背景介紹：
北京某公司是一家專注于高性能SAW濾波器和雙工器等系列射頻前端芯片的研發(fā)設計、生產和銷售的企業(yè)。企業(yè)在測試其晶圓芯片產品時，由于原有測試系統(tǒng)無法控制探針臺，導致測試工作難以完成，因此急需一套新的測試系統(tǒng)來完成晶圓探針測試。

晶圓芯片測試

核心痛點：
1.用戶原有測試系統(tǒng)無法控制探針臺，導致難以完成晶圓芯片產品的S參數測試。
2.用戶原有測試系統(tǒng)缺乏數據分析功能，無法對測試數據進行有效分析，在一定程度上限制了測試結果的深度利用和被測產品的進一步優(yōu)化。

射頻器件測試系統(tǒng)

射頻器件測試系統(tǒng)解決方案
1.系統(tǒng)靈活接入探針臺和網分，輕松測試晶圓芯片
納米軟件射頻器件測試系統(tǒng)具有高度兼容性，可以自動識別并輕松接入探針臺和網分。系統(tǒng)通過探針臺定位被測晶圓芯片的坐標，并采集網分數據，生成map圖，輕松完成晶圓芯片S參數的自動化測試，測試結果也會實時展示在測試面板中，pass、fail指標自動判別測試結果。

射頻器件測試解決方案

2.系統(tǒng)具有批量測試功能，提高產品測試效率
晶圓上的芯片數量眾多，可通過系統(tǒng)的批量測試功能，一鍵實現被測產品的批量測試，提高了測試效率，節(jié)省了測試時間。
3.數據洞察功能，全面分析晶圓芯片測試數據
數據分析是產品測試后的關鍵環(huán)節(jié)，射頻器件測試系統(tǒng)具有數據洞察功能，可以匯總分析所測的S參數數據，幫助快速查找定位問題，從而保障產品的性能和質量，解決了客戶原有測試系統(tǒng)無法分析數據的痛點。

測試數據

4.靈活定制報告模板，實現報告自由
系統(tǒng)支持自定義測試報告，根據客戶要求，系統(tǒng)實現了將多個產品測試記錄合并導出在一份excel中，并且包括產品坐標信息、S參數測試數據、測試結果等信息。同時系統(tǒng)支持靈活報告模板，滿足客戶對報告的需求。
審核編輯 黃宇