芯片上電與下電功能測(cè)試是集成電路生產(chǎn)和研發(fā)過(guò)程中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，它可以幫助企業(yè)確保產(chǎn)品的可靠性、整合性和兼容性，同時(shí)提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。

因此在芯片的研發(fā)設(shè)計(jì)中，企業(yè)會(huì)對(duì)芯片的上下電有嚴(yán)格的要求，包括上下電的時(shí)序，斜率等，不合理的設(shè)計(jì)往往會(huì)引起芯片上電無(wú)法啟動(dòng)、芯片邏輯混亂等異常情況。

測(cè)試芯片上下電功能的重要性

1.芯片的上下電功能可以直觀的反應(yīng)出芯片的穩(wěn)定性和可靠性;上電過(guò)程需要確保電源芯片能夠在給定條件下實(shí)現(xiàn)正確的初始化和輸出，而下電過(guò)程則需要確保芯片能夠在接收關(guān)機(jī)信號(hào)后安全地停止輸出電壓。

2.芯片通常需要與其他器件和設(shè)備共同工作，因此測(cè)試其上下電功能可以驗(yàn)證芯片在系統(tǒng)級(jí)別上的整合性和兼容性。如果電源芯片不能正常啟動(dòng)或關(guān)閉，可能會(huì)導(dǎo)致整個(gè)系統(tǒng)無(wú)法工作。

3.測(cè)試電源芯片的上下電功能可以幫助生產(chǎn)廠家和質(zhì)量控制部門快速檢測(cè)和篩選出故障或品質(zhì)不合格的產(chǎn)品，以確保產(chǎn)品的出廠質(zhì)量和生產(chǎn)效率。

芯片上下電功能測(cè)試原理

對(duì)于芯片上電與下電功能的檢測(cè)，上下電波形和時(shí)間是比較重要的指標(biāo)，因此后續(xù)測(cè)試主要以測(cè)試這兩個(gè)指標(biāo)為主。

芯片上電之后會(huì)有一個(gè)上電復(fù)位(POR)現(xiàn)象，也就是電源給的輸入電壓達(dá)到芯片的工作電壓之后，芯片不會(huì)立刻進(jìn)入工作狀態(tài)，而是會(huì)有一個(gè)緩慢的啟動(dòng)過(guò)程，這個(gè)過(guò)程被稱為上電復(fù)位，而上電復(fù)位所需的時(shí)間就是上電時(shí)間;同理下電復(fù)位(BOR)也是指是輸入電壓斷開(kāi)之后，芯片從工作狀態(tài)緩慢進(jìn)入“歸零”狀態(tài)的現(xiàn)象，這個(gè)過(guò)程所需的時(shí)間為下電時(shí)間。

在芯片的設(shè)計(jì)和產(chǎn)生中企業(yè)總是希望上下電時(shí)間小一些，一般都是在ms級(jí)別，過(guò)長(zhǎng)的上電時(shí)間會(huì)導(dǎo)致芯片無(wú)法正常啟動(dòng)，影響其他元器件的的工作，從而使整個(gè)系統(tǒng)啟動(dòng)異常;而過(guò)長(zhǎng)的下電時(shí)間則會(huì)導(dǎo)致芯片的工作效率低下，無(wú)法再次快速上電。

芯片上下電功能

芯片自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備測(cè)試上下電功能的方法

在測(cè)試芯片的上下電波形和時(shí)間之前，需要準(zhǔn)備硬件儀器，包括：多通道電源、電子負(fù)載、示波器。

電源負(fù)責(zé)給芯片提供輸入電壓，讓芯片進(jìn)入工作狀態(tài);電子負(fù)載負(fù)責(zé)在輸出端拉載不同電流;示波器則負(fù)責(zé)采集芯片上電與下電時(shí)的波形。

為了測(cè)試在不同電流下芯片的上下電功能，我們可以讓電子負(fù)載拉載空載和滿載的電流，通過(guò)示波器采集兩種狀態(tài)下，輸出電壓、輸出電流的波形，采集到波形之后我們就可以直接讀取到上電時(shí)間和下電時(shí)間的參數(shù)。

使用自動(dòng)芯片測(cè)試系統(tǒng)需要提前將硬件儀器和芯片連接在一起，之后直接登錄ATECLOUD，然后啟動(dòng)平臺(tái)中芯片上下電測(cè)試的方案;系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)設(shè)置電壓、電流等參數(shù)，3-5秒后就可以直接抓取上下電波形，并采集到上下電時(shí)間，同時(shí)將采集到的圖片和指標(biāo)直接展示在系統(tǒng)界面上，測(cè)試系統(tǒng)可以免去手動(dòng)參數(shù)調(diào)節(jié)，記錄數(shù)據(jù)等過(guò)程，極大的提升測(cè)試的效率。

ATECLOUD-POWER電源自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)

自動(dòng)化芯片測(cè)試系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)

除了自動(dòng)配置參數(shù)、抓取圖形與數(shù)據(jù)之外，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)還可以將測(cè)試中的數(shù)據(jù)直接導(dǎo)出為數(shù)據(jù)報(bào)告，而數(shù)據(jù)報(bào)告的格式也可以根據(jù)用戶需求自定義選擇，再也無(wú)需手動(dòng)記錄龐大的測(cè)試數(shù)據(jù)了;數(shù)據(jù)洞察模塊可以將所有測(cè)試到的數(shù)據(jù)進(jìn)行整體分析，自定義數(shù)據(jù)看板，數(shù)據(jù)圖表大屏幕集中管控，可以助力企業(yè)從測(cè)試效率等多維度分析企業(yè)數(shù)據(jù)，從而保障企業(yè)及時(shí)優(yōu)化研發(fā)方向，支持管理決策。

審核編輯 黃宇