在信息技術(shù)飛速發(fā)展的今天，簡(jiǎn)化操作、提高效率成為了企業(yè)追求的目標(biāo)。納米軟件公司響應(yīng)這一趨勢(shì)，推出了革命性的ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)，利用0代碼技術(shù)，為電測(cè)行業(yè)帶來了全新的測(cè)試模式。

ATECLOUD智能測(cè)試平臺(tái)

納米軟件在電測(cè)行業(yè)深耕16年，始終以客戶為中心，在多年項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn)累積下開發(fā)出ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)，為混合集成電路測(cè)試提供軟硬件一體化解決方案，打破傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)信息零散、數(shù)據(jù)孤島、無法靈活變更的限制，真正做到任何時(shí)間、任何地點(diǎn)都可以完成自動(dòng)化測(cè)試，為電測(cè)行業(yè)的發(fā)展貢獻(xiàn)一份力量。

目前，ATECLOUD專注于為電源模塊、電源管理芯片和射頻組件測(cè)試提供自動(dòng)化測(cè)試方案。同時(shí)，也支持定制開發(fā)，如電機(jī)驅(qū)動(dòng)測(cè)試、元器件測(cè)試等，滿足客戶多樣化的測(cè)試需求。

ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)

0代碼開發(fā)平臺(tái)：便捷、高效

區(qū)別于傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)，ATECLOUD的特點(diǎn)之一就是0代碼開發(fā)。顧名思義，在使用過程中，用戶無需編寫復(fù)雜代碼，只需通過拖、拉、拽、點(diǎn)擊等基礎(chǔ)電腦操作便可快速完成被測(cè)產(chǎn)品的測(cè)試、數(shù)據(jù)分析、報(bào)告導(dǎo)出等測(cè)試流程，讓測(cè)試變的更加簡(jiǎn)單、便捷。

拖拽式項(xiàng)目搭建，便捷迅速

傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)對(duì)人員的專業(yè)度要求高，不僅要了解業(yè)務(wù)流程，還需要熟練代碼編寫，這無疑增加了企業(yè)成本，而且可能需要長(zhǎng)時(shí)間來搭建測(cè)試項(xiàng)目，降低測(cè)試效率。

ATECLOUD采取無代碼模式，建立儀器標(biāo)準(zhǔn)指令以及各種節(jié)點(diǎn)，用戶只需拖拽儀器指令以及相應(yīng)節(jié)點(diǎn)，15分鐘即可迅速搭建測(cè)試項(xiàng)目。這種方式不僅操作簡(jiǎn)單，而且對(duì)人員要求低，只需了解業(yè)務(wù)流程即可。

測(cè)試項(xiàng)目搭建簡(jiǎn)單

方便系統(tǒng)維護(hù)，快速查找問題

如果在系統(tǒng)使用中遇到問題，代碼開發(fā)的測(cè)試系統(tǒng)可能難以快速定位問題;尤其是遇到人員變動(dòng)的情況，由于對(duì)之前的代碼不了解，系統(tǒng)維護(hù)更是難上加難，從而影響測(cè)試效率和生產(chǎn)進(jìn)度。

ATECLOUD平臺(tái)支持測(cè)試項(xiàng)目流程圖的可視化，業(yè)務(wù)流程以及測(cè)試參數(shù)都可追溯，因此可以迅速發(fā)現(xiàn)問題，判斷測(cè)試流程是否有誤，參數(shù)、閾值設(shè)置等是否有問題，從而提高解決問題的效率。

測(cè)試數(shù)據(jù)回溯查看

靈活調(diào)整，滿足測(cè)試需求

隨著技術(shù)的發(fā)展與產(chǎn)品的升級(jí)迭代，在測(cè)試項(xiàng)目或者業(yè)務(wù)流程發(fā)生變化時(shí)，代碼開發(fā)的測(cè)試系統(tǒng)需要通過復(fù)雜編程來調(diào)整，甚至一些特定需求可能無法通過代碼實(shí)現(xiàn)，需要額外開發(fā)系統(tǒng)，無法靈活適應(yīng)產(chǎn)品的變更。

而在ATECLOUD平臺(tái)中，簡(jiǎn)單拖拽點(diǎn)擊便可快速新增測(cè)試項(xiàng)目，無需代碼。測(cè)試項(xiàng)目工步搭建會(huì)對(duì)用戶開放，可以隨時(shí)修改閾值、參數(shù)、流程等，靈活調(diào)整項(xiàng)目。

ATECLOUD智能測(cè)試平臺(tái)，以其獨(dú)特的0代碼開發(fā)模式，不僅極大地提升了電測(cè)工作的效率，還為企業(yè)打開了通往智能化生產(chǎn)的大門。納米軟件將繼續(xù)致力于技術(shù)創(chuàng)新，為電測(cè)行業(yè)的未來發(fā)展貢獻(xiàn)力量。

審核編輯 黃宇