EMC測(cè)試項(xiàng)目主要包括以下幾個(gè)方面：

1. 電磁干擾（EMI）測(cè)試

輻射發(fā)射測(cè)試（Radiated Emissions）：評(píng)估設(shè)備在正常工作時(shí)是否會(huì)產(chǎn)生過(guò)量的電磁輻射。測(cè)試內(nèi)容包括測(cè)量設(shè)備在不同頻段下發(fā)出的電磁輻射強(qiáng)度，確保符合規(guī)定的限值。常見的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如CISPR22、CISPR32等。

傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試（Conducted Emissions）：測(cè)試設(shè)備通過(guò)電源線等傳導(dǎo)路徑產(chǎn)生的電磁干擾。該測(cè)試確保設(shè)備不會(huì)通過(guò)電源線等傳導(dǎo)路徑對(duì)其他設(shè)備造成干擾。

諧波測(cè)試（Harmonic）：測(cè)量設(shè)備向公共電網(wǎng)發(fā)射的諧波電流。

閃爍測(cè)試（Flicker）：評(píng)估設(shè)備產(chǎn)生的電壓波動(dòng)和閃爍現(xiàn)象對(duì)電網(wǎng)和其他設(shè)備的影響。

2. 電磁抗擾度（EMS）測(cè)試

靜電放電抗擾度測(cè)試（ESD）：模擬人體或物體對(duì)設(shè)備產(chǎn)生的靜電放電，檢驗(yàn)設(shè)備的抗干擾能力。

射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試（RS）：通過(guò)模擬一定強(qiáng)度的電磁輻射環(huán)境，考核設(shè)備對(duì)射頻電磁場(chǎng)輻射的抗擾度。

電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試（EFT）：評(píng)估設(shè)備在受到快速變化的脈沖群干擾時(shí)的性能。

浪涌（雷擊）抗擾度測(cè)試（Surge）：模擬電網(wǎng)中因開關(guān)操作或其他原因產(chǎn)生的瞬態(tài)過(guò)電壓，測(cè)試設(shè)備的耐受能力。

傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試（CS）：評(píng)估設(shè)備在受到通過(guò)電源線傳導(dǎo)的電磁干擾時(shí)的性能。

電壓暫降和短時(shí)中斷抗擾度測(cè)試：檢驗(yàn)設(shè)備在電壓暫降和短時(shí)中斷情況下的性能。

以上測(cè)試項(xiàng)目共同構(gòu)成了EMC測(cè)試的完整體系，確保了電子設(shè)備在電磁環(huán)境中的兼容性和穩(wěn)定性。

對(duì)于特定行業(yè)的電子設(shè)備，可能還需要滿足該行業(yè)特定的EMC測(cè)試要求，因此建議在進(jìn)行EMC測(cè)試前，先了解并確認(rèn)相關(guān)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和要求。

EMC測(cè)試項(xiàng)目概覽

備注

根據(jù)搜索結(jié)果中的信息整理而成，涵蓋了EMC測(cè)試的主要項(xiàng)目、描述、測(cè)試目的和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)等。

表格中的標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)不同國(guó)家和地區(qū)的常用標(biāo)準(zhǔn)列舉，實(shí)際測(cè)試時(shí)需根據(jù)具體要求和產(chǎn)品類別選擇相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)。

EMC測(cè)試具體項(xiàng)目及步驟

備注

表格中列出了EMC測(cè)試的主要項(xiàng)目及測(cè)試步驟，關(guān)鍵點(diǎn)部分強(qiáng)調(diào)了測(cè)試過(guò)程中需要注意的事項(xiàng)。

不同項(xiàng)目和設(shè)備的測(cè)試步驟可能有所不同，實(shí)際測(cè)試時(shí)需根據(jù)具體要求和設(shè)備特性制定詳細(xì)的測(cè)試方案。

審核編輯 黃宇