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國芯科技CCL1100B芯片內(nèi)部測(cè)試成功

CHANBAEK ? 來源:網(wǎng)絡(luò)整理 ? 2024-09-11 17:12 ? 次閱讀
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近日,蘇州國芯科技股份有限公司傳來捷報(bào),其自主研發(fā)的汽車電子集成化門區(qū)驅(qū)動(dòng)控制芯片“CCL1100B”順利完成內(nèi)部測(cè)試,標(biāo)志著該產(chǎn)品在技術(shù)驗(yàn)證上取得了重大進(jìn)展。CCL1100B芯片專為汽車電子門區(qū)驅(qū)動(dòng)控制設(shè)計(jì),其高效能特性與卓越的穩(wěn)定性,為汽車電子系統(tǒng)提供了可靠的核心支持。

尤為值得一提的是,該芯片內(nèi)置了強(qiáng)大的熱管理模塊,能夠靈活應(yīng)對(duì)各種功耗應(yīng)用場(chǎng)景,確保在復(fù)雜多變的汽車環(huán)境中穩(wěn)定運(yùn)行。此次內(nèi)部測(cè)試的成功,不僅驗(yàn)證了CCL1100B芯片的技術(shù)成熟度和可靠性,也為國芯科技在汽車電子芯片領(lǐng)域的進(jìn)一步拓展奠定了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。

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