fèi)級、工業(yè)級、車規(guī)級)和器件類型(如IC、分立器件、MEMS)選擇合適的測試組合。測試標(biāo)準(zhǔn)
    的頭像 發(fā)表于 03-08 14:59 ?1107次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>器件<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>中常見的<b class='flag-5'>測試</b>方法有哪些?

    半導(dǎo)體集成電路的可靠性評價(jià)

    半導(dǎo)體集成電路的可靠性評價(jià)是一個(gè)綜合的過程,涉及多個(gè)關(guān)鍵技術(shù)和層面,本文分述如下:可靠性評價(jià)技術(shù)概述、可靠性評價(jià)的技術(shù)特點(diǎn)、
    的頭像 發(fā)表于 03-04 09:17 ?1217次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>集成電路的<b class='flag-5'>可靠性</b>評價(jià)