客戶測(cè)試現(xiàn)狀

成都某半導(dǎo)體芯片公司是一家專注于開發(fā)設(shè)計(jì)半導(dǎo)體電源芯片的高新技術(shù)企業(yè)，目前企業(yè)對(duì)于電源管理芯片研發(fā)階段的測(cè)試，絕大部分采用人工手動(dòng)測(cè)試，效率低，耗時(shí)長，數(shù)據(jù)管理儲(chǔ)存難度大，無法快速地完成大數(shù)據(jù)分析與報(bào)告。因此想要能夠通過自動(dòng)化測(cè)試分析系統(tǒng)搭配對(duì)應(yīng)儀器和工裝，實(shí)現(xiàn)電源管理芯片整體自動(dòng)化測(cè)試并導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告，提升測(cè)試效率、規(guī)范測(cè)試流程。

測(cè)試痛點(diǎn)：

從人員成本考慮，手動(dòng)測(cè)試的方案，人效低，人員成本高;

從測(cè)試過程考慮，手動(dòng)測(cè)試的方案，測(cè)試規(guī)范性難以把控，易誤操作;

從產(chǎn)品交付考慮，手動(dòng)測(cè)試的方案，實(shí)驗(yàn)報(bào)告多為手動(dòng)填寫，容易出錯(cuò)，且難以統(tǒng)一管理;

從研發(fā)測(cè)試考慮，目前研發(fā)設(shè)計(jì)測(cè)試，對(duì)測(cè)試參數(shù)與流程靈活度要求高，需要隨時(shí)變動(dòng)更改參數(shù)儀器等;

從測(cè)試場(chǎng)景考慮，業(yè)務(wù)邏輯復(fù)雜，人工無法滿足測(cè)試要求，只能自動(dòng)化測(cè)試完成，需要專業(yè)的自動(dòng)軟件開發(fā)團(tuán)隊(duì)。

客戶測(cè)試需求

被測(cè)產(chǎn)品：DC-DC電源管理芯片

電源類型：升壓芯片/降壓芯片/恒壓芯片

芯片參數(shù)：輸入電壓3.6V/5V;輸出電壓0.9V/1.8V/3.3V

1、產(chǎn)品測(cè)試參數(shù)與儀器可根據(jù)需求隨時(shí)靈活修改;

2、可以去各類電源芯片、測(cè)試工裝進(jìn)行通訊;

3、測(cè)試過程中的測(cè)試項(xiàng)完成后可自動(dòng)切換到下一個(gè)測(cè)試項(xiàng)繼續(xù)測(cè)試，不需要人為干預(yù);

4、測(cè)試報(bào)告自動(dòng)生成，無需人工手動(dòng)記錄，同時(shí)需要能夠?qū)С鲈紨?shù)據(jù)與示波器截圖;

5、具備對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)(如波形等)處理和分析的能力，并能直接輸出最終的測(cè)試結(jié)果;

6、系統(tǒng)硬件滿足客戶所需的性能指標(biāo)。

解決方案

電源管理芯片自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)主要實(shí)現(xiàn)針對(duì)電源管理芯片中的升壓/降壓/恒壓芯片進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試。

17個(gè)測(cè)試項(xiàng)目

1、IQ-芯片靜態(tài)電流測(cè)試

2、UVLO-欠壓鎖定/關(guān)斷測(cè)試

3、EN Threshold-輸入閾值測(cè)試

4、Rdson-導(dǎo)通電阻測(cè)試

5、Regulated Feedback Voltage-穩(wěn)壓反饋測(cè)試

6、OVP-過壓保護(hù)測(cè)試

7、OCP-過流保護(hù)測(cè)試

8、Oscillation Frequency-振蕩頻率測(cè)試

9、Continuous Current-持續(xù)電流測(cè)試

10、Startup and Shutdown IN-輸入上電/掉電測(cè)試

11、Load Transient-負(fù)載瞬態(tài)測(cè)試

12、Vout Ripple-輸出電壓紋波測(cè)試

13、Load Regulation-負(fù)載調(diào)整率測(cè)試

14、Short Circuit Protection-短路/短路恢復(fù)測(cè)試

15、Efficiency-芯片效率測(cè)試

16、EN Leakage Current-EN漏電流測(cè)試

17、SW Leakage Current-SW漏電流測(cè)試

硬件選型

根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目要求，本次方案涉及硬件設(shè)備有：1臺(tái)多通道電源、1個(gè)電子負(fù)載模塊、1臺(tái)示波器、2臺(tái)數(shù)字萬用表、1臺(tái)源表、1臺(tái)工控機(jī)、1臺(tái)機(jī)柜、通訊線纜若干、測(cè)試線纜、測(cè)試用顯示器

