靜電保護器件(ESD) 是由一個或多個 TVS 晶粒采用不同的電路拓撲制成具有特定功能的多路或單路 ESD 保護器件。ESD反向并聯(lián)于電路中,當電路正常工作時,ESD處于截止狀態(tài)(高阻態(tài)),不影響電路正常工作。
當電路出現(xiàn)異常過電壓并達到 ESD 的擊穿電壓時,ESD迅速由高阻態(tài)變?yōu)榈妥钁B(tài),泄放由異常過電壓導(dǎo)致的瞬時過電流到地,同時把異常過電壓鉗制在一個安全水平之內(nèi),從而保護后級電路免遭異常過電壓的損壞。
圖 ESD保護原理
ESD的電路符號和極性
ESD的電路符號和TVS可以畫成一樣的,因為用的最多的ESD都是硅材質(zhì)的,電路符號如下:
單向TVS
雙向TVS
ESD器件的參數(shù)說明
*VRWM(Reverse stand-off voltage):反向截止電壓
即允許施加的最大工作電壓,在該電壓下ESD 處于截止狀態(tài),ESD 的漏電流很小,為幾微安甚至更低。
*VBR(Reverse breakdown voltage):反向擊穿電壓
ESD 要開始動作(雪崩擊穿)的電壓,一般在規(guī)定的電流下測量,通常在大小為1mA 的電流下測量。
*IR(Reverse leakage current):反向漏電流
即在ESD 器件兩端施加VRWM 電壓下測得ESD 的漏電流。
*IPP(Peak pulse current):峰值脈沖電流
ESD 產(chǎn)品一般采用8/20μs 的波形測量。
*VC(Clamping voltage):鉗位電壓
在給定大小的IPP 下測得ESD 兩端的電壓。大部分ESD 產(chǎn)品VC 與VBR 及IPP 成正比關(guān)系,電流越大,鉗位電壓也越高。
*C j(Off state junction capacitance):結(jié)電容
結(jié)電容與芯片面積、工作電壓有關(guān)系。相同電壓下,芯片面積越大結(jié)電容越大。相同芯片面積下,工作電壓越高結(jié)電容越低。
CMOS I/O上的內(nèi)部ESD保護
內(nèi)置保護在CMOS I/O引腳上非常常見,這些引腳可能是器件的一部分(從簡單的負載開關(guān)到中等復(fù)雜性的微控制器,再到高復(fù)雜性的FPGA)。它們通常為每個 I/O 引腳兩個。一個連接在引腳和GND之間,一個連接在引腳和VCC之間。兩者在正常工作條件下均為反向偏置(GND<=VI/O<=VCC)。
CMOS數(shù)字I/O引腳示意圖,突出顯示了許多設(shè)計中普遍存在的內(nèi)部保護二極管(即使IC數(shù)據(jù)手冊中沒有提到它們)。
它們用于在引腳發(fā)生故障時保護敏感的CMOS邏輯。如果VI/O 上的電壓高于 VCC(例如,正 ESD 電壓尖峰),則頂部二極管導(dǎo)通,將引腳上的電壓箝位至不超過VCC+Vf。同樣,如果VI/O上的電壓降至VGND以下(例如,負ESD電壓尖峰),則底部二極管導(dǎo)通,將引腳上的電壓箝位至不超過?Vf。
要小心,因為這些二極管通常具有相當?shù)偷淖畲箅娏?。超過此最大電流將吹動ESD二極管,通常導(dǎo)致其開路,從而消除了敏感CMOS電路的保護,然后幾乎瞬間被油炸。然后,您的 I/O 引腳將停止工作。如果幸運的話,它只會是一個受影響的引腳。如果沒有,整個端口(如果適用),甚至整個設(shè)備都會被失效。
無論它們多么有用,它們也會在特定情況下產(chǎn)生設(shè)計挑戰(zhàn),因此在進行任何涉及CMOS I/O且存在ESD保護二極管的原理圖設(shè)計時,都需要仔細考慮。導(dǎo)致問題的兩種情況是:為具有多個電壓軌的電路上電時。當VI/O上的電壓在某些點上可能高于VCC時,由于輸入信號的性質(zhì)。在低功耗設(shè)計中,當您有選擇地關(guān)斷為這些IC供電的電壓軌時。
常見ESD封裝
ESD根據(jù)保護信號線的路數(shù),又可以分為:單路保護ESD、兩路保護ESD、四路保護ESD等,所以ESD的封裝形式也有各種類型。
ESD器件選型考慮事項與步驟
考慮事項:
底層邏輯:在不影響要保護的電路平時正常工作的情況下,還能在異常的過壓經(jīng)過的時候,把電壓降下來,達到保護后面的電路或者芯片的目的,同時保護器件本身還不能被打壞。
步驟:
1.計算接口信號幅值的范圍來確定ESD器件的工作電壓;
2.根據(jù)信號類型決定使用單向或者雙向ESD器件;
3.根據(jù)信號速率決定該接口能承受的最大寄生電容;
4.根據(jù)電路系統(tǒng)的最大承受電壓沖擊,選擇適合的鉗位電壓;
5.確保ESD器件可達到或超過IEC 61000-4-2 level4。
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