季豐可靠性測(cè)試項(xiàng)目拓展AEC-Q100車(chē)規(guī)芯片驗(yàn)證C6：LI - Lead Integrity 引腳完整性Q100要求。

測(cè)試數(shù)量需求：

從每批次5顆樣品中的每顆樣品選擇10個(gè)引腳，來(lái)自1個(gè)批次。

參考文件：

JEDEC JESD22-B105。

測(cè)試對(duì)象：

不需要對(duì)表面貼裝SMD器件開(kāi)展此測(cè)試，僅需要對(duì)通孔式的引腳器件開(kāi)展。

失效判據(jù)：

去除應(yīng)力后，用10倍至20倍的放大鏡檢查器件。任何斷裂、松動(dòng)或引線與器件本體之間的相對(duì)位移的跡象都應(yīng)被認(rèn)為是器件失效。當(dāng)進(jìn)行密封性測(cè)試(JESD22-A109B)作為后期測(cè)量時(shí)，通過(guò)測(cè)試的器件不應(yīng)因彎月面裂縫而被拒收。任何規(guī)定的驗(yàn)證后電測(cè)量的失效應(yīng)被認(rèn)為是失效的原因。

測(cè)試項(xiàng)目：

a)試驗(yàn)條件a - 拉力

該試驗(yàn)條件適用于直接施加引腳拉伸負(fù)載的應(yīng)用場(chǎng)景。

b)試驗(yàn)條件b - 彎曲應(yīng)力

該測(cè)試條件為引腳提供彎曲應(yīng)力的應(yīng)用場(chǎng)景，以確定引腳、密封層和引腳鍍層的完整性。

c)試驗(yàn)條件c - 引腳疲勞

這個(gè)測(cè)試條件適用于彎曲應(yīng)力的應(yīng)用場(chǎng)景，主要是為了確定引腳在反復(fù)彎曲下對(duì)金屬疲勞的抗力。

d)試驗(yàn)條件d -引腳扭矩

這個(gè)測(cè)試條件適用于對(duì)引腳施加應(yīng)力的場(chǎng)景，以確定密封層的強(qiáng)度和引腳的扭轉(zhuǎn)形變能力。

e)試驗(yàn)條件e - 螺柱扭矩

這個(gè)測(cè)試條件適用于在安裝過(guò)程中由于在產(chǎn)品上進(jìn)行安裝擰釘而對(duì)螺柱施加的應(yīng)力驗(yàn)證。

測(cè)試設(shè)備：

季豐電子

季豐電子成立于2008年，是一家聚焦半導(dǎo)體領(lǐng)域，深耕集成電路檢測(cè)相關(guān)的軟硬件研發(fā)及技術(shù)服務(wù)的賦能型平臺(tái)科技公司。公司業(yè)務(wù)分為四大板塊，分別為基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)室、軟硬件開(kāi)發(fā)、測(cè)試封裝和儀器設(shè)備，可為芯片設(shè)計(jì)、晶圓制造、封裝測(cè)試、材料裝備等半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈和新能源領(lǐng)域公司提供一站式的檢測(cè)分析解決方案。

季豐電子通過(guò)國(guó)家級(jí)專精特新“小巨人”、國(guó)家高新技術(shù)企業(yè)、上海市“科技小巨人”、上海市企業(yè)技術(shù)中心、研發(fā)機(jī)構(gòu)、公共服務(wù)平臺(tái)等企業(yè)資質(zhì)認(rèn)定，通過(guò)了ISO9001、 ISO/IEC17025、CMA、CNAS、IATF16949、ISO/IEC27001、ISO14001、ISO45001、ANSI/ESD S20.20等認(rèn)證。公司員工超1000人，總部位于上海，在浙江、北京、深圳、成都等地設(shè)有子公司。