Pickering發(fā)布新一代低漏電流開關模塊，賦能半導體精密測試
英國知名的電子測試與驗證解決方案提供商Pickering公司，近日宣布推出一款專為半導體行業(yè)設計的新型低漏電流開關保護模塊。該模塊聚焦于提升WAT（晶圓驗收測試）等關鍵測試環(huán)節(jié)中的電流驅動保護測量精度，以滿足半導體行業(yè)對極致低漏電流性能的迫切需求。
新款開關保護模塊采用創(chuàng)新的開關隨動保護層技術，有效隔絕外部干擾，確保測試環(huán)境的純凈與穩(wěn)定。該設計不僅支持PXI、PXIe及LXI等多種主流測試平臺，還實現(xiàn)了隔離電阻的飛躍性提升，高達1013Ω，為半導體參數(shù)測試樹立了新的性能標桿。
Pickering公司此次推出的低漏電流開關模塊，是其在模塊化信號切換與仿真領域深厚技術積累的又一力作。該產品的問世，將極大助力半導體制造商在晶圓驗收測試階段實現(xiàn)更精準、更可靠的測量結果，推動半導體產品質量的全面提升。
隨著半導體技術的飛速發(fā)展，對測試設備的要求也日益嚴苛。Pickering公司憑借其卓越的創(chuàng)新能力和對市場需求的精準洞察，不斷推出符合行業(yè)發(fā)展趨勢的高性能測試解決方案，為半導體產業(yè)的持續(xù)進步貢獻力量。
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