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7月27日|泰克云上大講堂—1/f噪聲測(cè)試方案詳解

泰克科技 ? 來源:未知 ? 2023-07-25 12:10 ? 次閱讀
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電子設(shè)備本身有不同類型的噪聲源,包括熱噪聲、散粒噪聲、白噪聲和1/f(閃爍)噪聲。1/f噪聲是電流(ISD)或功率(PSD)譜密度與頻率成反比的低頻電子噪聲。許多類型的電子元件都表現(xiàn)出1/f噪聲,包括半導(dǎo)體器件、某些類型的電阻器、石墨烯等二維材料,甚至化學(xué)電池。器件尺寸越來越小,噪聲成為限制器件靈敏度的關(guān)鍵因素;除了熱噪聲外,1/f噪聲就成為衡量材料和器件性能的一個(gè)關(guān)鍵指標(biāo);實(shí)際工作中我們會(huì)通過嘗試不同的工藝或器件結(jié)構(gòu)來降低1/f噪聲。

器件的1/f噪聲是通過測(cè)量電流作為時(shí)間的函數(shù),然后將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為頻域來確定的??焖俑道锶~變換(FFT)是一種將時(shí)域數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為頻域數(shù)據(jù)的常用方法。

泰克的半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200A可以通過SMU或PMU測(cè)試電流,主機(jī)軟件包含F(xiàn)FT功能,可以將時(shí)域波形轉(zhuǎn)換為頻域波形,讓我們方便進(jìn)行1/f噪聲測(cè)試。

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直播預(yù)告

本期云上大講堂,泰克高級(jí)應(yīng)用工程師 趙凱將為大家介紹:

1/f噪聲的概念和測(cè)試方法

使用4200A進(jìn)行1/f噪聲測(cè)試

?測(cè)試系統(tǒng)的底噪

?1/f噪聲測(cè)試頻率范圍的設(shè)定

?SMU和PMU測(cè)試示例

?提升1/f噪聲測(cè)試精度的方法

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時(shí)間

2023年7月27日(周四)1430

1410

1/f噪聲測(cè)試方案詳解

1520

互動(dòng)答疑

1530

搶答有獎(jiǎng)

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趙凱

泰克高級(jí)應(yīng)用工程師

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網(wǎng)址:tek.com.cn

電話:400-820-5835(周一至周五900)

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泰克設(shè)計(jì)和制造能夠幫助您測(cè)試和測(cè)量各種解決方案,從而突破復(fù)雜性的層層壁壘,加快您的全局創(chuàng)新步伐。我們攜手共進(jìn),一定能夠幫助各級(jí)工程師更方便、更快速、更準(zhǔn)確地創(chuàng)造和實(shí)現(xiàn)技術(shù)進(jìn)步。

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