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揭秘半導(dǎo)體檢測新寵:立儀光譜共焦傳感器技術(shù)!

h1654156072.2321 ? 來源:h1654156072.2321 ? 作者:h1654156072.2321 ? 2024-11-01 11:40 ? 次閱讀
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隨著科技的飛速發(fā)展,半導(dǎo)體工業(yè)已經(jīng)成為現(xiàn)代信息技術(shù)社會的支柱產(chǎn)業(yè)之一。在制造過程中,每一個環(huán)節(jié)都要求極高的精確度和穩(wěn)定性,這就對測量技術(shù)提出了巨大的挑戰(zhàn)。光譜共焦傳感器,作為一種新興的高精度非接觸式測量工具,正在這一領(lǐng)域中發(fā)揮越來越重要的作用。立儀科技小編在深入探討光譜共焦傳感器在半導(dǎo)體制造中的廣泛應(yīng)用及其帶來的技術(shù)革新。

光譜共焦技術(shù)的基本原理

通過控制器中的寬光譜光源發(fā)出的復(fù)色光,經(jīng)過照明孔、分光棱鏡后,被物鏡色散,最后以不同波長的光投射到被測物體表面,能聚焦在表面的波長光線就會反射到對應(yīng)的針孔中,最后通過表面焦點(diǎn)和圖像平面焦點(diǎn)間的共軛關(guān)系,從而計算出測距值。

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揭秘半導(dǎo)體檢測新寵:立儀光譜共焦傳感器技術(shù)!

半導(dǎo)體制造中的關(guān)鍵應(yīng)用

1.晶圓翹曲度檢測

在半導(dǎo)體制造過程中,晶圓的翹曲度是一個常見的問題,它直接影響到光刻過程的精準(zhǔn)度和最終產(chǎn)品的質(zhì)量。光譜共焦傳感器能夠提供高分辨率的三維形貌數(shù)據(jù),幫助工程師準(zhǔn)確測量晶圓的翹曲程度,并進(jìn)行必要的調(diào)整以確保產(chǎn)品質(zhì)量。


2.薄膜厚度測量

半導(dǎo)體設(shè)備中經(jīng)常涉及到多層薄膜的涂覆,每層的厚度都需要嚴(yán)格控制。
光譜共焦傳感器以其納米級的測量精度,成為控制薄膜涂覆質(zhì)量的理想工具。

3.設(shè)備振動監(jiān)測

半導(dǎo)體制造設(shè)備在運(yùn)行中會產(chǎn)生微小振動,這些振動如果不及時校正,可能會影響產(chǎn)品的質(zhì)量。使用光譜共焦傳感器可以實(shí)時監(jiān)測設(shè)備的振動狀態(tài),確保生產(chǎn)過程的穩(wěn)定性。

揭秘半導(dǎo)體檢測新寵:立儀光譜共焦傳感器技術(shù)!

立儀簡介

立儀科技是一家光譜共焦位移測量傳感器為主的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、服務(wù)一體化的精密光學(xué)測量國家級專精特新企業(yè)。

專注光譜共焦行業(yè)10年

公司于2014年成立,以打造高規(guī)格的光譜共焦位移傳感器并減少成本普及推廣為志向。經(jīng)過10年行業(yè)深耕,目前光譜共焦技術(shù)產(chǎn)品在測量精度、分辨率、測量角度、穩(wěn)定性和軟件算法等方面具有行業(yè)領(lǐng)先優(yōu)勢!

揭秘半導(dǎo)體檢測新寵:立儀光譜共焦傳感器技術(shù)!

突破技術(shù)封鎖

匯集光學(xué)、機(jī)械、軟件人才晝夜奮戰(zhàn),數(shù)年磨一劍,破除國外技術(shù)封鎖,開發(fā)出具有自主知識產(chǎn)權(quán)的全球第一款入光出光獨(dú)立、全球第一款棱鏡光譜儀的光譜共焦位移傳感器等系列產(chǎn)品,并獲得了多項國家發(fā)明專利!

自主研發(fā),創(chuàng)新賦能

我們堅持自我研發(fā)與創(chuàng)新,致力成為光譜共焦高精度測量行業(yè)技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)者,成就國貨之光。為提供高性能產(chǎn)品和優(yōu)質(zhì)服務(wù),讓科技利益眾生,賦能企業(yè)高精度制造!

審核編輯 黃宇

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