一、行業(yè)現(xiàn)狀

因為制造工藝精細(xì)繁瑣，目前高端PCB的生產(chǎn)良率水平普遍不理想，導(dǎo)致產(chǎn)能無法得到有效提升和釋放，且成本居高不下。以IC載板為例，在1張800*600mm的板上，超過70萬鐳射孔需要3D測量孔深，準(zhǔn)確快速3D測量必不可少且刻不容緩。

IC載板鐳射孔工藝良率損失分析：

為持續(xù)提高綜合生產(chǎn)良率，除了進一步優(yōu)化各環(huán)節(jié)工藝水平，還需要在各關(guān)鍵制程段導(dǎo)入更加有效、更高頻次的過程質(zhì)量管控和監(jiān)測手段，將工藝失效和批量性不良攔截在初發(fā)時。然而，目前行業(yè)內(nèi)還沒有成熟且高效的PCB微孔三維全尺寸檢測手段。

二、行業(yè)痛點

PCB微孔檢測面臨三大挑戰(zhàn)：一是微孔尺寸極小檢測精度要求極高，例如鐳射孔深度最大203μm（8mil）、孔徑50~236μm（2~9.3mil）、深徑比最大5:1。背鉆孔深度最大8mm、深徑比最大15:1；二是深徑比大，從1:1到8:1,甚至超過8:1；三是復(fù)雜背景干擾多，如材料殘渣、金屬面、油面、樹脂填塞等等。這些挑戰(zhàn)要求三維測量方法兼具大范圍、高精度、跨材質(zhì)、跨結(jié)構(gòu)能力。

當(dāng)前行業(yè)普遍采用的傳統(tǒng)方法是人工切片檢測，弊端明顯：1、從取樣、切片到輸出檢測結(jié)果，通常需要1~2天，檢測時效性差；2、切片檢測屬于破壞性測試，報廢成本較高，無法提高檢測頻率；3、依賴檢測人員切片、特征選取等經(jīng)驗，操作及人員主觀導(dǎo)入誤差極大，檢測結(jié)果可靠性差。

另外，業(yè)內(nèi)也在嘗試多種非破壞性檢測方案。其中AOI檢測設(shè)備以2D視覺檢測+3D激光掃描特征點方式為主，無法獲取完整三維形貌，難以滿足PCB微孔三維全尺寸測量需要。白光干涉法精度可以達(dá)到納米，適合光滑結(jié)構(gòu)性表面的檢測，難以滿足IC載板多樣化復(fù)雜表面的檢測需要。激光共聚焦精度和適應(yīng)性滿足要求，但成本高、速度慢。超景深（變焦）測量法適合大角度斜面與高粗糙度表面的檢測，但精度較低。

三、星納微解決方案

星納微推出的面共焦3D顯微成像技術(shù)，為PCB微孔加工的3D測量帶來了全新的突破。該技術(shù)基于寬場顯微成像原理，利用結(jié)構(gòu)照明調(diào)制被測物體的表面信息，通過垂直軸向掃描計算得到微孔的3D形貌，實現(xiàn)了大范圍、高精度、跨材質(zhì)、跨結(jié)構(gòu)的復(fù)雜形貌三維成像能力?？梢詫崿F(xiàn)對IC載板鐳射孔、高密度互連PCB板背鉆孔、定深孔、樹脂塞孔等各種類型的PCB微孔快速、穩(wěn)定的三維成像。結(jié)合3D點云計算算法，可以快速測量PCB微孔的孔徑、深度、真圓度、上下孔徑比等參數(shù)，大大提高PCB微孔的檢測效率。

市場價值

通過全自動化、高速3D全尺寸量測，及時發(fā)現(xiàn)不良產(chǎn)品和工藝惡化趨勢，有效提高綜合良率；可應(yīng)對各種類型PCB微孔，包括鐳射孔、背鉆孔、樹脂塞孔等等，真正做到一機多用；可輸出原始3D點云數(shù)據(jù)和2D彩圖，助力工廠建立數(shù)據(jù)庫，構(gòu)建 “工藝參數(shù)+工藝結(jié)果”的閉環(huán)反饋系統(tǒng)。