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泰瑞達(dá)交付第8000臺J750半導(dǎo)體測試平臺

CHANBAEK ? 來源:網(wǎng)絡(luò)整理 ? 2024-05-23 11:06 ? 次閱讀
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全球領(lǐng)先的自動測試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)與集成電路測試服務(wù)企業(yè)偉測科技攜手合作,成功交付了第8000臺J750半導(dǎo)體測試平臺。這款測試機集成了晶圓分類和封裝測試解決方案,廣泛應(yīng)用于微控制器單元、無線設(shè)備和圖像傳感器等領(lǐng)域,深受全球半導(dǎo)體芯片制造商的青睞。

泰瑞達(dá)J750測試機憑借其卓越的質(zhì)量、高效的上市時間和出色的成本效益,在行業(yè)中樹立了標(biāo)桿。其能夠顯著提升產(chǎn)能,增加工位數(shù),減少單工位測試時長,并優(yōu)化并行測試效率,為半導(dǎo)體制造商帶來顯著的生產(chǎn)效益。此次里程碑的達(dá)成,再次證明了泰瑞達(dá)與偉測科技在測試技術(shù)領(lǐng)域的領(lǐng)先地位和卓越實力。

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