據(jù)天眼查顯示，長鑫存儲(chǔ)技術(shù)有限公司9月5日發(fā)布“存儲(chǔ)器的檢測(cè)方法及存儲(chǔ)器”專利，申請(qǐng)發(fā)布號(hào)為cn116705103a。

根據(jù)專利要點(diǎn)，提供本申請(qǐng)的一種存儲(chǔ)器是檢測(cè)方法及存儲(chǔ)半導(dǎo)體相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域中存儲(chǔ)單位與上線之間漏電測(cè)定的復(fù)雜技術(shù)問題，該存儲(chǔ)器的檢測(cè)方法如下：選通字線，通過位線在所有存儲(chǔ)單元中寫設(shè)定存儲(chǔ)。為了使比特線的電位與存儲(chǔ)單位的電位不同，將磁條封閉，給比特線加第一電壓。保持預(yù)先設(shè)定的時(shí)間后，選擇通話線，通過比特線讀取所有存儲(chǔ)單位中的實(shí)際存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。將各儲(chǔ)存裝置的實(shí)際儲(chǔ)存數(shù)據(jù)和事先設(shè)定的儲(chǔ)存數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，判斷該儲(chǔ)存裝置是否有漏電。所有存儲(chǔ)單位通過使用預(yù)先設(shè)定的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，讀取實(shí)際存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，比特線的電位單獨(dú)加載，不需要按順序選擇通文線，存儲(chǔ)單位與比特線之間的漏電檢測(cè)方法簡單。