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突破14nm工藝壁壘:天準科技發(fā)布TB2000晶圓缺陷檢測裝備

全球TMT ? 來源:全球TMT ? 作者:全球TMT ? 2025-03-26 14:40 ? 次閱讀
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開啟國產(chǎn)缺陷檢測新紀元

蘇州2025年3月26日/美通社/ -- 3月26日,蘇州天準科技股份有限公司(股票代碼:688003.SH)宣布,旗下矽行半導體公司研發(fā)的明場納米圖形晶圓缺陷檢測裝備TB2000已正式通過廠內(nèi)驗證,將于SEMICON 2025展會天準展臺(T0-117)現(xiàn)場正式發(fā)布。

這標志著公司半導體檢測裝備已具備14nm及以下先進制程的規(guī)?;慨a(chǎn)檢測能力。這是繼TB1500突破40nm節(jié)點后,天準在高端檢測裝備國產(chǎn)化進程中的又一里程碑。

核心技術(shù)自主研發(fā)

TB2000采用全自主研發(fā)的高功率寬光譜激光激發(fā)等離子體光源系統(tǒng)、深紫外大通量高像質(zhì)成像系統(tǒng),配合高行頻TDI相機、超精密高速運動平臺,同時結(jié)合AI圖像處理算法和Design CA,有效提升缺陷檢測靈敏度和檢測速度。

TB2000的發(fā)布,使天準成為全球少數(shù)具備14nm及以下技術(shù)節(jié)點明場檢測裝備交付能力的廠商,逐步實現(xiàn)先進工藝中缺陷檢測裝備的國產(chǎn)替代。


梯度化矩陣實現(xiàn)全節(jié)點覆蓋

當前天準科技的產(chǎn)品矩陣已完成明場缺陷檢測裝備全制程覆蓋,TB1000/TB1100(65-90nm)、TB1500(40nm)及TB2000(14nm)構(gòu)建起完整的工藝節(jié)點適配體系,全面滿足邏輯、存儲等不同工藝客戶產(chǎn)線上的明場缺陷檢測需求。這種梯度化布局既保障了技術(shù)研發(fā)的商業(yè)閉環(huán),又為持續(xù)突破更先進制程積蓄動能。從TB1000到TB2000的技術(shù)演進,折射出天準向國際龍頭追趕到并行的角色轉(zhuǎn)變。

此外,天準科技通過"自主研發(fā)+跨國并購+生態(tài)投資"三維戰(zhàn)略,陸續(xù)推出晶圓微觀缺陷檢測、Overlay量測、CD量測、掩膜量測與檢測等系列產(chǎn)品組合,打造了在半導體前道量測及檢測領域的布局,構(gòu)建覆蓋晶圓制造、掩膜制造、封裝測試全流程的智能檢測解決方案。


天準,助力半導體產(chǎn)業(yè)迭代

據(jù)世界集成電路協(xié)會(WICA)發(fā)布的2025年展望報告,預計2025年全球半導體市場規(guī)模將提升到7189億美元,同比增長13.2%,尤其是14nm及以下的高端檢測裝備市場,受到技術(shù)迭代和市場需求增長的雙重驅(qū)動,將繼續(xù)保持快速增長態(tài)勢。


此次TB2000的發(fā)布,意味著在半導體產(chǎn)業(yè)逆全球化態(tài)勢加劇的當下,天準科技以每年迭代一代產(chǎn)品的研發(fā)節(jié)奏,構(gòu)建起覆蓋芯片制造前道關(guān)鍵檢測節(jié)點的技術(shù)護城河。未來,天準科技將持續(xù)投入研發(fā)資源,持續(xù)深化平臺化技術(shù)優(yōu)勢,加速推進14nm以下制程國產(chǎn)化進程,助力中國半導體產(chǎn)業(yè)突破"卡脖子"技術(shù)壁壘,在高端裝備領域?qū)崿F(xiàn)跨越式發(fā)展。

審核編輯 黃宇

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