系統(tǒng)功能介紹

1.項(xiàng)目搭建模塊

電源管理芯片測(cè)試系統(tǒng)ATECLOUD中的項(xiàng)目搭建模塊可以靈活搭建各類電源芯片與模塊的測(cè)試項(xiàng)目，系統(tǒng)中兼容了超過200種標(biāo)準(zhǔn)儀器，可以滿足各類儀器的測(cè)試需求，同時(shí)對(duì)應(yīng)儀器的相關(guān)指令收錄超3000條，可直接搭建測(cè)試項(xiàng)目，免去兼容儀器錄入指令的時(shí)間與步驟，大幅度節(jié)省交付時(shí)間。

2.項(xiàng)目運(yùn)行結(jié)果模塊

系統(tǒng)中的項(xiàng)目運(yùn)行模塊可實(shí)時(shí)顯示當(dāng)前被測(cè)產(chǎn)品信息、測(cè)試工況、產(chǎn)品測(cè)試進(jìn)度及測(cè)試狀態(tài)，實(shí)現(xiàn)對(duì)產(chǎn)品測(cè)試狀態(tài)的多種管控，可進(jìn)行開始、繼續(xù)、暫停、停止等控制操作，測(cè)試結(jié)果可選擇折線圖、數(shù)字等多種方式。如產(chǎn)品測(cè)試項(xiàng)目結(jié)果為fail，軟件自動(dòng)運(yùn)行下一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目，也可自由選擇單個(gè)或多個(gè)項(xiàng)目同時(shí)測(cè)試，極大地節(jié)省了測(cè)試時(shí)間，提升測(cè)試效率。

3.數(shù)據(jù)查詢分析模塊

數(shù)據(jù)查詢模塊可以查看所有歷史測(cè)試數(shù)據(jù)，并生成測(cè)試報(bào)告導(dǎo)出。如有不測(cè)量項(xiàng)目，則在模板中以“/”表示，測(cè)試報(bào)告按用戶提供的標(biāo)準(zhǔn)模板自動(dòng)生成，同時(shí)數(shù)據(jù)分析模塊可以將測(cè)試到的數(shù)據(jù)進(jìn)行整體智能化分析，從多維度進(jìn)行分析展示，可以以折線圖、柱狀圖等多種形式進(jìn)行集中看板展示，為企業(yè)決策提供明確的數(shù)據(jù)支持。

自動(dòng)化測(cè)試優(yōu)點(diǎn)

降本增效

● 提高整體測(cè)試效率，在單位時(shí)間內(nèi)增加產(chǎn)能;

● 減少人工干預(yù)，從而節(jié)約人員成本、降低人工干預(yù)造成的測(cè)試以及數(shù)據(jù)記錄誤差;

● 降低企業(yè)人員培訓(xùn)成本，新員工可快速上手測(cè)試，減少對(duì)個(gè)別測(cè)試人員的依賴。

規(guī)范測(cè)試

● 確保測(cè)試完全按工藝執(zhí)行，形成企業(yè)過程資產(chǎn);

● 大數(shù)據(jù)測(cè)試后系統(tǒng)可以立即出報(bào)告，快且準(zhǔn);

● 測(cè)試報(bào)告電子化留存，便于查詢與搜索。

數(shù)據(jù)監(jiān)管

● 實(shí)時(shí)大量數(shù)據(jù)洞察，為管理決策提供數(shù)據(jù)支撐;

● 把控整體測(cè)試進(jìn)度、良品率等做數(shù)據(jù)分析。

質(zhì)量溯源，為交付保駕護(hù)航

● 測(cè)試fail可視化追溯，快速定位問題;

● 為產(chǎn)品交付提供可靠的報(bào)告支撐;

● 形成測(cè)試閉環(huán)，提升整體品質(zhì)與品牌力。

審核編輯 黃宇