關(guān)鍵詞：雙脈沖測(cè)試，上管測(cè)試，下管測(cè)試，電源完整性測(cè)試套件

寬禁帶半導(dǎo)體作為第三代半導(dǎo)體功率器件的代表，正在電源處理領(lǐng)域發(fā)揮著日益重要的作用。這類(lèi)材料憑借其高能量密度、高工作頻率以及耐高溫等天然優(yōu)勢(shì)，成為了眾多電源及電源模塊的首選材料。特別是在功率半導(dǎo)體中，上下管雙脈沖測(cè)試已經(jīng)成為評(píng)估動(dòng)態(tài)參數(shù)的經(jīng)典方法，對(duì)于推動(dòng)相關(guān)技術(shù)的發(fā)展具有重要意義。

那么，何為雙脈沖測(cè)試呢？

正如其名，雙脈沖測(cè)試是指向功率半導(dǎo)體器件施加兩個(gè)脈沖作為驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)的過(guò)程。其中，第一個(gè)脈沖寬度較大，旨在達(dá)到特定的電流強(qiáng)度。此脈沖的下降沿用于觀察關(guān)斷過(guò)程，而第二個(gè)脈沖的上升沿則用來(lái)監(jiān)測(cè)開(kāi)通狀態(tài)。通過(guò)分析這兩個(gè)脈沖的輸出信號(hào)，可以有效評(píng)估兩個(gè)功率管的動(dòng)態(tài)性能指標(biāo)。

通常開(kāi)關(guān)電源都需要進(jìn)行上、下管測(cè)試，其經(jīng)典的雙脈沖測(cè)試示意圖是這樣的：

上、下管的測(cè)試要求存在差異。對(duì)于上管的Vds測(cè)試，需要具備高共模抑制比，因此推薦使用具有優(yōu)異共模抑制性能的探頭（如光電隔離探頭）進(jìn)行測(cè)量。至于電流測(cè)量，則通常需要穿過(guò)電路板執(zhí)行，故常選用柔性探頭（例如羅氏線圈）。相比之下，下管的測(cè)試較為簡(jiǎn)單，電壓測(cè)量可以采用低噪聲單端探頭完成，而電流測(cè)量則可利用帶寬更高的電流探頭進(jìn)行。此外，圖中所示需并聯(lián)的大電感，在實(shí)際測(cè)試時(shí)應(yīng)與上管測(cè)試同步，并與下管并聯(lián)；在對(duì)下管進(jìn)行測(cè)試時(shí)，則相應(yīng)地將該電感與上管并聯(lián)，以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和有效性。這種配置有助于優(yōu)化測(cè)試環(huán)境，確保獲得可靠且精確的測(cè)量結(jié)果。

通常情況下，雙脈沖測(cè)試需要專(zhuān)門(mén)的設(shè)備，包括測(cè)試夾具、自動(dòng)化測(cè)試軟件、儀器和探頭等。然而，這種專(zhuān)業(yè)裝置的投資成本較高，對(duì)于研發(fā)工程師而言，未必是性價(jià)比最高的選擇。在日常測(cè)試中，我們可以采用EXR示波器搭配任意波形發(fā)生器，并選配電源與信號(hào)完整性分析軟件來(lái)高效完成測(cè)試任務(wù)。EXR系列示波器擁有高達(dá)6GHz的帶寬、16GS/s的采樣率以及1.6G的存儲(chǔ)深度，結(jié)合多種顯示模式和自動(dòng)測(cè)量功能，輔以應(yīng)用軟件的支持，能夠極大地提升測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。通過(guò)這樣的配置，電源工程師可以專(zhuān)注于電路設(shè)計(jì)的工作，在進(jìn)行第三代半導(dǎo)體電源器件的動(dòng)態(tài)雙脈沖測(cè)試時(shí)，無(wú)需擔(dān)憂測(cè)量的問(wèn)題，真正實(shí)現(xiàn)了“雙管齊下”，讓測(cè)試過(guò)程更加簡(jiǎn)便快捷，同時(shí)也確保了測(cè)試結(jié)果的精確性和可靠性。