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帶32位MCU和高精度ADC的SoC產品-SD93F系列開發(fā)指南(九)

杭州晶華微 ? 來源:杭州晶華微 ? 2024-01-12 17:14 ? 次閱讀
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01

前言

在開發(fā)指南(八)中,我們給大家講解了24位高精度ADCSD ADC,本章我們再給大家講解12位高速ADC—SAR ADC的基本使用方法,參考應用手冊第28章節(jié)。

02

SAR ADC結構

我們首先來看一下SAR ADC的功能框圖如下圖1,SAR MUX 為一個多路選通器,多個信號都可以選擇進入 SAR ADC 進行測試。SAR Buf 為一個 rail to rail 輸入/輸出 buffer,輸入范圍接近于0~AVDDR,為保證BUFF性能,輸入范圍0.1V~AVDDR-0.1V。

使用 SAR Buf 可以提高芯片的輸入阻抗,但要求輸入信號的帶寬小于 10kHz(當 SAR Buf 為高速模式時)。

a73a34f6-b129-11ee-8b88-92fbcf53809c.png

圖1.SD ADC功能框圖

03

軟硬件配置

SAR ADC軟件的配置如下圖2:

a7470d52-b129-11ee-8b88-92fbcf53809c.jpg

圖2.SAR ADC配置

首先要使能SAR ADC時鐘源,然后調用庫函數(shù)對SAR ADC進行初始化,我們打開SAR ADC BUF,選擇高速模式,輸入通道選擇為A3,continue模式,工作在大電流模式,采樣周期選擇64個SAR ADC時鐘,采樣時鐘選擇3MHz,而后使能SAR ADC,SAR ADC的基準電壓固定為AVDDR。

初始化配置完成后,需要進行校準,這里我們選擇校準周期為16個SAR ADC時鐘,校準16次,而后使能校準,等待自動校準結束,清除校準結束標志位,校準完成后再開啟SAR ADC轉換使能。

詳細校準流程可參考應用手冊28.4.2 SAR ADC校準章節(jié),如圖3:

a75ab118-b129-11ee-8b88-92fbcf53809c.jpg

圖3.SAR ADC校準

然后我們編寫SAR ADC測試程序,如下圖4:

a7751c9c-b129-11ee-8b88-92fbcf53809c.jpg

圖4.SAR ADC測試程序

整個測試流程與SD ADC一致,等待SAR ADC轉換完成標志位置1,再將標志位清0,然后獲取ADC轉換結果并將ADC碼值緩存,最后通過串口將數(shù)據(jù)以16進制發(fā)送出去,同時通過LCD驅動將ADC碼值顯示在液晶屏上。

在軟件配置中,我們選擇了A3作為輸入通道,參考電壓為AVDDR=2.4V,并且SAR ADC是沒有放大倍數(shù)的,所以我們用兩個電阻分壓得到一個AVDDR/2的電壓約1.2V,連接到A3作為SAR ADC的輸入信號,測試結果如下圖5:

a78a0bac-b129-11ee-8b88-92fbcf53809c.jpg

圖5.SAR ADC轉換結果顯示

我們按照公式:Vin= DEC*AVDDR/2^12,圖上顯示07ff為16進制,需要轉換為十進制2047,所得結果Vin=2047*2.4/4096=1.199V,計算結果正確,也可以更換其他大小的信號按照上述計算過程驗證準確性。

04

開發(fā)問題簡析

要理解CALEN、SAREN和SAR_ADC_EN三個使能位的功能,必須先使能SAR_ADC_EN,再使能CALEN/SAREN。

當 SAR_ADC_EN=1 且 CALEN/SAREN=0 時,不要同時進行 SAR_ADC_EN 的清零和 CALEN /SAREN的置 1 動作。否則 SAR_ADC_EN 的清零是成功的,CALEN/SAREN 的置 1 是失敗的。

若是在使用中途改變了SAR ADC配置,需重新校準。

采樣速率的計算需要將采樣周期數(shù)和轉換周期數(shù)相加作為一個完整周期,轉換周期數(shù)固定為12。

05

總結

本章簡單介紹了SAR ADC模塊功能的使用,應用上可靈活選擇輸入通道,監(jiān)測不同信號。






審核編輯:劉清

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原文標題:帶32位MCU和高精度ADC的SoC產品----SD93F系列開發(fā)指南(九)

文章出處:【微信號:杭州晶華微,微信公眾號:杭州晶華微】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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