上期我們介紹了半導(dǎo)體靜態(tài)測(cè)試參數(shù)以及測(cè)試靜態(tài)參數(shù)的必要性，今天我們將對(duì)半導(dǎo)體分立器件的動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)展開(kāi)描述。動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試是半導(dǎo)體測(cè)試的另一項(xiàng)重要內(nèi)容，它可以檢測(cè)半導(dǎo)體在開(kāi)關(guān)過(guò)程中的響應(yīng)時(shí)間、電流變化和能量損耗情況。

半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)是指在交流條件下對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試，是確保半導(dǎo)體性能、穩(wěn)定性和可靠性的重要依據(jù)。動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)主要包括：

1. 開(kāi)關(guān)時(shí)間

包括上升時(shí)間和下降時(shí)間，是半導(dǎo)體從導(dǎo)通到截止或從截止到導(dǎo)通的時(shí)間。通過(guò)測(cè)試開(kāi)關(guān)時(shí)間的長(zhǎng)短可以判斷器件的開(kāi)關(guān)速度和效率。開(kāi)關(guān)時(shí)間還包括存儲(chǔ)時(shí)間，是指在開(kāi)關(guān)過(guò)程中保持導(dǎo)通狀態(tài)的最小時(shí)間，它影響著器件的導(dǎo)通特性和穩(wěn)定性。

2. 開(kāi)關(guān)電壓

是在開(kāi)關(guān)過(guò)程中半導(dǎo)體集電極于發(fā)射極之間的電壓變化，它直接影響器件的損耗和穩(wěn)定性能。

3. 開(kāi)關(guān)電流

是器件在開(kāi)關(guān)過(guò)程中的瞬態(tài)電流峰值，用來(lái)檢測(cè)器件的承受能力和穩(wěn)定性。

4. 反向恢復(fù)電流

在關(guān)斷狀態(tài)下，當(dāng)輸入信號(hào)發(fā)生變化時(shí)導(dǎo)致的反向電流峰值。反向恢復(fù)電流影響著器件的反向保護(hù)和穩(wěn)定性。

5. 開(kāi)關(guān)損耗

也叫轉(zhuǎn)換損耗，是器件在開(kāi)關(guān)過(guò)程中由于電流和電壓的變化而產(chǎn)生的能量損耗，它的大小影響著器件的工作溫度和效率。

6. 反向恢復(fù)時(shí)間

是半導(dǎo)體器件從反向?qū)ǖ秸驅(qū)ǖ臅r(shí)間，是影響開(kāi)關(guān)速度和效率的直接因素。

7. 輸入電容

是指器件輸入端的電容值，它的大小直接關(guān)系到器件的輸入阻抗和頻率特性。

8. 噪聲特性

對(duì)于像音頻放大器、射頻等需要高信噪比的應(yīng)用來(lái)說(shuō)，噪聲特性是非常重要的一項(xiàng)測(cè)試參數(shù)。

9. 耗散功率

是指在工作過(guò)程中由于電流通過(guò)而產(chǎn)生的功率損耗，耗散功率的大小直接影響著器件的散熱設(shè)計(jì)和可靠性。

ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)

半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試是評(píng)估器件性能的重要指標(biāo)，可以為產(chǎn)品設(shè)計(jì)提供依據(jù)，從而保證其性能和穩(wěn)定性。納米軟件半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是一款自動(dòng)化測(cè)試軟件，不僅可以實(shí)現(xiàn)對(duì)半導(dǎo)體分立器件動(dòng)態(tài)參數(shù)的自動(dòng)化測(cè)試，其批量測(cè)試功能和多工位靈活擴(kuò)展特點(diǎn)更是提高了測(cè)試效率。納米軟件專注于各類儀器測(cè)試軟件的開(kāi)發(fā)，致力于幫助用戶實(shí)現(xiàn)智能化改造。

審核編輯 黃宇